公开(公告)号：CN1955723A

公开(公告)日：2007-05-02

申请号：CN200610143649.4

申请日：2006-10-24

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 胡庆英 ,  K·G·哈丁 ,  J·B·罗斯 ,  D·W·哈米尔顿

IPC: G01N21/95 ,  G01N21/01

CPC classification number: G01B11/2513 ,  F01D5/005 ,  G01B5/205 ,  G06T7/521

Abstract: 一种用于生成与光测量系统(10)一起使用的光罩(50、52)的方法(72)，光测量系统(10)包括用于将光投射到物体(12)上的光源(22)，和用于接收从物体反射的光的成像传感器(24)。该方法包括确定(74)要检查的物体的轮廓(56)，并且基于所确定的物体轮廓生成(86)电子光罩。电子光罩具有电子开口(62、68)，电子开口(62、68)具有定义为从光源和成像传感器其中之一的视角来看基本上与所确定的物体轮廓匹配的轮廓(64、70)。

公开(公告)号：CN1955719B

公开(公告)日：2011-06-08

申请号：CN200610163907.5

申请日：2006-10-24

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 胡庆英 ,  D·W·哈米尔顿 ,  K·G·哈丁 ,  J·B·洛斯

IPC: G01N21/00 ,  G01N21/95 ,  G01N21/41 ,  G01B11/00 ,  G01B11/02 ,  G01B11/24 ,  G01M15/00 ,  G01M15/02

CPC classification number: G01B11/2513

Abstract: 用于检验物体的方法和装置;一种用于检验物体(12)的方法(38)包括：从液晶显示(LCD)装置和硅基液晶(LCOS)装置的至少一个中发射(40)光；相移(42)从LCD装置和LCOS装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影(44)到物体的表面上；利用成像传感器(24)接收(46)从物体表面反射的光；以及分析(50)由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。

公开(公告)号：CN1955723B

公开(公告)日：2011-08-03

申请号：CN200610143649.4

申请日：2006-10-24

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 胡庆英 ,  K·G·哈丁 ,  J·B·罗斯 ,  D·W·哈米尔顿

IPC: G01B11/25 ,  G01N21/95

CPC classification number: G01B11/2513 ,  F01D5/005 ,  G01B5/205 ,  G06T7/521

Abstract: 一种用于生成与光测量系统(10)一起使用的光罩(50、52)的方法(72)，光测量系统(10)包括用于将光投射到物体(12)上的光源(22)，和用于接收从物体反射的光的成像传感器(24)。该方法包括确定(74)要检查的物体的轮廓(56)，并且基于所确定的物体轮廓生成(86)电子光罩。电子光罩具有电子开口(62、68)，电子开口(62、68)具有定义为从光源和成像传感器其中之一的视角来看基本上与所确定的物体轮廓匹配的轮廓(64、70)。

公开(公告)号：CN1955719A

公开(公告)日：2007-05-02

申请号：CN200610163907.5

申请日：2006-10-24

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 胡庆英 ,  D·W·哈米尔顿 ,  K·G·哈丁 ,  J·B·洛斯

IPC: G01N21/00 ,  G01N21/95 ,  G01N21/41 ,  G01B11/00 ,  G01B11/02 ,  G01B11/24 ,  G01M15/00 ,  G01M15/02

CPC classification number: G01B11/2513

Abstract: 一种用于检验物体(12)的方法(38)包括：从液晶显示(LCD)装置和硅基液晶(LCOS)装置的至少一个中发射(40)光；相移(42)从LCD装置和LCOS装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影(44)到物体的表面上；利用成像传感器(24)接收(46)从物体表面反射的光；以及分析(50)由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。

公开(公告)号：CN101556143A

公开(公告)日：2009-10-14

申请号：CN200810084585.4

申请日：2008-04-09

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 陶立 ,  凯文·G·哈丁 ,  胡庆英 ,  宋桂菊 ,  郑建明 ,  克拉克·A·本多尔 ,  托马斯·卡本 ,  贾明

IPC: G01B11/24 ,  G01B11/25

Abstract: 本发明涉及一种探测装置及方法。该探测装置包括光源、光栅、可动的透明板、光纤传像束、成像装置及处理单元。光源可产生光线。光线穿过光栅可产生光栅图案。可动的透明板可把光栅图案转变为多个相移条纹图案。光纤传像束可把相移条纹图案投影到一个物体表面上而产生投影后的条纹图案。成像装置用来获得投影后的条纹图案的图像。处理单元可利用获得的图像对物体表面进行重建。

公开(公告)号：CN101469975A

公开(公告)日：2009-07-01

申请号：CN200710301395.9

申请日：2007-12-27

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 宋桂菊 ,  凯文·G·哈丁 ,  郑建明 ,  陶立 ,  杨波 ,  贾明 ,  胡庆英

IPC: G01B11/24

Abstract: 本发明涉及一种光学检测仪器和方法，该光学检测仪器是一种小视场光学检测仪器，可用以检测一表面上几微米的三维特征，该光学检测仪器包括产生一投射光路的光学投射装置、位于投射光路中改变该投射光并使其成为结构光的光栅装置、将所述结构光投射到所述表面上移动一定距离的相移装置、观察器以及计算机。观察器包括具有与该投射光路不平行的接收光路的光学接收系统和位于该接收光路中的相机，该相机用于观察并记录所述图像。计算机包括与相机之间的数据传输和基于反射图像所提供的表面轮廓信息进行轮廓测量建模的处理器。