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公开(公告)号：CN102449529A
公开(公告)日：2012-05-09
申请号：CN201080024617.7
申请日：2010-05-25
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01N21/6452 , G01N21/6458 , G01N21/6486 , G02B21/16 , G02B2207/113
Abstract: 本发明提供用于定位安置在固体载体上的一个或多个大致上圆形的组织样本的方法。该方法包括以下步骤：传送预选波长的光到组织样本上，其中该光诱导该组织样本自发荧光；使用该自发荧光的光来识别该组织样本的中心位点；使用x、y坐标系使该固体载体上的该组织样本的中心位点的坐标相关；和映射该固体载体上的该组织样本的坐标以区分包含组织样本的区域与该固体载体上的空白区域。在第二方面中，本发明提供用于定位安置在固体载体上的一个或多个大致上圆形的组织样本的装置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105783693B
公开(公告)日：2020-01-21
申请号：CN201511036231.9
申请日：2015-12-11
Applicant: 通用电气公司
Inventor： Y·波利什楚克 , R·W·泰特 , W·J·小亨德里克斯 , M·F·斯特伦
IPC: G01B7/06
Abstract: 本发明涉及用于测量物体厚度的方法和装置。具体而言，提供用于测量物体厚度的装置。该装置包括加压控制系统，该加压控制系统还包括可移动平台、加压传感器、和操作地联接到加压传感器的开关器件。该装置还包括测量系统，该测量系统操作地联接到开关器件，以用于接收表示开关器件处的触发事件的信号，且构造成测量梯度。该装置还包括：处理电路，其操作地联接到开关器件和测量系统，以用于在接收到表示开关器件处的触发事件的信号之后，通过使用梯度来测量物体的厚度；和通信电路，其用于将测得的物体厚度传送到远程数据库。
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公开(公告)号：CN105783693A
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：CN201511036231.9
申请日：2015-12-11
Applicant: 通用电气公司
Inventor： Y·波利什楚克 , R·W·泰特 , W·J·小亨德里克斯 , M·F·斯特伦
IPC: G01B7/06
Abstract: 本发明涉及用于测量物体厚度的方法和装置。具体而言，提供用于测量物体厚度的装置。该装置包括加压控制系统，该加压控制系统还包括可移动平台、加压传感器、和操作地联接到加压传感器的开关器件。该装置还包括测量系统，该测量系统操作地联接到开关器件，以用于接收表示开关器件处的触发事件的信号，且构造成测量梯度。该装置还包括：处理电路，其操作地联接到开关器件和测量系统，以用于在接收到表示开关器件处的触发事件的信号之后，通过使用梯度来测量物体的厚度；和通信电路，其用于将测得的物体厚度传送到远程数据库。
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公开(公告)号：CN102449529B
公开(公告)日：2014-08-20
申请号：CN201080024617.7
申请日：2010-05-25
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01N21/6452 , G01N21/6458 , G01N21/6486 , G02B21/16 , G02B2207/113
Abstract: 本发明提供用于定位安置在固体载体上的一个或多个大致上圆形的组织样本的方法。该方法包括以下步骤：传送预选波长的光到组织样本上，其中该光诱导该组织样本自发荧光；使用该自发荧光的光来识别该组织样本的中心位点；使用x、y坐标系使该固体载体上的该组织样本的中心位点的坐标相关；和映射该固体载体上的该组织样本的坐标以区分包含组织样本的区域与该固体载体上的空白区域。在第二方面中，本发明提供用于定位安置在固体载体上的一个或多个大致上圆形的组织样本的装置。
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公开(公告)号：CN1955720B
公开(公告)日：2010-12-15
申请号：CN200610164124.9
申请日：2006-10-24
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/2513
Abstract: 一种使用包括光源(22)和成像传感器(24)的光测量系统(10)来检查物体(12)的方法。该方法包括：从光源发射光，将从光源发射的光分散成衍射图案和干涉图案中的一种，并利用透镜(38)将成图案的光成像到物体上。
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公开(公告)号：CN1955720A
公开(公告)日：2007-05-02
申请号：CN200610164124.9
申请日：2006-10-24
Applicant: 通用电气公司
CPC classification number: G01B11/2513
Abstract: 一种使用包括光源(22)和成像传感器(24)的光测量系统(10)来检查物体(12)的方法。该方法包括：从光源发射光，将从光源发射的光分散成衍射图案和干涉图案中的一种，并利用透镜(38)将成图案的光成像到物体上。
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