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公开(公告)号：CN117830392B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202410246433.9
申请日：2024-03-05
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明适用于图像处理领域，公开了环境物体识别方法和成像系统，环境物体识别方法包括：通过第一相机和第二相机从不同视角采集第一图像和第二图像，第一相机和第二相机的光圈大小不同；构造重构误差函数式，并计算得到第一相机在每个像素点处的离焦程度的值；基于第一相机在每个像素点处的离焦程度的值，通过高斯薄透镜模型求取每个像素点的物距；基于每个像素点的物距和预先标定的相机内参，计算得到每个像素点的三维坐标；基于每个像素点的三维坐标构建稠密点云，并基于构建的稠密点云识别障碍物，该方案能够实现对环境中的物体进行更准确的识别和定位，并能够提高计算效率，从而可以做到三维环境实时成像感知，可在高速自动驾驶使用。
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公开(公告)号：CN112184804B
公开(公告)日：2024-03-22
申请号：CN202010894997.5
申请日：2020-08-31
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种大体积工件高密度焊点定位方法、装置、存储介质及终端，使用结构点云映射至二维图像的方法定位焊点，再根据焊点在图像中的位置(u,v)检索点云中对应的点，得到包含高度信息的三维坐标点；采用旋转点云的方式使目标点云与Z轴垂直，将目标点云的面信息最大程度地映射至二维，更完整地保留细节、提高计算精度；采用大视场结构光3D相机无需大面积扫描，使用三维点云映射二维图像的方法精准提取焊点坐标，有效避免了2D相机环境光对图像的影响，仅采集一次便可准确计算并有序输出视场内所有焊点的三维坐标，识别速度快、焊接效率高，完美适用于大体积高密度焊点的工件焊接。
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公开(公告)号：CN117663987A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202311634254.4
申请日：2023-11-30
Applicant: 季华实验室
IPC: G01B11/00
Abstract: 本发明涉及相位测量技术领域，公开了相位测量方法、装置、设备及存储介质，该方法用于避免复合条纹间的串扰，实现高精度的动态测量。该方法包括：生成频率不同的两组三步相移图片；将每组三步相移图片分别放入彩色Mat对象的R、G、B三个通道，生成彩色条纹图，两组三步相移图片对应的彩色条纹图分别为第一彩色条纹图和第二彩色条纹图；使用标定好的第一灰度相机、第二灰度相机和第三灰度相机采集第一彩色条纹图和第二彩色条纹图的红、绿、蓝图像信息，并进行坐标转换，得到两张相移变形条纹图，第一灰度相机、第二灰度相机和第三灰度相机分别设置有红、绿、蓝滤波片；根据两张相移变形条纹图计算出各个像素点的相位信息。
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公开(公告)号：CN117576039A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202311558296.4
申请日：2023-11-21
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及相位测量领域，公开了不连续区域相位展开方法和装置，该方法用于对相位超过2π的跃变区域进行有效相位展开。该方法包括：获取多步相移条纹光投影到待测物体上形成的多步条纹图；根据多步条纹图计算得到初始包裹相位图，并根据初始包裹相位图计算得到相位质量图，并根据相位质量图计算得到边向量；根据多步条纹图计算得到背景光强图，并根据背景光强图计算得到水平方向光照距离相位差图和垂直方向光照距离相位差图；利用相位质量图、边向量、水平方向光照距离相位差图和垂直方向光照距离相位差图协同引导包裹相位进行展开，得到不连续区域相位展开图。
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公开(公告)号：CN117197132A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202311457594.4
申请日：2023-11-03
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于视觉检测的技术领域，公开了一种类镜面缺陷投影方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取类镜面物体的缺陷的二维像素坐标，运用PnP算法，利用相机以及设置的参考平面和平面标志物，将二维像素坐标转换为相机三维坐标，通过手眼标定法，构建相机坐标系与类镜面物体坐标系的转换关系，根据转换关系，将相机三维坐标转换为空间三维坐标，基于类镜面物体各部位在蝴蝶图上对应的投影平面，将空间三维坐标投影到蝴蝶图上，得到缺陷二维蝴蝶图，运用手眼标定法和PnP算法，将缺陷从二维图像空间转换到三维空间，结合类镜面物体对应蝴蝶图的投影平面，将三维空间的缺陷投影到蝴蝶图上，提高了缺陷定位的效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN116433658B
公开(公告)日：2023-08-15
申请号：CN202310673938.9
申请日：2023-06-08
Applicant: 季华实验室
IPC: G06T7/00 , G06T7/40 , G06T7/70 , G06V10/764 , G06V10/774 , G06V10/80 , G01N21/88
Abstract: 本申请属于类镜面缺陷检测的技术领域，公开了一种类镜面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测物体类镜面的调制图、相位图和曲率图，以及类镜面数据库的表面缺陷训练样本，表面缺陷训练样本包括表面调制图、表面相位图和表面曲率图及对应的表面缺陷数据，复合调制图、相位图和曲率图，生成彩色三通道图，根据表面调制图、表面相位图和表面曲率图及对应的表面缺陷数据，构建类镜面缺陷检测模型，将彩色三通道图输入类镜面缺陷检测模型，得到待测物体类镜面的缺陷检测结果数据，通过将三通道图输入类镜面缺陷检测模型，对类镜面的缺陷进行检测，提高了缺陷检测的效率。
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公开(公告)号：CN116433658A
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202310673938.9
申请日：2023-06-08
Applicant: 季华实验室
IPC: G06T7/00 , G06T7/40 , G06T7/70 , G06V10/764 , G06V10/774 , G06V10/80 , G01N21/88
Abstract: 本申请属于类镜面缺陷检测的技术领域，公开了一种类镜面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测物体类镜面的调制图、相位图和曲率图，以及类镜面数据库的表面缺陷训练样本，表面缺陷训练样本包括表面调制图、表面相位图和表面曲率图及对应的表面缺陷数据，复合调制图、相位图和曲率图，生成彩色三通道图，根据表面调制图、表面相位图和表面曲率图及对应的表面缺陷数据，构建类镜面缺陷检测模型，将彩色三通道图输入类镜面缺陷检测模型，得到待测物体类镜面的缺陷检测结果数据，通过将三通道图输入类镜面缺陷检测模型，对类镜面的缺陷进行检测，提高了缺陷检测的效率。
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公开(公告)号：CN116402819A
公开(公告)日：2023-07-07
申请号：CN202310673969.4
申请日：2023-06-08
Applicant: 季华实验室
IPC: G06T7/00 , G06T7/40 , G06T7/70 , G06V10/764 , G06V10/774 , G06V10/80 , G01N21/88
Abstract: 本申请属于类镜面缺陷检测的技术领域，公开了一种类镜面缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取待测类镜面物体表面的变形条纹图，通过相移法，计算变形条纹图对应的横坐标方向包裹相位和纵坐标方向包裹相位，根据横坐标方向包裹相位和纵坐标方向包裹相位，结合预设的计算窗口因子，计算得到相位伪相关质量差值图，利用图像分析技术，检测相位伪相关质量差值图，得到待测类镜面物体表面的缺陷结果数据，通过检测由类镜面物体表面的包裹相位数据计算得到相位伪相关质量差值图，对类镜面的缺陷进行检测，提高了缺陷检测的效率。
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公开(公告)号：CN113814987B
公开(公告)日：2022-06-03
申请号：CN202111404603.4
申请日：2021-11-24
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于机器人标定技术领域，公开了一种多相机机器人手眼标定方法、装置、电子设备及存储介质，获取各环境相机、末端相机以及标定标准件在机器人基坐标系下的初始角度数据；根据初始角度数据获取标定标准件在各相机的相机坐标系下的第一位姿数据，并获取机器人末端当前的机器人基坐标系下的第二位姿数据；根据第一位姿数据计算各环境相机相对末端相机的相对位姿数据；标定末端相机的相机坐标系到机器人末端坐标系的位姿转换矩阵；根据该位姿转换矩阵、第二位姿数据和相对位姿数据计算各环境相机的相机坐标系到机器人基坐标系的位姿转换矩阵；从而可减少标定过程的耗时，并可避免由于环境相机的视野过大而导致标定误差过大的现象。
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公开(公告)号：CN113814987A
公开(公告)日：2021-12-21
申请号：CN202111404603.4
申请日：2021-11-24
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请属于机器人标定技术领域，公开了一种多相机机器人手眼标定方法、装置、电子设备及存储介质，获取各环境相机、末端相机以及标定标准件在机器人基坐标系下的初始角度数据；根据初始角度数据获取标定标准件在各相机的相机坐标系下的第一位姿数据，并获取机器人末端当前的机器人基坐标系下的第二位姿数据；根据第一位姿数据计算各环境相机相对末端相机的相对位姿数据；标定末端相机的相机坐标系到机器人末端坐标系的位姿转换矩阵；根据该位姿转换矩阵、第二位姿数据和相对位姿数据计算各环境相机的相机坐标系到机器人基坐标系的位姿转换矩阵；从而可减少标定过程的耗时，并可避免由于环境相机的视野过大而导致标定误差过大的现象。
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