公开(公告)号：CN112115411B

公开(公告)日：2024-04-16

申请号：CN202010849557.8

申请日：2020-08-21

Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所

Inventor： 刘岩 ,  李灏 ,  张立飞 ,  王维 ,  任宇龙

IPC: G06F17/15 ,  G01N21/01 ,  G01N21/84

Abstract: 本发明提供了一种位置漂移补偿方法、终端设备及可读性存储介质，该方法包括：S101：采集待测件的第一帧图像P1；设定待测件图像的采集帧数为N、当前采集帧为k、采集图像为P、累积卷积核为H，令k＝2、P＝P1、H＝0；S102：采集待测件的第k帧图像Pk，并计算第一帧图像平移变换到第k帧图像对应的卷积核hk；S103：令k＝k+1、P＝P+Pk、H＝H+hk，若k≦N，则返回执行步骤S102；若k>N，则基于累积卷积核H对采集图像P进行反卷积，得到待测件的补偿图像。本发明提供的位置漂移补偿方法、终端设备及可读性存储介质能够减少实时运算量，降低运算成本。

公开(公告)号：CN117347307A

公开(公告)日：2024-01-05

申请号：CN202311279691.9

申请日：2023-09-28

Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所

Inventor： 徐鹏 ,  王维 ,  梁士雄 ,  张立森 ,  宋旭波 ,  顾国栋 ,  郝晓林

IPC: G01N21/3581 ,  G01N21/3577

Abstract: 本发明提供一种太赫兹检测装置及检测方法。本发明可通过太赫兹芯片的片上微带谐振单元接收太赫兹信号实现谐振。穿过侧壁通孔置于矩形波导内部的待测溶液，对片上微带谐振单元谐振频率产生扰动。待测溶液的不同浓度改变谐振区域的空间电磁场，在不同空间电磁场下，片上微带谐振单元的谐振频率不同。本发明实施例可基于待测溶液的浓度大小对谐振频率的影响大小确定待测溶液浓度。相对于现有谐振腔检测方式，一方面，片上微带谐振单元的谐振频率提升不受谐振单元尺寸限制，可在提升工作频率的同时应用于大尺寸的溶液浓度检测。另一方面，片上微带谐振单元的谐振频率提高，可提升检测工作频率、提升溶液浓度检测的检测灵敏度。

公开(公告)号：CN115657264A

公开(公告)日：2023-01-31

申请号：CN202211324332.6

申请日：2022-10-27

Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所

Inventor： 刘岩 ,  吴爱华 ,  王维 ,  翟玉卫 ,  李灏 ,  丁晨 ,  荆晓冬

IPC: G02B7/36 ,  G03B30/00 ,  G01J5/48 ,  G01J5/0806

Abstract: 本发明提供一种热反射显微热成像系统的跟焦方法、装置及电子设备。该方法包括：获取初始图像、第一图像、第二图像。分别计算初始图像、各第一图像和各第二图像的图像清晰度。若第一平均清晰度大于第二平均清晰度，将物距调整至初始物距减预设步长。若第一平均清晰度小于等于第二平均清晰度，将物距调整至初始物距加预设步长。将调整后的物距作为初始物距。本发明通过按预设步长交替调整物距、采集图像，对比两个相邻物距下的平均图像清晰度，按预设步长调整物距后，再次以调整后的物距为基准继续交替调整物距采集图像和调整物距。可在热反射显微热成像系统测试温度过程中，循环执行，实时调整物距，持续保持图像清晰，实现连续实时跟焦。

公开(公告)号：CN115216831A

公开(公告)日：2022-10-21

申请号：CN202210829102.9

申请日：2022-07-15

Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所

Inventor： 党冀萍 ,  孙聂枫 ,  史艳磊 ,  徐成彦 ,  秦敬凯 ,  王书杰 ,  刘峥 ,  付莉杰 ,  邵会民 ,  刘惠生 ,  王阳 ,  李晓岚 ,  马春雷 ,  王维 ,  康永 ,  李亚旗 ,  赵红飞

IPC: C30B11/00

Abstract: 一种可控温度梯度的晶体生长装置及方法，涉及半导体、光学晶体及金属晶体制备领域，晶体生长装置包括坩埚及配套组件、熔体温度梯度控制机构、晶体温度梯度控制机构；熔体温度梯度控制机构设置在坩埚内部，包括升降杆、加热板；晶体温度梯度控制机构包括恒温冷水机、冷水循环管路。生长方法包括在晶体生长期间，逐渐增加恒温冷水机供水流量，直至增加至30L/min；上升熔体温度梯度控制机构，提拉速度为2‑5mm/h。本发明在熔体中设置可移动的加热装置，通过精准控制加热装置的位置和温度来改善熔体中的温度梯度；在坩埚杆内部通入精准流量、温度基本恒定的冷却水来控制籽晶处的温度梯度，实现晶体高质量、高成品率的生长。

公开(公告)号：CN113624358A

公开(公告)日：2021-11-09

申请号：CN202110803448.7

申请日：2021-07-14

Applicant: 中国电子科技集团公司第十三研究所

Inventor： 刘岩 ,  吴爱华 ,  王维 ,  翟玉卫 ,  李灏 ,  丁晨 ,  荆晓冬

IPC: G01K11/00 ,  G01J5/00

Abstract: 本发明提供一种用于光热反射显微热成像的三维位移补偿方法及控制装置。该方法包括：获取被测件位于待补偿位置时的采集图像，及被测件位于参考位置时的参考图像；根据参考图像计算得到第一傅里叶变换，根据采集图像计算得到第二傅里叶变换；根据第一傅里叶变换和第二傅里叶变换，确定光热反射显微热成像装置中光学子系统的点扩散函数的峰值点坐标和拟合直径；根据峰值点坐标、拟合直径和光热反射显微热成像装置中光学子系统的成像参数，计算被测件位于待补偿位置时相对于参考位置的三维位移量，以对被测件进行三维位移补偿。本发明能够同时计算被测件位于待补偿位置时相对于参考位置的三维位移量，进而提高位移补偿的工作效率。