-
公开(公告)号：CN110990999B
公开(公告)日：2023-05-23
申请号：CN201911050188.X
申请日：2019-10-31
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种中子管寿命测试方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取待测中子管在工作过程中的若干时刻的中子产额；对各中子产额进行回归建模处理，得到中子管性能退化模型；基于中子管性能退化模型处理待测中子管的名义最高中子产额和名义最低中子产额，得到名义最高中子产额对应的第一等效损伤时刻，以及名义最低中子产额对应的第二等效损伤时刻；根据中子管性能退化模型、第一等效损伤时刻、第二等效损伤时刻和待测中子管的额定产额，得到待测中子管的等效寿命，从而避免了传统技术中需要全时测试的问题，缩短的中子管的测试耗时，还避免了传统技术中因需要数量较多测试样品而造成的投入成本的问题，降低了测试投入成本。
-
公开(公告)号：CN109059988B
公开(公告)日：2021-04-16
申请号：CN201810738449.6
申请日：2018-07-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01D18/00
Abstract: 本申请涉及一种光电检测仪器可靠性评估方法包括如下步骤：获取对设定数量个光电检测仪器进行可靠性试验得到的试验数据。其中，试验数据为设定环境条件下，对光电检测仪器进行设定次数的可靠性试验得到的试验数据。设定环境条件为光电检测仪器的应用环境类别对应的试验条件。设定次数为光电检测仪器的MTBF指标对应的试验次数。根据试验数据，对各个光电检测仪器进行可靠性评估，得到可靠性指标。通过根据光电检测仪器的在应用环境类别对应的设定环境条件下，对被测的光电检测仪器开展设定次数的可靠性试验得到的试验数据，进行可靠性评估，有效、准确地试验得到光电检测仪器的可靠性指标，为光电检测仪器的生产或设计，提供产品改进的技术支撑。
-
公开(公告)号：CN110097265A
公开(公告)日：2019-08-06
申请号：CN201910315946.X
申请日：2019-04-19
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种项目技术就绪度的获取方法、装置、计算机设备和存储介质。本方法获取待评项目的关键技术元素以及各关键技术元素的技术就绪度初评等级；分别以各关键技术元素作为待评关键技术元素，根据待评关键技术元素的技术就绪度初评等级以及其他关键技术元素的技术就绪度初评等级，确定待评关键技术元素与其他关键技术元素的集成作用系数；根据待评关键技术元素与其他各个关键技术元素的技术就绪度初评等级间的差值计算待评关键技术元素的技术就绪度终评等级，获得各关键技术元素的技术就绪度终评等级；根据各关键技术元素的技术就绪度终评等级确定待评项目的技术就绪度，有效提高待评项目技术就绪度评价的准确性，为用户提供准确的项目评价。
-
公开(公告)号：CN213564388U
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN202020706971.9
申请日：2020-04-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: B29C64/153 , B29C64/20 , B29C64/393 , B33Y30/00 , B33Y50/02
Abstract: 本申请涉及一种增材制造装备，包括：能量源，用于发射激光。振镜系统，用于接收且使得激光能够在一定范围内扫描。成形系统，包括底座以及成形台，成形台安装于底座上，用于接收成形材料以及经过振镜系统作用后的激光。校准系统，包括校准尺以及打印面成像装置，校准尺安装在底座上，并与打印面成像装置的相对位置固定，用于对打印面成像装置进行几何标定，打印面成像装置用于校准振镜系统。本申请可以使得振镜系统获得更准确的校准结果。
-
-
-
Search Results
24
records
(took 0.058 seconds)
