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公开(公告)号:CN103597314B
公开(公告)日:2017-02-15
申请号:CN201180070340.6
申请日:2011-07-21
Applicant: 株式会社尼利可
IPC: G01B11/00
CPC classification number: G01B11/028 , G01B11/04
Abstract: 本发明的带状体的端部位置检测装置求得移动中的带状体的宽度方向上的两端的位置和带状体的两端的高度。端部位置检测装置(100)包括:从带状体(2000)的下方将光照射到带状体的第一光源(110);从带状体的上方沿对带状体的表面垂直的方向照射线形光的第二光源120);对带状体的表面进行摄像的摄像装置130);以及根据从第一光源(110)发出的光所得到的图像和从来自第二光源(120)的反射光所得到的图像,算出带状体的宽度方向上的带状体的端部位置和带状体的高度方向上的带状体的端部位置的端部位置算出装置(140)。
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公开(公告)号:CN103108943A
公开(公告)日:2013-05-15
申请号:CN201080067269.1
申请日:2010-08-30
Applicant: 株式会社尼利可 , 国立大学法人九州大学 , 爱迪生热处理株式会社
IPC: C10M169/04 , C10M125/10 , C10N20/06 , C10N30/06 , C10N40/00 , C10N40/20
CPC classification number: C10M169/04 , C10M125/10 , C10M2201/062 , C10M2201/0623 , C10M2203/003 , C10N2220/082 , C10N2230/06 , C10N2240/402 , C10N2210/02
Abstract: 本发明提供一种与以往的润滑剂相比,可以进一步提高模具的寿命的模具用润滑剂。本发明涉及的模具用润滑剂含有切削油和氢氧化钙(Ca(OH)2),以体积分数20%以上的比率含有氢氧化钙。
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公开(公告)号:CN102892696A
公开(公告)日:2013-01-23
申请号:CN201080063228.5
申请日:2010-03-16
Applicant: 株式会社尼利可
IPC: B65H23/038 , B23D19/06
CPC classification number: G05D3/20 , B23D19/06 , B65H23/038 , B65H2404/161 , B65H2511/20 , B65H2220/03 , B65H2220/02
Abstract: 本发明的目的在于提供一种板带材中心位置控制装置,其能解决在板带材输送期间出现的偏移问题。板带材中心位置控制装置(100)包括中心位置控制器(110)、检测板带材(800)的在宽度方向上的实际中心位置的第一传感器(121)、设置在第一传感器下游且用于检测板带材的在宽度方向上的实际中心位置的第二传感器(122)以及控制所述中心位置控制器的操作的控制器(130)。所述控制器由第一和第二传感器的检测值计算出第一偏差和第二偏差,根据式(1)由第二偏差计算出第一演算值,并且在每个控制单位时间将第一演算值加到第一偏差,直到第二偏差变为零,其中,第一演算值=D/T×C1 (1)D:第二偏差T:第一和第二传感器之间的距离除以板带材输送速度所获得的值(时间)C1:常数。
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公开(公告)号:CN102197275A
公开(公告)日:2011-09-21
申请号:CN201080002987.0
申请日:2010-09-15
Abstract: 本发明涉及突起物检测装置及突起物检测方法。根据本发明的突起物检测装置检测行进的金属物体表面上的突起物,包括:放射电磁波的发送用天线;接收被反射的电磁波的接收用天线;以及处理发送信号及接收信号的收发信号处理部。所述发送用天线及所述接收用天线具有单向指向性,所述接收用天线被设置为对于从所述发送用天线放射而被所述金属表面反射的电磁波不进行捕捉,而仅对从所述发送用天线放射而被所述金属表面上的突起物反射的电磁波进行捕捉。
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公开(公告)号:CN105312510A
公开(公告)日:2016-02-10
申请号:CN201510459980.6
申请日:2015-07-30
Applicant: 株式会社尼利可
Inventor: 小山文雄
CPC classification number: G01F25/0076 , B22D11/16 , B22D11/186 , B22D11/205 , G01F23/26 , G01F25/0061
Abstract: 提供涡流式铸模液位测定装置和铸模液位测定方法。涡流式铸模液位测定装置具有:检测部(105),其具有检测因铸模液位的变化引起的阻抗值变化的线圈;放大部(120),其放大检测部的输出;浇注前校正部(150),其在浇注前的环境中确定放大部的正反馈率的基准值;铸模振荡信号校正部(140),其求出正反馈率为基准值的情况下的、与铸模振荡的已知振幅对应的测定装置的输出信号的差值即基准差值,根据铸模振荡时的测定装置的输出的最大值与最小值之间的差值和基准差值求出测定的偏差,以将修正后的正反馈率限制在该基准值的周围的规定的范围内并减小测定的偏差的方式修正正反馈率。
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公开(公告)号:CN103562693B
公开(公告)日:2016-01-06
申请号:CN201180071335.7
申请日:2011-06-24
Applicant: 株式会社尼利可
IPC: G01F23/284 , B22D11/16
CPC classification number: G01F23/2845 , B22D2/003 , B22D11/16 , B22D11/186 , G01F23/284
Abstract: 本发明提供构造简单、且针对熔融金属表面的局部液位变动的鲁棒性高的熔融金属液位测定装置。本发明的熔融金属液位测定装置是测定铸模内的熔融金属的液位的熔融金属液位测定装置,该熔融金属液位测定装置具有:无指向性的发送天线;无指向性的接收天线;以及信号处理部,使用通过该发送天线发射到该铸模内的超高频带的电磁波测定该铸模内的熔融金属液位。
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公开(公告)号:CN105144001A
公开(公告)日:2015-12-09
申请号:CN201480000933.9
申请日:2014-03-04
Applicant: 株式会社尼利可
CPC classification number: G05B11/42 , B65H23/085 , B65H2403/725 , B65H2515/312 , B65H2557/2644 , B65H2220/01 , B65H2220/02
Abstract: 本发明的课题在于,可缩短直至控制对象收敛于目标值的时间,使控制对象难以偏离目标值,而且不使控制系统的稳定性变差。这是基于目标信号与控制对象的检测信号的偏差,取得包含低速积分运算结果在内的第1运算结果,利用该第1运算结果驱动动力部,由该动力部控制上述控制对象,将上述控制对象的控制结果定为上述检测信号的反馈控制方法,当上述偏差的绝对值处在预先设定了的第1阈值内时,进行上述偏差的高速积分运算,将其积分值与上述第1运算结果相加,定为第2运算结果,或者对上述第1运算结果进行上述高速积分运算,将其积分值定为第2运算结果,利用该第2运算结果驱动上述动力部。
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公开(公告)号:CN103459976A
公开(公告)日:2013-12-18
申请号:CN201180069675.6
申请日:2011-04-12
Applicant: 株式会社尼利可
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01B11/0625
Abstract: 本发明的膜厚测定装置具有分光传感器(113)和数据处理部(120),其中,所述分光传感器测定在基材上涂布的膜的分光数据,所述数据处理部根据所测定的分光数据求出测定颜色特性变量,将该测定颜色特性变量与针对膜的厚度和折射率的多个组的值求出的多个组的理论颜色特性变量进行比较,使用对应于与该测定颜色特性变量之差最小的理论颜色特性变量的组的值确定该膜的折射率,使用该膜的该折射率确定该膜的厚度。
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公开(公告)号:CN103003687A
公开(公告)日:2013-03-27
申请号:CN201180035446.2
申请日:2011-01-21
Applicant: 株式会社尼利可
Inventor: 武田芳德
CPC classification number: G01N21/85 , G01N2021/845 , G01N2021/8466
Abstract: 本发明的照明装置(100)在将光照射到在一个方向所运送的各个农产品(14)上并基于来自上述农产品的反射光来检查上述农产品的外部品质的农产品外部品质检查装置中使用。本发明的照明装置(100)包括:上方照明单元(110),从上述农产品(14)的上方将光照射到上述农产品上;4个侧方照明单元(121-124),从上述农产品的侧方将光照射到上述农产品上;以及控制装置(130),控制从上述上方照明单元和上述侧方照明单元照射的光量,上述控制装置(130)控制上述侧方照明单元(121-124)的照射时间,使得上述农产品受到从上述侧方照明单元(121-124)照射的光的最强烈影响的第一点处的照度落在上述农产品(14)受到从上述上方照明单元(110)照射的光的最强烈影响的第二点处的照度的±10%的范围内。
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公开(公告)号:CN101981406A
公开(公告)日:2011-02-23
申请号:CN200980111320.1
申请日:2009-07-24
Applicant: 株式会社尼利可
CPC classification number: G01N21/55 , G01B11/0625
Abstract: 本发明提供一种膜厚测定装置以及膜厚测定方法,膜厚测定装置具有光源(101)、分光传感器(109)、处理器(120)、和存储装置(130),使来自上述光源的光垂直地入射到具有膜的测定对象面(501),被测定对象面反射的光入射到上述分光传感器。上述存储装置存储每种膜厚的反射率分布的理论值和每种膜厚的颜色特性变量的理论值,上述处理器使用存储于上述存储装置中的每种膜厚的反射率分布的理论值或每种膜厚的颜色特性变量的理论值,根据上述分光传感器所测定的反射率分布,求出测定对象面的膜的膜厚。
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