公开(公告)号：CN103459976A

公开(公告)日：2013-12-18

申请号：CN201180069675.6

申请日：2011-04-12

Applicant: 株式会社尼利可

Inventor： 山田健夫 ,  山本猛 ,  河合慎吾

IPC: G01B11/06

CPC classification number: G01B11/0625

Abstract: 本发明的膜厚测定装置具有分光传感器（113）和数据处理部（120），其中，所述分光传感器测定在基材上涂布的膜的分光数据，所述数据处理部根据所测定的分光数据求出测定颜色特性变量，将该测定颜色特性变量与针对膜的厚度和折射率的多个组的值求出的多个组的理论颜色特性变量进行比较，使用对应于与该测定颜色特性变量之差最小的理论颜色特性变量的组的值确定该膜的折射率，使用该膜的该折射率确定该膜的厚度。

公开(公告)号：CN101981406A

公开(公告)日：2011-02-23

申请号：CN200980111320.1

申请日：2009-07-24

Applicant: 株式会社尼利可

Inventor： 山田健夫 ,  山本猛 ,  山仓崇宽 ,  林真治 ,  河合慎吾

IPC: G01B11/06 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01N21/55 ,  G01B11/0625

Abstract: 本发明提供一种膜厚测定装置以及膜厚测定方法，膜厚测定装置具有光源(101)、分光传感器(109)、处理器(120)、和存储装置(130)，使来自上述光源的光垂直地入射到具有膜的测定对象面(501)，被测定对象面反射的光入射到上述分光传感器。上述存储装置存储每种膜厚的反射率分布的理论值和每种膜厚的颜色特性变量的理论值，上述处理器使用存储于上述存储装置中的每种膜厚的反射率分布的理论值或每种膜厚的颜色特性变量的理论值，根据上述分光传感器所测定的反射率分布，求出测定对象面的膜的膜厚。

公开(公告)号：CN101052858A

公开(公告)日：2007-10-10

申请号：CN200580037459.8

申请日：2005-09-12

Applicant: 株式会社尼利可

Inventor： 松本幸一 ,  山田健夫

IPC: G01B15/00 ,  G01S13/88

CPC classification number: G01S13/88 ,  G01B15/00

Abstract: 微波发送天线3R以及微波接收天线4R设置在右侧炉壁1R上，而且系统设计成从微波发送天线3R发射的微波被冷轧钢片2的右侧边缘反射，而且微波接收天线4R接收反射波。同样地，微波发送天线3L以及微波接收天线4L设置在左侧炉壁1L上，而且系统设计成从微波发送天线3L发射的微波被冷轧钢片2的左侧边缘反射，而且微波接收天线4L接收反射波。如果将从发送微波直到接收反射波的时间表示为t，而且微波的速度表示为c，则距离反射微波的物体的距离为t·c/2。可提供一种用于测量材料条沿宽度方向的端部位置的方法，噪音和大气对这样方法几乎没有影响，安装简便，而且与材料条几乎没有机械干涉。

公开(公告)号：CN101052858B

公开(公告)日：2011-08-31

申请号：CN200580037459.8

申请日：2005-09-12

Applicant: 株式会社尼利可

Inventor： 松本幸一 ,  山田健夫

IPC: G01B15/00 ,  G01S13/88

CPC classification number: G01S13/88 ,  G01B15/00

Abstract: 微波发送天线3R以及微波接收天线4R设置在右侧炉壁1R上，而且系统设计成从微波发送天线3R发射的微波被冷轧钢片2的右侧边缘反射，而且微波接收天线4R接收反射波。同样地，微波发送天线3L以及微波接收天线4L设置在左侧炉壁1L上，而且系统设计成从微波发送天线3L发射的微波被冷轧钢片2的左侧边缘反射，而且微波接收天线4L接收反射波。如果将从发送微波直到接收反射波的时间表示为t，而且微波的速度表示为c，则距离反射微波的物体的距离为t·c/2。可提供一种用于测量材料条沿宽度方向的端部位置的方法，噪音和大气对这样方法几乎没有影响，安装简便，而且与材料条几乎没有机械干涉。