一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法

    公开(公告)号:CN108106817A

    公开(公告)日:2018-06-01

    申请号:CN201711307932.0

    申请日:2017-12-11

    Abstract: 本发明提供的是一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法。首先将待测Y波导的输入保偏尾纤与起偏器保偏尾纤连接点、Y波导的输出保偏尾纤与检偏器保偏尾纤连接点的对轴角度同时设定为0°,得到第一次的偏振参数测量结果;然后将上述两个连接点的对轴角度同时调节为90°,得到第二次的测量结果;最后计算两次测量结果的平均值,作为最终测量值。本发明中的测量方法无需更改测量光路结构,具有简单有效、易于实现等特点,有助于消除待测光路中起偏器/检偏器自身结构及性能缺陷引入的测量误差,从而进一步提升测量准确性。该方法可广泛用于Y波导器件芯片消光比等参数的高精度测量。

    一种对保偏光纤缺陷点测量中的伪干涉峰鉴别方法

    公开(公告)号:CN105823620B

    公开(公告)日:2018-04-17

    申请号:CN201610152972.1

    申请日:2016-03-17

    Abstract: 本发明提供的是一种对保偏光纤缺陷点测量中的伪干涉峰鉴别方法。通过改变待测光纤与起偏器/检偏器之间的对轴角度,分别实现对干涉信号中不同特征干涉峰的抑制和放大;不同对轴角度条件下,将测量干涉峰与预测干涉峰位置‑幅值的理论公式进行比对,得到干涉信号中的特征干涉峰的幅值、阶次等信息;通过4次不同对轴角度测量,即可鉴别出其中的伪干涉峰和代表真实缺陷点的干涉峰。本发明中的操作方法简单有效,有助于从分布式干涉测量中准确地估计保偏光纤缺陷点信息,可以广泛应用于保偏光纤中缺陷点的精确测量。

    一种光纤干涉仪臂长差的测量装置

    公开(公告)号:CN105865754B

    公开(公告)日:2018-01-19

    申请号:CN201610329562.X

    申请日:2016-05-18

    Abstract: 本发明提供的是一种光纤干涉仪臂长差的测量装置。包括可调谐激光光源模块、被测光纤干涉仪模块、参考光纤干涉仪模块和采集与控制模块,可调谐激光光源模块的两个输出端分别连接被测光纤干涉仪模块和参考光纤干涉仪模块,参考光纤干涉仪模块的输出端和被测光纤干涉仪模块的输出端分别连接采集与控制模块的数据采集卡的不同通道,采集与控制模块的计算机通过与可调谐激光光源和可移动反射镜进行连接实现对其的控制和触发信号的接收。本测量装置可以精确地测量出被测光纤干涉仪的臂长差,具有结构简单、成本低、测量精度高范围广和自动定标等优点。

    一种光学偏振器件分布式偏振串扰测量的噪声抑制装置与抑制方法

    公开(公告)号:CN105043718B

    公开(公告)日:2017-11-21

    申请号:CN201510212810.8

    申请日:2015-04-30

    Abstract: 本发明属于光纤测量技术领域,具体涉及到一种光学偏振器件分布式偏振串扰测量的噪声抑制装置与抑制方法。一种光学偏振器件分布式偏振串扰测量的噪声抑制装置,包括宽谱光源、起偏器、第1光纤旋转连接器、第2光纤旋转连接器、待测光纤器件、光程相关器、偏振串扰检测与信号记录装置。本发明使用偏振分束器将传输光与耦合光彻底分离,避免干涉拍噪声的影响;在控制电路热噪声的基础上,使用衰减器对传输光进行衰减,让耦合光成为主探测光,使散粒噪声成为限制系统信噪比的主要噪声,使用本发明提供的方法调节至合适参数,可保持系统动态范围不变的前提下,信噪比提升20~40dB,有效提高测量灵敏度。

    偏振复用的共光路自校准薄膜厚度测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN107339943A

    公开(公告)日:2017-11-10

    申请号:CN201710537207.6

    申请日:2017-07-04

    Abstract: 本发明提供的是一种偏振复用的共光路自校准薄膜厚度测量装置及测量方法。包含光源输出模块、膜厚测量探头模块、解调干涉仪模块、偏振分束模块以及采集与控制模块。本发明采用偏振复用技术,两探头使用正交态偏振光。测量探头能实现传输光线的透射和反射,无待测薄膜时可实现两探头绝对距离H的测量;待测薄膜安置两探头间,实现两探头与待测薄膜前后表面的绝对距离H1和H2的测量;待测薄膜厚度d可由d=H-(H1+H2)确定。本发明实现不需要标定物即可对待测薄膜厚度进行测量,共光路的设计克服了测量过程中由于系统内部机械不稳定和外部环境变化带来的影响,具有自校准、特征白光干涉峰识别简单、动态范围大、测量结果可溯源等优点。

    多功能铌酸锂集成器件的偏振性能测量方法

    公开(公告)号:CN107314888A

    公开(公告)日:2017-11-03

    申请号:CN201710511150.2

    申请日:2017-06-29

    CPC classification number: G01M11/00

    Abstract: 本发明提供的是一种多功能铌酸锂集成器件的偏振性能测量方法。同时对波导芯片消光比、光纤的耦合串音、波导输入输出端光纤的分布式消光比进行测量;利用不同偏振角度的起偏器和检偏器对波导进行多次测量,得到波导输入/输出端光纤内部的串扰数据,计算串扰数据的能量分布曲线,得到光纤的分布式消光比;测量得到带有芯片消光比、耦合串音信息的干涉图样,利用干涉图样中左右对称的干涉峰测量消光比和串音,判断左右两端测量结果的差值是否满足要求,如果差值较大需要重新测量,直至结果符合要求为止。该方法充分利用白光干涉精度高,动态范围大的特点,对探测到的偏振串扰数据进行测量,使测量结果准确、可靠。

    基于法布里珀罗腔干涉测量脉冲激光能量传感器及脉冲光能量测量方法

    公开(公告)号:CN107192449A

    公开(公告)日:2017-09-22

    申请号:CN201710278442.6

    申请日:2017-04-25

    CPC classification number: G01J1/42 G01J2001/4238

    Abstract: 本发明提供的是一种基于法布里珀罗腔干涉测量脉冲激光能量传感器及脉冲光能量测量方法。首先,可调谐激光光源发出波长线性变化的信号光通过单模光纤接入到干涉腔中,从单模光纤发出的光被镀有银的铝制薄片反射并与入射信号光发生干涉,干涉光信号通过单模光纤导入到光谱仪中进行信号检测;其次,被检测的脉冲激光通过光纤准值镜耦合到单模光纤中,脉冲激光从光纤尖端射出时会产生力学效应,铝片在脉冲冲击力作用下发生形变而压缩干涉腔的长度;最后通过光谱仪得到的干涉吸收峰与初始条件下的峰值位置进行对比分析,确定被检测脉冲激光的能量。本测量装置具有制备工艺简单、结构尺寸小、稳定性好、测量精度高等优点。

    一种共光路自校准薄膜厚度测量装置及测量方法

    公开(公告)号:CN107167085A

    公开(公告)日:2017-09-15

    申请号:CN201710277954.0

    申请日:2017-04-25

    Abstract: 本发明提供的是一种共光路自校准薄膜厚度测量装置及测量方法。包括光源输出模块、膜厚测量探头模块、干涉与解调模块以及采集与控制模块等四部分。本发明的测量探头能同时实现对传输光线的透射和反射,无待测薄膜时可实现两探头间绝对距离H的测量;待测薄膜安置在两探头中间,实现两探头与待测薄膜前后表面绝对距离H1和H2的测量;待测薄膜厚度d可由d=H‑(H1+H2)确定。本发明实现不需标定样品即可对透明与不透明薄膜的厚度进行测量,干涉光束共光路克服了测量过程中由于测量系统内部机械不稳定和外部环境变化所带来的影响,具有自校准、测量结果可溯源、稳定性高等优点。

    一种后向散射随机匹配相干噪声测试仪

    公开(公告)号:CN105954004A

    公开(公告)日:2016-09-21

    申请号:CN201610201528.4

    申请日:2016-04-01

    Abstract: 本发明属于光纤技术领域,具体涉及的是一种提高性能指标的后向散射随机匹配相干噪声测试仪。本发明由窄带光源1,宽带光源2,第一波分复用器3,光纤隔离器4,第一光纤耦合器5,第二波分复用器6,光电探测器7,信号处理单元8,三端口光纤环形器9,第一光电探测器10,第二光电探测器11,差分器12,信号处理单元13,第二光纤耦合器14,可调衰减器15,标定参考器件16,光程扫描器17,光纤连接器18,待测光纤器件19组成。本发明能够完成后向散射随机匹配相干噪声特性的测试与分析,以达到提高光学系统性能指标、发现其本身所存在的缺陷的目的。

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