公开(公告)号：CN106989904B

公开(公告)日：2020-01-17

申请号：CN201710284514.8

申请日：2017-04-25

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 杨军 ,  侯成城 ,  喻张俊 ,  张浩亮 ,  苑勇贵 ,  彭峰 ,  李寒阳 ,  苑立波

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明提供的是一种保偏光纤消光比的测量方法。根据待测光纤内的耦合情况，依次测量得到干涉峰与主峰的半高全宽的宽度、左右端点位置和能量，利用干涉峰能量与主峰能量的比值计算得到光纤内串扰点的消光比；计算低信噪比下的干涉峰的能量时，需要测量干涉信号中的噪声功率，计算干涉峰能量中包含的噪声能量，最后消除噪声在测量过程中引入的偏差；该方法测量精度高，测量结果消除色散影响，可以实现低信噪比下高消光比的精确测量，可广泛应用于对消光比测量要求高的光学器件的分析。

公开(公告)号：CN106989904A

公开(公告)日：2017-07-28

申请号：CN201710284514.8

申请日：2017-04-25

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 杨军 ,  侯成城 ,  喻张俊 ,  张浩亮 ,  苑勇贵 ,  彭峰 ,  李寒阳 ,  苑立波

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明提供的是一种保偏光纤消光比的测量方法。根据待测光纤内的耦合情况，依次测量得到干涉峰与主峰的半高全宽的宽度、左右端点位置和能量，利用干涉峰能量与主峰能量的比值计算得到光纤内串扰点的消光比；计算低信噪比下的干涉峰的能量时，需要测量干涉信号中的噪声功率，计算干涉峰能量中包含的噪声能量，最后消除噪声在测量过程中引入的偏差；该方法测量精度高，测量结果消除色散影响，可以实现低信噪比下高消光比的精确测量，可广泛应用于对消光比测量要求高的光学器件的分析。

公开(公告)号：CN107314888B

公开(公告)日：2019-08-06

申请号：CN201710511150.2

申请日：2017-06-29

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 杨军 ,  侯成城 ,  喻张俊 ,  张浩亮 ,  苑勇贵 ,  彭峰 ,  李寒阳 ,  苑立波

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明提供的是一种多功能铌酸锂集成器件的偏振性能测量方法。同时对波导芯片消光比、光纤的耦合串音、波导输入输出端光纤的分布式消光比进行测量；利用不同偏振角度的起偏器和检偏器对波导进行多次测量，得到波导输入/输出端光纤内部的串扰数据，计算串扰数据的能量分布曲线，得到光纤的分布式消光比；测量得到带有芯片消光比、耦合串音信息的干涉图样，利用干涉图样中左右对称的干涉峰测量消光比和串音，判断左右两端测量结果的差值是否满足要求，如果差值较大需要重新测量，直至结果符合要求为止。该方法充分利用白光干涉精度高，动态范围大的特点，对探测到的偏振串扰数据进行测量，使测量结果准确、可靠。

公开(公告)号：CN108106817B

公开(公告)日：2019-12-24

申请号：CN201711307932.0

申请日：2017-12-11

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 苑勇贵 ,  张浩亮 ,  杨军 ,  杨喆 ,  侯成城 ,  李寒阳 ,  苑立波

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明提供的是一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法。首先将待测Y波导的输入保偏尾纤与起偏器保偏尾纤连接点、Y波导的输出保偏尾纤与检偏器保偏尾纤连接点的对轴角度同时设定为0°，得到第一次的偏振参数测量结果；然后将上述两个连接点的对轴角度同时调节为90°，得到第二次的测量结果；最后计算两次测量结果的平均值，作为最终测量值。本发明中的测量方法无需更改测量光路结构，具有简单有效、易于实现等特点，有助于消除待测光路中起偏器/检偏器自身结构及性能缺陷引入的测量误差，从而进一步提升测量准确性。该方法可广泛用于Y波导器件芯片消光比等参数的高精度测量。

公开(公告)号：CN108106817A

公开(公告)日：2018-06-01

申请号：CN201711307932.0

申请日：2017-12-11

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 苑勇贵 ,  张浩亮 ,  杨军 ,  杨喆 ,  侯成城 ,  李寒阳 ,  苑立波

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明提供的是一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法。首先将待测Y波导的输入保偏尾纤与起偏器保偏尾纤连接点、Y波导的输出保偏尾纤与检偏器保偏尾纤连接点的对轴角度同时设定为0°，得到第一次的偏振参数测量结果；然后将上述两个连接点的对轴角度同时调节为90°，得到第二次的测量结果；最后计算两次测量结果的平均值，作为最终测量值。本发明中的测量方法无需更改测量光路结构，具有简单有效、易于实现等特点，有助于消除待测光路中起偏器/检偏器自身结构及性能缺陷引入的测量误差，从而进一步提升测量准确性。该方法可广泛用于Y波导器件芯片消光比等参数的高精度测量。

公开(公告)号：CN107314888A

公开(公告)日：2017-11-03

申请号：CN201710511150.2

申请日：2017-06-29

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 杨军 ,  侯成城 ,  喻张俊 ,  张浩亮 ,  苑勇贵 ,  彭峰 ,  李寒阳 ,  苑立波

IPC: G01M11/02

CPC classification number: G01M11/00

Abstract: 本发明提供的是一种多功能铌酸锂集成器件的偏振性能测量方法。同时对波导芯片消光比、光纤的耦合串音、波导输入输出端光纤的分布式消光比进行测量；利用不同偏振角度的起偏器和检偏器对波导进行多次测量，得到波导输入/输出端光纤内部的串扰数据，计算串扰数据的能量分布曲线，得到光纤的分布式消光比；测量得到带有芯片消光比、耦合串音信息的干涉图样，利用干涉图样中左右对称的干涉峰测量消光比和串音，判断左右两端测量结果的差值是否满足要求，如果差值较大需要重新测量，直至结果符合要求为止。该方法充分利用白光干涉精度高，动态范围大的特点，对探测到的偏振串扰数据进行测量，使测量结果准确、可靠。