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公开(公告)号：CN112082736B
公开(公告)日：2022-07-15
申请号：CN202010919234.1
申请日：2020-09-04
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明提供一种基于多功能光开关的保偏光纤环偏振串扰双向测量装置及方法，包括宽谱光源模块、双向测量切换模块、待测保偏光纤环、偏振串扰检测模块，使用一个光学起偏和光学检偏功能集成的2×2光开关作为双向测量切换模块的核心部件，通过控制其分别处于通电和断电的两种状态，来实现正向和反向测量的切换。两个单模光纤端口分别与宽谱光源模块和偏振串扰检测模块连接，两个保偏光纤端口与待测保偏光纤环连接，本发明实现了正反向传输光信号共用起偏和检偏器件，能降低正反向测量差异，测量准确性和可靠性高。该模块体积小、功能全，极大简化了测量光路的复杂程度。可广泛用于保偏光纤环的偏振串扰双向测量、互易性评估以及绕环对称性评价。
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公开(公告)号：CN107289922A
公开(公告)日：2017-10-24
申请号：CN201710050099.X
申请日：2017-01-23
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01C19/72
Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种共光路的光纤陀螺环正反向同时测量装置。一种共光路的光纤陀螺环正反向同时测量装置，包括光源装置、测试装置11、光程相关器12、光电信号转换与信号记录装置13；光程相关器12包括由第1六端口耦合器121、第2六端口耦合器122、第1准直透镜123、第2准直透镜124和扫描台125组成。本发明减少了光纤陀螺环偏振耦合测量装置的测试时间，提高测量效率，消除温度等环境因素的影响，能够准确地获得光纤陀螺环的偏振耦合对称性。
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公开(公告)号：CN106989904A
公开(公告)日：2017-07-28
申请号：CN201710284514.8
申请日：2017-04-25
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种保偏光纤消光比的测量方法。根据待测光纤内的耦合情况，依次测量得到干涉峰与主峰的半高全宽的宽度、左右端点位置和能量，利用干涉峰能量与主峰能量的比值计算得到光纤内串扰点的消光比；计算低信噪比下的干涉峰的能量时，需要测量干涉信号中的噪声功率，计算干涉峰能量中包含的噪声能量，最后消除噪声在测量过程中引入的偏差；该方法测量精度高，测量结果消除色散影响，可以实现低信噪比下高消光比的精确测量，可广泛应用于对消光比测量要求高的光学器件的分析。
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公开(公告)号：CN106323596A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201610815300.4
申请日：2016-09-12
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/00
CPC classification number: G01M11/30
Abstract: 本发明设计属于光纤测量领域，具体涉及一种保偏光纤缺陷点检测中对干涉峰的位置-幅值含义预估方法。本发明包括：明确待测保偏光纤中所有缺陷点个数和相应位置，记录缺陷点个数；对各个缺陷点耦合强度进行初始赋值；测量待测保偏光纤中，测量由缺陷点分开的区间光纤长度；设定待测保偏光纤每段区间光纤的线性双折射；明确待测保偏光纤接入测量系统对轴角度；根据缺陷点个数，缺陷点耦合强度，区间光纤长度，对轴角度输入到分析系统进行分析等。本发明推导出了干涉峰的位置-强度一般表达式。给定位置的扫描光程，可直接选择所需公式即得到该干涉峰的幅值含义，简化计算流程，节省计算时间。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113175894A
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN202110428788.6
申请日：2021-04-21
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明公开了一种物体表面三维形貌白光干涉测量装置及方法，本发明装置在Linnik型干涉仪的基础上，添加了第四透镜组(6)、第一面阵相机(13)以及六维位移台(17)组成差分探测系统。借助校准样品对第一面阵相机(13)及第四透镜组(6)进行精密六维调节，实现第一面阵相机(13)与第二面阵相机(14)亚像素级别的对准，并对采集得到干涉信号进行差分运算处理，消除信号中的直流分量对测量结果的影响，提升白光干涉信号的信噪比。本发明利用基于白光干涉信号的面阵差分探测实现了物体表面三维形貌的高精度测量。
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公开(公告)号：CN112082735A
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202010919139.1
申请日：2020-09-04
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/00
Abstract: 本发明提供一种基于Sagnac结构的光纤敏感环双向同步测量装置及方法，包括低偏宽谱光源模块、信号分离与提取模块、Sagnac环、差分解调干涉仪、偏振串扰记录及处理模块，其特征是：在传统的测试装置中引入Sagnac结构，利用不同偏振方向的光，对光纤敏感环的正向和反向同步测量，采用差分扫描的解调干涉仪，可同时获得光纤敏感环中任意一点的双向测量结果。本发明结构简单、新颖，正向和反向测量差异性非常小，能够有效排除测试中伪干涉峰的影响，提高了测试效率，对光纤敏感环的互易性测量、评估，甚至优化光纤敏感环绕制工艺具有重大意义。
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公开(公告)号：CN112082651A
公开(公告)日：2020-12-15
申请号：CN202010919156.5
申请日：2020-09-04
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供一种用于全保偏Sagnac闭合光路装配的偏振特性测量方法：将用于全保偏Sagnac闭合光路装配的Y波导和保偏光纤环先后连接成非闭合光路和闭合光路，并分别接入光学相干域偏振测量仪中进行测量，结合二阶偏振串扰效应，可以获得闭合光路中所有连接点的一阶偏振串扰、保偏光纤环全长度的分布式偏振串扰和Y波导芯片消光比等全部偏振特性信息。该方法实现了全保偏Sagnac闭合光路装配过程中偏振特性的测量，可广泛用于闭合光路中所有光学器件和连接点的分布式偏振串扰的监测和评价，对于高性能干涉型光学传感器的研制具有重要意义。
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公开(公告)号：CN108106817B
公开(公告)日：2019-12-24
申请号：CN201711307932.0
申请日：2017-12-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法。首先将待测Y波导的输入保偏尾纤与起偏器保偏尾纤连接点、Y波导的输出保偏尾纤与检偏器保偏尾纤连接点的对轴角度同时设定为0°，得到第一次的偏振参数测量结果；然后将上述两个连接点的对轴角度同时调节为90°，得到第二次的测量结果；最后计算两次测量结果的平均值，作为最终测量值。本发明中的测量方法无需更改测量光路结构，具有简单有效、易于实现等特点，有助于消除待测光路中起偏器/检偏器自身结构及性能缺陷引入的测量误差，从而进一步提升测量准确性。该方法可广泛用于Y波导器件芯片消光比等参数的高精度测量。
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公开(公告)号：CN108106817A
公开(公告)日：2018-06-01
申请号：CN201711307932.0
申请日：2017-12-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种提高Y波导器件偏振性能测量准确性的方法。首先将待测Y波导的输入保偏尾纤与起偏器保偏尾纤连接点、Y波导的输出保偏尾纤与检偏器保偏尾纤连接点的对轴角度同时设定为0°，得到第一次的偏振参数测量结果；然后将上述两个连接点的对轴角度同时调节为90°，得到第二次的测量结果；最后计算两次测量结果的平均值，作为最终测量值。本发明中的测量方法无需更改测量光路结构，具有简单有效、易于实现等特点，有助于消除待测光路中起偏器/检偏器自身结构及性能缺陷引入的测量误差，从而进一步提升测量准确性。该方法可广泛用于Y波导器件芯片消光比等参数的高精度测量。
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