公开(公告)号：CN103033942A

公开(公告)日：2013-04-10

申请号：CN201110293452.X

申请日：2011-09-29

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 凯文.G.哈丁 ,  宋桂菊 ,  陶立 ,  杨东民 ,  韩杰 ,  翟梓融

IPC: G02B27/28 ,  G02B5/30 ,  G02F1/09 ,  G02B23/24

CPC classification number: G02B27/283 ,  A61B1/00186 ,  A61B1/045 ,  A61B5/0059 ,  A61B2560/0223 ,  G01N21/21

Abstract: 本发明涉及一种光学成像系统和方法以及孔径光阑组合和孔径元件，该光学成像系统包括双折射元件，用于将非偏振光以不同的折射率分解成一第一线偏振光及一第二线偏振光，以分别形成该光学成像系统的第一焦距模式及第二焦距模式；旋光元件，用于在控制信号的作用下调整该第一及第二线偏振光的偏振态；偏光元件，用于滤除偏振态调整后的该第一及第二线偏振光之一，以形成单一成像。

公开(公告)号：CN103017677A

公开(公告)日：2013-04-03

申请号：CN201110304920.9

申请日：2011-09-23

Applicant: 通用电气公司

Inventor： 杜晓明 ,  凯文.G.哈丁 ,  霍华德.韦弗 ,  詹姆斯.贝尔德 ,  凯文.迈耶 ,  顾嘉俊

IPC: G01B11/24

CPC classification number: G01B21/20 ,  B23Q17/0933 ,  B23Q17/0938 ,  G01B11/24

Abstract: 本发明涉及一种用包括点式位移传感器的测量系统测量刀具刀刃轮廓的方法，该方法包括以下步骤：(a)将刀具沿其轴线旋转，用点式位移传感器扫描刀具的刃点，其中包括位于目标刃上的目标刃点，获得包含所述目标刃点的位置及方位信息的第一个点云；(b)根据目标刃点的位置及方位信息调整所述刀具与点式位移传感器之间的相对位置，使得所述点式传感器聚焦于包含所述目标刃点的感兴趣区域上；以及(c)用点式位移传感器扫描所述感兴趣区域，以获得第二个点云，该第二个点云包括分析所述刀具刀刃的轮廓所需的几何信息。