探头系统和检测方法
    11.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107726053B

    公开(公告)日:2020-10-13

    申请号:CN201610666159.6

    申请日:2016-08-12

    Abstract: 本发明公开了一种探头系统。该探头系统包括:发光单元,用来发射光;图案生成单元,用来投射至少一个参照结构光图案至物体表面以获得至少一个参照投影图案,所述图案生成单元包括振镜扫描单元,用来将发光单元发射的光反射至多个方向;及光强调制器,用来根据所述参照投影图案调制发光单元发射的光的强度,且提供调制光至所述振镜扫描单元来将调制光反射至多个方向,来投射至少一个调制结构光图案至物体表面,以获得至少一个调制投影图案。本发明还公开一种检测方法。

    探头系统和检测方法
    18.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107726053A

    公开(公告)日:2018-02-23

    申请号:CN201610666159.6

    申请日:2016-08-12

    Abstract: 本发明公开了一种探头系统。该探头系统包括:发光单元,用来发射光;图案生成单元,用来投射至少一个参照结构光图案至物体表面以获得至少一个参照投影图案,所述图案生成单元包括振镜扫描单元,用来将发光单元发射的光反射至多个方向;及光强调制器,用来根据所述参照投影图案调制发光单元发射的光的强度,且提供调制光至所述振镜扫描单元来将调制光反射至多个方向,来投射至少一个调制结构光图案至物体表面,以获得至少一个调制投影图案。本发明还公开一种检测方法。

    用来测量几何特征的测量系统和测量方法

    公开(公告)号:CN105509639A

    公开(公告)日:2016-04-20

    申请号:CN201410493810.5

    申请日:2014-09-24

    CPC classification number: G01B11/303 G01B11/02 G01B11/24 G01N21/84 G06T7/60

    Abstract: 本发明公开了用来测量几何特征的测量系统和测量方法。该测量系统包括:发光单元,用来发出准直光束;前透镜,用来反射部分所述准直光束来发射结构光的前聚焦光环至被测对象来获得来自所述被测对象的前反射光环,并且用来允许部分准直光束通过;后透镜,在光传播路径上位于所述前透镜的下游,用来反射至少部分通过所述前透镜的所述准直光束来发射所述结构光的后聚焦光环至所述被测对象来获得来自所述被测对象的后反射光环;成像单元,用来记录所述前反射光环和所述后反射光环的组合图像;及处理单元,连接于所述成像单元,用来根据所述组合图像获得所述被测对象的至少一个几何特征。本发明还涉及一种用来测量被测对象的几何特征的测量方法。

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