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公开(公告)号：CN111189540B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN201911105933.6
申请日：2019-11-13
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种在使用以干涉仪的方式进行频谱过滤的系统（102）和探测器（103）的情况下用于生成光（101）的频谱（S）的方法，其中借助所述系统（102）来以不同曝光时间记录多个干涉图像，其中由所述多个干涉图像来形成人工的干涉图像并且由此来确定频谱（S），本发明还涉及一种频谱仪单元（100）。
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公开(公告)号：CN108303387B
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN201810023301.4
申请日：2018-01-10
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于在考虑到光谱评估至少一个单个测量的情况下分析测量区域的方法，其包括如下步骤：•以电磁射束辐射测量区域的物体，•光谱测定地测量来自测量区域的射束，其中为了分析测量区域执行至少两个单个测量，•针对第一单个测量利用第一射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第一光谱测定的探测器信号，•针对第二单个测量利用与第一射束分布不同的第二射束分布以电磁射束辐射物体并且通过光谱测定地测量来提供第二光谱测定的探测器信号，•通过比较第一光谱测定的探测器信号和第二光谱测定的探测器信号获知比较值，比较值是针对存在直接反射的指示器，并且•为了光谱评估，根据比较值选出探测器信号，用以分析测量区域。
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公开(公告)号：CN108496066B
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201680080692.2
申请日：2016-12-05
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于光谱分析和图像检测的微型光谱仪（10），包括：‑探测单元（7），用于检测光学参量；和‑光学单元，包括极化器（2）、Savart元件（40）和分析器（5），所述Savart元件包括第一双折射元件（4a）和第二双折射元件（4b），其特征在于，‑在极化器（2）和Savart元件（40）之间的光路中布置第一液晶元件（3a），其被设计用于将从第一液晶元件射出的辐射（103）的第四极化轴（203）调整为，使得从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的成像模式中在没有分裂的情况下通过第一双折射元件（4a）并且从第一液晶元件射出的辐射（103）在微型光谱仪（10）的光谱仪模式中在第一双折射元件（4a）中被分裂成第一正常射束（500b）和第一异常射束（500a），并且‑其中在Savart元件（40）后方的光路中布置分析器（5），并且‑在分析器（5）后方的光路中布置探测单元（7）。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108344506A
公开(公告)日：2018-07-31
申请号：CN201810067997.0
申请日：2018-01-24
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01J3/26 , G01J1/06 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/0262 , G01J3/0289 , G02B5/003 , G02B2207/123 , G01J3/00
Abstract: 本发明涉及限制光的入射角的器件，制造该器件的方法和显微光谱仪。本发明涉及一种用于限制光的入射角的器件（100），其中所述器件（100）在所述器件（100）的衬底（106）的第一侧面上具有横向于光的入射方向（108）来取向的第一光圈结构（102），而且在所述衬底（106）的与所述第一侧面对置的第二侧面上具有横向于所述入射方向（108）来取向的第二光圈结构（104），其中所述光圈结构（102、104）各具有光圈孔（114）的图案（110、112）。
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公开(公告)号：CN111094918A
公开(公告)日：2020-05-01
申请号：CN201880061180.0
申请日：2018-06-27
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种显微光谱仪模块（100），其由以下组成：光学谐振器（102），用于对光进行滤波；探测装置（104），用于探测被光学谐振器（102）透射的光；和聚焦元件（106）。光学谐振器（102）关于所要滤出的波长范围方面可调。探测装置（104）具有至少一个第一探测元件（108）和至少一个第二探测元件（110）。聚焦元件（106）成型用来使透射光的在第一入射角范围之内射入的光束偏转到第一探测元件（108）上并且使透射光的在第二入射角范围之内射入的光束偏转到第二探测元件（110）上。
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公开(公告)号：CN110274692A
公开(公告)日：2019-09-24
申请号：CN201910189465.9
申请日：2019-03-13
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种傅立叶变换光谱仪（100），所述傅立叶变换光谱仪具有用于使光散射的扩散器元件（102）、用于光谱式过滤光的过滤元件（104）、偏转元件（106）和用于探测从所述过滤元件（104）出射的光的探测器元件（108），所述偏转元件用于将从所述扩散器元件（102）出射的光偏转到过滤元件（104）上。
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公开(公告)号：CN109891204A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201780067294.1
申请日：2017-10-02
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明涉及一种用于运行显微光谱仪（102）的方法，其中所述方法具有如下步骤：在使用显微光谱仪（102）的可调制的发射装置（106）的情况下，以具有第一脉冲特性（118）的第一频谱强度分布（120）和至少一个具有第二脉冲特性（122）的第二频谱强度分布（124）来照射所要测量的测量对象（130）；在使用显微光谱仪（102）的可调谐的滤波装置（108）的情况下，使由测量对象（130）重新发射的频谱反射强度分布（132）中的分配给第一频谱强度分布（120）的第一波长范围（134）和分配给第二频谱强度分布（124）的第二波长范围（136）通过；在使用显微光谱仪（102）的探测装置（110）的情况下，在探测信号（138）中描绘第一波长范围（134）和第二波长范围（136）的辐射强度；以及在使用第一脉冲特性（118）和第二脉冲特性（122）的情况下对探测信号（138）进行解调，以便获得分配给第一波长范围（134）的第一强度值（140）和分配给第二波长范围（136）的第二强度值（142）。
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公开(公告)号：CN109387483A
公开(公告)日：2019-02-26
申请号：CN201810897400.5
申请日：2018-08-08
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01J3/0202 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0237 , G01J3/0256 , G01J3/0272 , G01J3/0291 , G01J3/12 , G01N21/031 , G01N21/31 , G01N21/90 , G01N2021/0314 , G01N2201/0634 , G01N21/255 , G01N21/27
Abstract: 光谱分析的测量装置，测量装置被设置用于检测固体和流体的、光谱分析的数据，测量装置包括接收装置，接收装置被设置用于接收待研究的介质，其中，微型分光仪被设置用于检测介质的、光谱分析的数据，其中，微型分光仪-包括照射单元，照射单元被设置用于，以电磁辐射来辐射介质，并且-包括检测单元，检测单元被设置用于，检测电磁辐射的、来自介质的方向的辐射份额，其中，-将微型分光仪布置在接收装置的第一侧处，微型分光仪包括照射单元和检测单元，并且，-将射束偏转装置布置在接收装置的、与第一侧对置的第二侧处，射束偏转装置被设置用于，将来自照射单元的电磁辐射的至少一部分偏转到检测单元的方向上。
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