-
公开(公告)号:CN104157685A
公开(公告)日:2014-11-19
申请号:CN201410381270.1
申请日:2011-07-27
Applicant: 株式会社电装
IPC: H01L29/78 , H01L29/739 , H01L29/40 , H01L29/423 , H01L29/10 , H01L29/49 , H01L21/336
CPC classification number: H01L29/407 , H01L29/0634 , H01L29/0696 , H01L29/1095 , H01L29/42368 , H01L29/4238 , H01L29/4983 , H01L29/66734 , H01L29/7391 , H01L29/7393 , H01L29/7397 , H01L29/7805 , H01L29/7813 , H01L29/7819 , H01L29/7825 , H01L29/7831 , H01L29/861 , H01L2924/0002 , H02M7/003 , H01L2924/00
Abstract: 半导体装置具有并列连接的绝缘栅构造的半导体开关元件和续流二极管。半导体开关元件包括:漂移层;基区;基区表层部的元件侧第1杂质区域;元件侧栅极电极,配置于夹在上述第1杂质区域与上述漂移层之间的上述基区中;第2杂质区域,与上述漂移层接触;元件侧第1电极,与元件侧第1杂质区域及上述基区电连接;元件侧第2电极,与上述第2杂质区域电连接。续流二极管包括:第1导电型层;第2导电型层;二极管侧第1电极,与上述第2导电型层连接;二极管侧第2电极,与上述第1导电型层连接;二极管侧第1杂质区域,配置在上述第2导电型层的表层部;二极管侧栅极电极,具有提供过剩载流子注入抑制栅极的第1栅极电极。
-
公开(公告)号:CN104157648A
公开(公告)日:2014-11-19
申请号:CN201410381254.2
申请日:2011-07-27
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 半导体装置具有并列连接的绝缘栅构造的半导体开关元件和续流二极管。半导体开关元件包括:漂移层;基区;基区表层部的元件侧第1杂质区域;元件侧栅极电极,配置于夹在上述第1杂质区域与上述漂移层之间的上述基区中;第2杂质区域,与上述漂移层接触;元件侧第1电极,与元件侧第1杂质区域及上述基区电连接;元件侧第2电极,与上述第2杂质区域电连接。续流二极管包括:第1导电型层;第2导电型层;二极管侧第1电极,与上述第2导电型层连接;二极管侧第2电极,与上述第1导电型层连接;二极管侧第1杂质区域,配置在上述第2导电型层的表层部;二极管侧栅极电极,具有提供过剩载流子注入抑制栅极的第1栅极电极。
-