安装元器件检查装置、包括该安装元器件检查装置的元器件安装设备、以及安装元器件检查方法

    公开(公告)号:CN101806858B

    公开(公告)日:2013-03-27

    申请号:CN201010118640.4

    申请日:2010-01-28

    Inventor: 上田阳一郎

    CPC classification number: G01N21/956 Y10T29/53013 Y10T29/53174

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种在安装元器件的检查中、能快速引入适当的元器件库的安装元器件检查装置。安装元器件检查装置包括:元器件库,元器件库保存用于对检查对象的元器件进行检查的可更新的检查用信息;检查处理部,检查处理部使用元器件库来检查检查对象的元器件;适合率获取部,适合率获取部根据由检查处理部进行的检查的结果,获取表示检查用信息是否适合由检查处理部进行的检查的程度的适合率;以及判定部,判定部从更新前的检查用信息和更新后的检查用信息中选定适合率高的检查用信息。并且,元器件库可以保存更新前后的检查用信息,检查处理部使用保存在元器件库的更新前后的检查用信息来进行检查,若由判定部进行选定,则使用由判定部选定的检查用信息来进行检查。

    安装元器件检查装置、包括该安装元器件检查装置的元器件安装设备、以及安装元器件检查方法

    公开(公告)号:CN101806858A

    公开(公告)日:2010-08-18

    申请号:CN201010118640.4

    申请日:2010-01-28

    Inventor: 上田阳一郎

    CPC classification number: G01N21/956 Y10T29/53013 Y10T29/53174

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种在安装元器件的检查中、能快速引入适当的元器件库的安装元器件检查装置。安装元器件检查装置包括:元器件库,元器件库保存用于对检查对象的元器件进行检查的可更新的检查用信息;检查处理部,检查处理部使用元器件库来检查检查对象的元器件;适合率获取部,适合率获取部根据由检查处理部进行的检查的结果,获取表示检查用信息是否适合由检查处理部进行的检查的程度的适合率;以及判定部,判定部从更新前的检查用信息和更新后的检查用信息中选定适合率高的检查用信息。并且,元器件库可以保存更新前后的检查用信息,检查处理部使用保存在元器件库的更新前后的检查用信息来进行检查,若由判定部进行选定,则使用由判定部选定的检查用信息来进行检查。

    超声波测量方法和装置
    15.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101542279B

    公开(公告)日:2013-03-13

    申请号:CN200880000125.7

    申请日:2008-03-26

    Abstract: 通过从合格品的观测对象物(2)的波形信号生成的模板数据和从未测量的观测对象物得到的波形信号的比较,来校正观测对象物上产生的时间相位差,并进一步检测与模板数据的差异。作为第1阶段,通过使用了所生成的模板数据的长区间模板数据来对未测量的观测对象物进行好坏判断(步骤S31~S33),校正时间相位差(步骤S34)。接着,作为第2阶段,根据以时间轴分割后的短区间模板数据与同样分割后的观测对象物的波形信号来进行好坏判断(步骤S35、S36)。由此,校正观测对象物(合格品和不合格品)间产生的时间相位差,并可通过与合格品的波形信号的比较来进行高精度的好坏判断。

    超声波探伤方法和超声波探伤装置

    公开(公告)号:CN101156065A

    公开(公告)日:2008-04-02

    申请号:CN200680011066.4

    申请日:2006-06-12

    Abstract: 将检查对象(6)放置在与放置超声波传播介质(2)并用高分子膜(1)密封开口部的介质槽(10)分开的、与介质槽的高分子膜相对并形成开口的检查对象放置容器本体(12)中,用介质槽(10)的高分子膜(1)覆盖检查对象放置容器本体(12)的开口,同时对由框体(14)和高分子膜(1)及检查对象(6)形成的测定环境空间(17)进行减压,使高分子膜(1)紧贴在检查对象(6)上,从超声波探头(8)通过超声波传播介质(2)和高分子膜(1)向检查对象(6)发射超声波,来进行探伤检查。

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