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公开(公告)号：CN1705094A
公开(公告)日：2005-12-07
申请号：CN200510074082.5
申请日：2005-05-31
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G06T7/0006 , G06T2207/30148 , H01L24/11 , H01L2224/0554 , H01L2224/05568 , H01L2224/05573 , H01L2224/05624 , H01L2224/1134 , H01L2224/13144 , H01L2924/00014 , H01L2224/05599 , H01L2224/0555 , H01L2224/0556
Abstract: 向IC零件的突起形成面照射单一方向的光，取得上述IC零件的第1全部图像，照射来自相对突起形成面倾斜的各个方向的光，取得第2全部图像，从上述第1全部图像中分别取得第1突起检查用图像，同时，从上述第2全部图像中分别取得第2突起检查用图像，并根据第2突起检查用图像，检查突起形成位置，同时，根据上述各个第1突起检查用图像，检查突起头顶部的压坏程度。由此，实现高精度且有效的突起的检查。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1738516A
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN200510091500.1
申请日：2005-08-18
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H05K3/0008 , H05K1/0269 , H05K3/1216 , H05K13/0015 , H05K13/0413 , H05K13/0818 , H05K2201/09918 , Y10T29/4913 , Y10T29/49131 , Y10T29/49133 , Y10T29/53087 , Y10T29/53174
Abstract: 在印刷装置中，根据图象取得组件取得的图象，由标记位置取得部取得被输送用托盘保持的多个FPC上设置的4个对象标记的各自的位置。在错位标记特定部中，求出4个对象标记的相对的位置关系，与成为基准的位置关系进行比较，从而特定产生了错位的对象标记。然后，在基准位置决定部中，根据从4个对象标记中除去产生了错位的对象标记后的多个对象标记，求出对输送用托盘上的多个FPC而言的基准位置。这样，可以高精度地决定在印刷组件中进行印刷之际的基准位置。
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公开(公告)号：CN100377329C
公开(公告)日：2008-03-26
申请号：CN200510074082.5
申请日：2005-05-31
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G06T7/0006 , G06T2207/30148 , H01L24/11 , H01L2224/0554 , H01L2224/05568 , H01L2224/05573 , H01L2224/05624 , H01L2224/1134 , H01L2224/13144 , H01L2924/00014 , H01L2224/05599 , H01L2224/0555 , H01L2224/0556
Abstract: 向IC零件的突起形成面照射单一方向的光，取得上述IC零件的第1全部图像，照射来自相对突起形成面倾斜的各个方向的光，取得第2全部图像，从上述第1全部图像中分别取得第1突起检查用图像，同时，从上述第2全部图像中分别取得第2突起检查用图像，并根据第2突起检查用图像，检查突起形成位置，同时，根据上述各个第1突起检查用图像，检查突起头顶部的压坏程度。由此，实现高精度且有效的突起的检查。
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公开(公告)号：CN103175845B
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201210380170.8
申请日：2012-10-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开一种能够减小激光产生的热量对主面的影响的缺陷检测方法，包括：定义工序，其中在被检查物的比主面的面积小的侧面上定义多个照射位置，并定义与该多个照射位置分别对应的多个接收位置；接收工序，其中对在所述定义工序中定义的全部所述多个照射位置，进行向所述照射位置照射激光并在与该照射位置对应的所述接收位置接收超声波的工序；以及检测工序，其中基于在所述接收工序中接收到的超声波来检测所述被检查物的缺陷，所述定义工序中，以利用将所述照射位置和与该照射位置对应的所述接收位置分别连结的多条直线在从所述主面侧观察下形成多个交点的方式，定义所述多个照射位置和所述多个接收位置，所述检测工序中，检测所述多个交点的各自的位置上的缺陷。
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公开(公告)号：CN103175845A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201210380170.8
申请日：2012-10-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开一种能够减小激光产生的热量对主面的影响的缺陷检测方法，包括：定义工序，其中在被检查物的比主面的面积小的侧面上定义多个照射位置，并定义与该多个照射位置分别对应的多个接收位置；接收工序，其中对在所述定义工序中定义的全部所述多个照射位置，进行向所述照射位置照射激光并在与该照射位置对应的所述接收位置接收超声波的工序；以及检测工序，其中基于在所述接收工序中接收到的超声波来检测所述被检查物的缺陷，所述定义工序中，以利用将所述照射位置和与该照射位置对应的所述接收位置分别连结的多条直线在从所述主面侧观察下形成多个交点的方式，定义所述多个照射位置和所述多个接收位置，所述检测工序中，检测所述多个交点的各自的位置上的缺陷。
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公开(公告)号：CN100574565C
公开(公告)日：2009-12-23
申请号：CN200510091500.1
申请日：2005-08-18
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: H05K3/0008 , H05K1/0269 , H05K3/1216 , H05K13/0015 , H05K13/0413 , H05K13/0818 , H05K2201/09918 , Y10T29/4913 , Y10T29/49131 , Y10T29/49133 , Y10T29/53087 , Y10T29/53174
Abstract: 在印刷装置中，根据图象取得组件取得的图象，由标记位置取得部取得被输送用托盘保持的多个FPC上设置的4个对象标记的各自的位置。在错位标记确定部中，求出4个对象标记的相对的位置关系，与成为基准的位置关系进行比较，从而确定产生了错位的对象标记。然后，在基准位置决定部中，根据从4个对象标记中除去产生了错位的对象标记后的多个对象标记，求出对输送用托盘上的多个FPC而言的基准位置。这样，可以高精度地决定在印刷组件中进行印刷之际的基准位置。
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