半导体装置
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106415837A

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201480065081.1

    申请日:2014-11-26

    Abstract: 形成半导体装置1,所述半导体装置包含:SiC外延层28;多个晶体管单元18,形成于SiC外延层28,通过规定的控制电压接通/关断控制;栅极电极19,与在接通时形成沟道的晶体管单元18的沟道区域32相对;栅极金属44,为了与外部的电连接而露出到最外层表面,与栅极电极19在物理上分离,但是,电连接于栅极电极19;以及内置电阻21,被配置在栅极金属44的下方,由将栅极金属44和栅极电极19电连接的多晶硅构成。

    半导体装置
    13.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115917742A

    公开(公告)日:2023-04-04

    申请号:CN202180044061.6

    申请日:2021-06-23

    Abstract: 半导体装置(A10、A11、A20、A30、A40、A50、A61~A65)具备具有第一主面(111)的第一模座(11)、具有第二主面(121)的第二模座(12)、连接于第一主面(111)的第一开关元件(20)、连接于第二主面(121)的第二开关元件(30)、连接第一开关元件(20)的第一主面电极(21)和第二模座(12)的第一连接部件(51、53)、密封第一开关元件(20)、第二开关元件(30)、第一模座(11)、第二模座(12)以及第一连接部件(51、53)的密封树脂(70)、从密封树脂(70)的多个树脂侧面(703、704、705、706)中的一个树脂侧面(703)突出的多根引线(41、42、43、44、45)。

    半导体装置
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110634825A

    公开(公告)日:2019-12-31

    申请号:CN201910879948.1

    申请日:2014-11-26

    Abstract: 形成半导体装置(1),所述半导体装置包含:SiC外延层(28);多个晶体管单元(18),形成于SiC外延层(28),通过规定的控制电压接通/关断控制;栅极电极(19),与在接通时形成沟道的晶体管单元(18)的沟道区域(32)相对;栅极金属(44),为了与外部的电连接而露出到最外层表面,与栅极电极(19)在物理上分离,但是,电连接于栅极电极(19);以及内置电阻(21),被配置在栅极金属(44)的下方,由将栅极金属(44)和栅极电极(19)电连接的多晶硅构成。

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