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公开(公告)号：CN107959801A
公开(公告)日：2018-04-24
申请号：CN201711390163.5
申请日：2017-12-18
Applicant: 广州大学
CPC classification number: H04N5/2351 , H04N5/232
Abstract: 本发明公开了一种光源亮度控制系统及控制方法，其中，公开的所述光源亮度控制系统包括摄像头、控制装置以及至少一条形光源；所述条形光源，均包括多个排成直线的光源单体，并均用于对拍摄目标进行发光照亮；所述摄像头，用于对所述拍摄目标进行拍摄成像，以形成与所述条形光源对应的发光亮度图像；所述控制装置，用于在进行光源亮度调节时依次控制所述条形光源发光，并用于对所述发光亮度图像进行图像处理，以根据图像处理结果控制对应的所述条形光源的各个光源单体的发光亮度，从而使该条形光源能够均匀照亮所述拍摄目标。本发明能够使得拍摄出来的图像的亮度能够比较均匀。
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公开(公告)号：CN107942471A
公开(公告)日：2018-04-20
申请号：CN201711389103.1
申请日：2017-12-18
Applicant: 广州大学
Abstract: 本发明公开了一种镜头、机器视觉镜头装置及机器视觉测量系统，其中，公开的所述镜头包括镜筒、第一反射镜组及第二反射镜组；所述第一反射镜组与所述第二反射镜组均设于所述镜筒内，且分别位于所述镜筒的轴线的两侧；所述第一反射镜组与所述第二反射镜组，均用于将从所述镜筒的前部入射的平行光线平行地反射到镜筒的后部；其中，反射后的平行光线比入射时的平行光线更靠近所述镜筒的轴线。本发明通过所述镜头可以使得被测物的边缘的入射的平行光线，有效地传输到后方的测量系统的测量镜头中，从而使得所述测量镜头能够有效成像被测物的边缘，最后就可以准确地测出被测物的尺寸并可以降低测量成本。
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公开(公告)号：CN109579720B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN201811496186.9
申请日：2018-12-07
Applicant: 广州大学
Abstract: 本发明公开了一种边缘距离测量的引伸计动态测量方法，包括：将实验材料固定在拉力器两端；打开LED光源，使用工业相机对所述实验材料进行图像采集；使用标定板对采集后的图像进行标定，并将图像的坐标转换成世界坐标；点击设置需要追踪的区域，生成多根与X轴平行的线段；启动拉力器，不断拉伸实验材料以使所述实验材料不断变形直至实验材料的横向距离不断变小而断裂，并在拉伸过程中不断采集图像；每一次更新图像，将预先点击需要追踪的标记剪切出，并对其进行阈值处理；结合拉力器的拉力数据以及两条边缘线的平均距离或者最短距离，绘制成拉伸曲线。
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公开(公告)号：CN108062778B
公开(公告)日：2021-05-14
申请号：CN201711389101.2
申请日：2017-12-18
Applicant: 广州大学
IPC: G06T7/80
Abstract: 本发明公开了一种拍摄装置的位置调节方法及控制装置，其中，公开的所述拍摄装置的位置调节方法包括以下步骤：获取拍摄装置对标定板拍摄到的标定板图像；对所述标定板图像进行标定板的形变分析，以得到对应的形变分析数据；根据所述形变分析数据生成并发出对应的位置调节信号，以使得位置调节装置根据所述位置调节信号调节并纠正所述拍摄装置的位置。本发明能够纠正拍摄装置的位置，从而可以使得拍摄装置的镜头有效对准拍摄物体。
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公开(公告)号：CN109166116B
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：CN201811012256.9
申请日：2018-08-31
Applicant: 广州大学
Abstract: 本发明公开了一种用于芯片计数的图像处理方法，通过提取X光拍摄的半导体芯片图像，进行增强对比度、阈值分割后，利用形状面积特征提取需要处理的区域；然后对预处理后的图像进行自动阈值提取出芯片背景区域；再进行增强对比度，自动阈值后提取芯片区域；通过设置单个芯片区域的平均面积，倍数关系得到出芯片的总个数，实现计数速度快，精度较高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109859175A
公开(公告)日：2019-06-07
申请号：CN201910020309.X
申请日：2019-01-09
Applicant: 广州大学
Abstract: 本发明公开了一种用于三极管计数的图像处理方法，包括提取X光拍摄的三极管图像，得到原图像；根据固定阈值在用于三极管计数的图像处理方法原图像中进行第一全局阈值分割，获得第一图像；将用于三极管计数的图像处理方法第一图像进行第一连通域联合，获得第二图像，并对用于三极管计数的图像处理方法第二图像进行预处理，获得第三图像；将用于三极管计数的图像处理方法第三图像进行自动阈值，得到三极管区域；对用于三极管计数的图像处理方法三极管区域进行特征提取和区域个数统计，得到三极管个数N，能够解决传统的封装计数耗费人力时间的缺点，达到了计数时间快、精准度高的目的。
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公开(公告)号：CN109612400A
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201811494060.8
申请日：2018-12-07
Applicant: 广州大学
Abstract: 本发明公开了一种基于视觉跟踪的材料形变程度动态测量方法及系统，该方法包括如下步骤：步骤S1，将被测材料置于实验台进行拉伸试验，并采集图片进行保存；步骤S2，于一图片中选取需要跟踪的对象，创建标志模板；步骤S3，利用创建的标志模板对剩下的所有图片进行匹配，获得各标志模板于图片中的目标区域，并获得每个目标区域的中心点坐标；步骤S4，对步骤S3中获取的所有坐标点进行计算，计算出几何中心；步骤S5，重复步骤S3和步骤S4直至所有图片加载完成，根据坐标点绘制坐标图，观察几何中心的位移情况，从而判断材料形变，通过本发明，可实现材料形变程度测量的目的。
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公开(公告)号：CN109579720A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811496186.9
申请日：2018-12-07
Applicant: 广州大学
Abstract: 本发明公开了一种边缘距离测量的引伸计动态测量方法，包括：将实验材料固定在拉力器两端；打开LED光源，使用工业相机对所述实验材料进行图像采集；使用标定板对采集后的图像进行标定，并将图像的坐标转换成世界坐标；点击设置需要追踪的区域，生成多根与X轴平行的线段；启动拉力器，不断拉伸实验材料以使所述实验材料不断变形直至实验材料的横向距离不断变小而断裂，并在拉伸过程中不断采集图像；每一次更新图像，将预先点击需要追踪的标记剪切出，并对其进行阈值处理；结合拉力器的拉力数据以及两条边缘线的平均距离或者最短距离，绘制成拉伸曲线。
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公开(公告)号：CN108062778A
公开(公告)日：2018-05-22
申请号：CN201711389101.2
申请日：2017-12-18
Applicant: 广州大学
IPC: G06T7/80
Abstract: 本发明公开了一种拍摄装置的位置调节方法及控制装置，其中，公开的所述拍摄装置的位置调节方法包括以下步骤：获取拍摄装置对标定板拍摄到的标定板图像；对所述标定板图像进行标定板的形变分析，以得到对应的形变分析数据；根据所述形变分析数据生成并发出对应的位置调节信号，以使得位置调节装置根据所述位置调节信号调节并纠正所述拍摄装置的位置。本发明能够纠正拍摄装置的位置，从而可以使得拍摄装置的镜头有效对准拍摄物体。
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公开(公告)号：CN209700163U
公开(公告)日：2019-11-29
申请号：CN201920043166.X
申请日：2019-01-10
Applicant: 广州大学
Abstract: 本实用新型涉及一种滚字机的上料装置，通过将待加工管料堆叠在供管机构内，待加工管料能依靠其自身重力从供管机构中送出，推管机构将供管机构送出来的待加工管料推送至放管凹槽，放管凹槽对待加工管料起到定位的作用，然后通过夹取机构将放置在放管凹槽上的待加工管料夹取到滚字机内进行加工，待加工完成后夹取机构再次将管件取出并移至出料工位，实现了管件自动供料、自动进料、自动出料为一体的机械设备，结构简单，操作方便，提高了生产效率，而工人的工作强度也得到了降低，生产过程也变得更加整齐有序。
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