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公开(公告)号：CN118446121A
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202410889227.X
申请日：2024-07-04
Applicant: 季华实验室 , 佛山众陶联供应链服务有限公司
Abstract: 本发明公开了一种陶瓷窑炉温度拟合方法、装置、电子设备及存储介质，属于数据处理技术领域，该方法包括：获取陶瓷制品的烧结变形数据；将所述烧结变形数据输入第一阶段拟合模型中，得到初始温度拟合数据，所述第一阶段拟合模型为第一集成学习模型；将所述烧结变形数据和所述初始温度拟合数据输入第二阶段拟合模型中，得到目标温度拟合数据，所述第二阶段拟合模型为第二集成学习模型。本发明通过两个阶段的温度拟合，实现了提升陶瓷制品的烧结质量，提升产量的技术效果。
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公开(公告)号：CN118408932A
公开(公告)日：2024-07-30
申请号：CN202410870052.8
申请日：2024-07-01
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本申请公开了一种Micro‑LED检测设备及检测方法，属于Micro‑LED检测技术领域，该设备包括运动台、激光器、物镜、反射镜、采集器、半透半反镜、第一灰度相机、第二灰度相机。本申请提供的上述方案，在反射镜处于第一位置时，物镜成像后发出的光经过半透半反镜后，会分别进入到第一灰度相机和第二灰度相机中，后经过图像采集卡发送给计算机；在反射镜处于第二位置时，物镜成像后发出的光会经过反射镜后进入到采集器中，采集器通过标准光谱或色度对光图像进行标定，标定后的光图像经过图像采集卡发送给计算机，计算机再分析、计算标定后的光图像和经过灰度相机处理的光图像，从而实现Micro‑LED快速、高精度检测。
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公开(公告)号：CN118362371A
公开(公告)日：2024-07-19
申请号：CN202410790923.5
申请日：2024-06-19
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明涉及样品制造实验设备技术领域，本发明公开了一种压力控制热台及其控制方法，包括基座、设于基座上的施力机构、可竖向滑动地设于基座上的导向加压机构、设于基座上的对位机构、设于对位机构的输出端的加热台、以及控制器；施力机构包括升降组件、设于升降组件输出端的活动板、设于活动板上的压力传感器、以及设于活动板上的销轴；导向加压机构包括导向组件、设于导向组件上的下压组件、以及设于下压组件中部的载压板，下压组件与销轴滑动连接，并且销轴底部设有限位块；加热台包括均温板、以及温度传感器。本发明提供的压力控制热台及其控制方法，通过控温控压的方式来实现样品的制备，并且能够放置在显微镜下观察样品的微观反应过程。
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公开(公告)号：CN118282144A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202410704246.0
申请日：2024-06-03
Applicant: 季华实验室
IPC: H02K15/03
Abstract: 本申请公开了一种阵列结构永磁体安装装置，属于磁浮电机技术领域，其包括：载物台、第一限位组件和第二限位组件。本申请提供的上述方案，当需要将永磁体放入到永磁阵列载体上时，只需要通过第一限位组件和第二限位组件的配合来限定一个位置，然后将永磁体放入到对应位置即可，随后在第一方向移动第一限位组件，在第二方向移动第二限位组件，以使得第一限位组件和第二限位组件重新限定出下一个位置，以此类推，就可以将多个永磁体放入到永磁阵列载体上。整体装置通过第一限位组件和第二限位组件的配合，有效降低了永磁体的贴装难度，提高了贴装效率。
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公开(公告)号：CN118221654A
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202410636692.2
申请日：2024-05-22
Applicant: 季华实验室
IPC: C07D403/10 , C07D401/10 , C07D251/24 , H10K50/11 , H10K85/60
Abstract: 本发明涉及有机电致发光显示技术领域，尤其涉及一种螺芴化合物、包含其的发光层和有机电致发光器件。本发明提供的螺芴化合物可作为发光层的主体材料使用，具有优异的有机溶剂溶解性、良好的成膜性，利用溶液加工工艺制备得到的有机电致发光器件具有平衡的载流子传输性能，且能够有效提升器件的最大电流效率和降低效率滚降。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118035755A
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202311775571.8
申请日：2023-12-21
Applicant: 季华实验室
IPC: G06F18/22 , G01N21/65 , G06N3/042 , G06N3/0455 , G06N3/0464 , G06N3/0499 , G06N3/048 , G06N3/08
Abstract: 本申请公开了一种光谱检测方法、装置、设备及可读存储介质，涉及产品检测领域，自适应光谱角神经网络的建模不同样本光谱间的相似度，简化的图卷积神经网络聚合样本光谱邻域相似度信息，多尺度卷积神经网络层提取光谱的局部特征，多头自注意力层并行提取光谱全局特征，包括：基于光谱向量之间的目标光谱相似度构建正则化相似度矩阵；基于所述正则化相似度矩阵提取局部特征，基于所述局部特征提取全局特征；将所述全局特征输入至预设的神经网络模型进行预测，输出得到所述光谱数据中各条光谱对应的预测结果。本申请提高了光谱检测的检测结果准确度、检测效率和稳定性。
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公开(公告)号：CN117970082A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202311737927.9
申请日：2023-12-15
Applicant: 季华实验室
IPC: G01R31/312 , G01M11/02
Abstract: 本发明涉及精密设备领域，特别公开一种LED芯片非接触式检测装置，该LED芯片非接触式检测装置包括底座、驱动机构、导通机构及检测机构，驱动机构设于底座；导通机构包括上平板电容器和下平板电容器，上平板电容器与驱动机构连接，上平板电容器设有导电部；下平板电容器安装于底座，下平板电容器用于放置待检测的LED芯片；导电部和下平板电容器用于分别与电压源的两端电连接；检测机构设于底座，检测机构位于下平板电容器和底座之间，用于检测LED芯片的发光情况；其中，驱动机构带动导电部移动至与下平板电容器正对时，以使位于下平板电容器上的LED芯片导通发光。本发明技术方案不受电容供电电源的影响还能提高LED芯片非接触式检测装置的检测效率。
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公开(公告)号：CN117849048A
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202311740965.X
申请日：2023-12-15
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种晶圆扫描方法、装置、设备及存储介质，属于晶圆扫描技术领域。本发明通过确定晶圆的扫描起点，并基于所述扫描起点进行自动对焦，生成双峰值曲线；在进行晶圆扫描时，根据所述双峰值曲线进行对焦控制；在对焦完成后，检测运动平台的运动位置；计算晶圆扫描的清晰度；通过所述清晰度进行轨迹规划，以完成晶圆扫描，解决了现有图像对焦无法快速判断离焦方向以及在晶圆扫描过程中，边界难以快速稳定判断及路径规划的问题，提高晶圆扫描的效率和效果。
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公开(公告)号：CN117664933A
公开(公告)日：2024-03-08
申请号：CN202410132585.6
申请日：2024-01-31
Applicant: 季华实验室
Abstract: 本发明公开了一种激光光谱检测装置、方法、电子设备及存储介质，属于光谱检测技术领域，该装置包括：摆动工作台，摆动工作台用于放置样品；显微镜系统，显微镜系统位于摆动工作台的上方；倾斜角度检测模块，倾斜角度检测模块位于显微镜系统的一侧，用于检测放置在所述摆动工作台上的所述样品的倾斜角度；光谱仪，光谱仪位于显微镜系统与倾斜角度检测模块相对的另一侧；激光器，激光器位于显微镜系统的上方；主控模块，主控模块与摆动工作台、倾斜角度检测模块、光谱仪均通信连接。本发明实现了对表面不平整样品进行分析时，提高光谱分析精度的技术效果。
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