公开(公告)号：CN119692268B

公开(公告)日：2025-05-16

申请号：CN202510206482.4

申请日：2025-02-25

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 蔡志匡 ,  刘小婷 ,  杨大智 ,  王子轩 ,  刘璐 ,  郭静静 ,  郭宇锋

IPC: G06F30/333

Abstract: 本发明属于超大规模集成电路可测性设计技术领域，公开了一种基于BIST的TSV测试诊断电路及方法，提供了一种用于TSV测试和诊断的硬件电路架构，包含测试访问端口控制器、测试数据寄存器、测试向量生成器、移位寄存器、双边沿触发器、TSV测试控制器和改进的加载芯片包装寄存器、捕获芯片包装寄存器，其中测试访问端口控制器负责配置测试路径、测试模式和测试使能信号，测试使能经双边沿触发器同步后激活TSV测试控制器，控制基于无损压缩结构改进的芯片包装寄存器执行测试，实现故障高效检测与不同故障类型的诊断。本发明通过测试向量生成与响应压缩协作，有效降低了测试时间，为高效、可靠的TSV测试与诊断提供了创新性解决方案。

公开(公告)号：CN119959742A

公开(公告)日：2025-05-09

申请号：CN202510452840.X

申请日：2025-04-11

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 蔡志匡 ,  嵇苏宁 ,  雷鸣飞 ,  杨大智 ,  刘小婷 ,  严大鹏 ,  刘璐 ,  郭宇锋

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/52 ,  G01R31/54

Abstract: 本发明公开了一种用于MIV故障测试的内建自测试电路及MIV故障测试方法，该电路用于在测试模式下检测单片三维集成电路底层与顶层之间的待测MIV阵列，包括测试控制器、地址解码模块、向量发生器、数据传送装置、故障诊断模块和故障定位模块，其中向量发生器用于产生长度为N的1/0序列、0/1序列、00/11序列和11/00序列的测试向量。本发明能够通过两组测试向量快速切换，检测复杂分布的MIV中的开路故障、固定故障、延迟故障和可能出现的短路故障，并对故障MIV进行精确定位。

公开(公告)号：CN118072805B

公开(公告)日：2024-08-13

申请号：CN202410472375.1

申请日：2024-04-19

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 蔡志匡 ,  张学伟 ,  刘小婷 ,  王子轩 ,  严大鹏 ,  郭宇锋

IPC: G11C29/12 ,  G06N3/0464 ,  G06N3/048 ,  G06N3/092

Abstract: 本发明公开了一种存储器测试分组与调度的方法及系统，该方法首先根据存储器的约束条件对存储器进行分类，对于每一类存储器按照存储器之间的位置距离或存储器的层级限制进行分组，测试时每组存储器共享同一个控制器；然后使用强化学习模型对所有存储器进行测试调度，得到最优测试时间下所有存储器的串并行测试方案；该强化学习模型根据存储器的测试功耗和测试时间设置奖励函数；本发明既保证了尽可能少的存储器测试分组数量，减少了额外测试电路的占比，并且在测试功耗的约束下，减少测试时间。

公开(公告)号：CN117872103B

公开(公告)日：2024-05-10

申请号：CN202410269404.4

申请日：2024-03-11

Applicant: 南京邮电大学

Inventor： 蔡志匡 ,  刘小婷 ,  张鲁萍 ,  王子轩 ,  徐彬彬 ,  孙海燕 ,  刘璐 ,  郭宇锋

IPC: G01R31/3185 ,  G11C29/56 ,  G11C29/54

Abstract: 本发明公开了一种通用测试芯粒，用于对若干个待测芯粒进行测试，测试芯粒包括芯粒测试控制电路模块、测试数据分发电路模块、存储器测试配置电路模块和芯粒测试接口电路模块；芯粒测试控制电路模块用于为待测芯粒提供测试数据、配置测试模式；测试数据分发电路模块用于从测试数据总线分发每个所述待测芯粒所需的测试数据；存储器测试配置电路模块用于为待测芯粒的存储器提供测试电路，自动生成测试矢量；芯粒测试接口电路模块用于通过芯粒测试接口为待测芯粒在上下左右任意方向传输测试数据；本发明将芯粒系统所需的共享的测试资源嵌入其中，满足芯粒系统测试即插即用的策略，为芯粒系统提供了全面、灵活、高效的测试方案。