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公开(公告)号:CN1381897A
公开(公告)日:2002-11-27
申请号:CN02113005.1
申请日:2002-05-15
Applicant: 南京大学
Abstract: 基于AlxGa1-xN/GaN异质结的铁电体/半导体存贮器结构及其制法,在蓝宝石衬底上首先用MOCVD技术生长AlxGa1-xN/GaN调制掺杂异质结构,然后在AlxGa1-xN上用PLD技术生长PZT铁电薄膜,最后用电子束蒸发技术分别在AlxGa1-xN层上淀积Ti/Al欧姆接触电极和在PZT层上淀积Al电极。这种结构利用了PZT/AlxGa1-xN界面的高温稳定性,避免了普通的铁电体/SiMFS结构的界面互扩散和界面反应问题。同时,这种结构以AlxGa1-xN/GaN异质界面高浓度、高迁移率的二维电子气为沟道载流子,有利于提高存贮器结构的响应速度等性质。
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公开(公告)号:CN1268783C
公开(公告)日:2006-08-09
申请号:CN200410014336.X
申请日:2004-03-16
Applicant: 南京大学
Abstract: 金属In预沉积生长氮化铟薄膜的方法,用MOCVD生长InN前,先在衬底表面预沉积一层金属In,沉积时温度在300-500℃,然后才同时通入氨气和三甲基铟,继续生长从而得到氮化铟薄膜,生长温度在300-500℃。本发明在衬底表面预沉积适量的金属In,有利于InN的成核和InN成核岛之间的融合。
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公开(公告)号:CN1399308A
公开(公告)日:2003-02-26
申请号:CN02113086.8
申请日:2002-05-31
Applicant: 南京大学
IPC: H01L21/205 , H01L21/365
Abstract: ZnAl2O4/α-Al2O3复合衬底的制备及ZnAl2O4衬底上GaN薄膜生长方法,先将清洗的α-Al2O3衬底送入脉冲激光淀积(PLD)系统制备ZnO薄膜,生长腔内的氧气偏压气氛下生长ZnO薄膜,然后将上步骤中得到的ZnO/α-Al2O3样品放入高温反应炉中,采用氧气作为反应气氛,ZnO和α-Al2O3在高温下反应得到了ZnAl2O4覆盖层,从而得到了ZnAl2O4/α-Al2O3复合衬底;再将ZnAl2O4/α-Al2O3复合衬底送入GaN的MOCVD生长系统,以MOCVD方法生长GaN薄膜。在GaN的生长过程中,不存在氮化物缓冲层的生长,这不仅能提高生长的重复性,而且也提高了GaN生长系统的利用效率。
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