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公开(公告)号：CN115096211B
公开(公告)日：2024-08-27
申请号：CN202210710316.4
申请日：2022-06-22
Applicant: 华侨大学
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种再模糊的共焦差动轴向有效区域提取的三维还原方法，包括拍摄焦面图像、焦前图像、焦后图像三张图像；对焦面图像进行模糊处理，提取焦面图像内的轮廓边缘区域，并提取再模糊图像中的轮廓边缘区域对应区域；分别计算边缘梯度，将边缘灰度梯度和再模糊边缘灰度梯度进行比值运算，并计算离焦深度；提取焦面图像区域深度小于等于焦前图像、焦后图像离焦距离的区域；根据焦前、焦后分别提取的有效区域，进行作差，利用共焦差动轴向响应曲线还原视场内有效测量区域三维形貌；本发明实现了共聚焦差动测量有效测量区域的提取，提供了一种实现共焦差动测量的三维形貌的准确还原新方法，且可应用于不同共聚焦测量系统，具有一定的普适性。
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公开(公告)号：CN116124778A
公开(公告)日：2023-05-16
申请号：CN202310132487.8
申请日：2023-02-20
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明公开一种差动共焦轴向有效测量区域判定装置、方法及系统，涉及共聚焦显微测量领域，方法包括：获取被测样品的表面图像以及预设轴向测量范围；根据预设轴向测量范围，提取差动图像的标准测量灰度区间，并确定焦前图像的第一可测量灰度区间和焦后图像的第二可测量灰度区间；剔除差动图像中标准测量灰度区间以外的图像区域；将第一可测量灰度区间和第二可测量灰度区间作交集运算；根据交集灰度区间过滤掉剔除后的差动图像中的无效测量区域，将剔除后的差动图像中的有效测量区域作为差动共焦轴向测量方法的有效测量区域。本发明的方法能够预判差动共焦轴向测量方法的有效测量区域，提高了差动共焦轴向测量方法在实际测量过程中数据真实性。
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公开(公告)号：CN115128763A
公开(公告)日：2022-09-30
申请号：CN202210821339.2
申请日：2022-07-13
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明提供一种差动式的自动对焦的测量方法，包括光源发射对焦光线，穿过矫直透镜组将光源所产生的光线进行矫直产生平行光线，再经过第一分光镜将平行光线进行反射，通过物镜汇聚在样品的表面，样品表面将对焦光线进行反射，通过物镜将对焦光线转为平行光，穿过分光镜，经过物镜对焦光线开始汇聚，利用第二分光镜将管镜产生的汇聚光线分向第一感光器件和第二感光器件，通过第一感光器件与第二感光器件的光强差判断样品的离焦量，若光强差为0，则实现对焦。本发明方法只需采集一次图像便可求出被测物品的离焦量，实现了快速对焦，提高了对焦的精准性。
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公开(公告)号：CN115115689A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210640198.4
申请日：2022-06-08
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
Abstract: 本发明提供了一种多波段光谱的深度估计方法，包括如下步骤：步骤1：用相机拍摄不同波段的原始图像P0(x,y)、P1(x,y)、···、Pi(x,y)，其中i表示不同波段；步骤2：以单一波段原始图为输入，以h(x,y)为卷积核，根据图像卷积公式P'(x,y)＝P(x,y)*h(x,y)，得到卷积后的模糊图像P'(x,y)；步骤3：分别计算原始图像P(x,y)和模糊图像P'(x,y)的边缘，根据得到边缘区域计算原始边缘梯度PE_G(x,y)和模糊边缘梯度P'E_G(x,y)；步骤4：将原始图像边缘PE_G(x,y)除以模糊边缘梯度P'E_G(x,y)，得原始图像和边缘图像的模糊比值σ(x,y)；步骤5：根据所得模糊比值σ(x,y)根据透镜成像公式计算稀疏深度；步骤6：对后续的波段原始图像分别再重复上述2‑5的步骤，并结合每个波段的聚焦位置，实现图像中的真实结构位置约束。
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公开(公告)号：CN115406368B
公开(公告)日：2024-07-12
申请号：CN202210935692.3
申请日：2022-08-04
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
IPC: G01B11/12 , G06T7/136 , G06T3/4038
Abstract: 本发明提供一种大范围曲面圆孔测量方法，确定轴向扫描次数、X向扫描最小次数以及Y向扫描最小次数，采用横向扫描采图外加纵向扫描采图的扫描方法，并采用图像中单位范围内环形分割加环形拼接，多阈值分层式计算直径；测量速度快，测量精度高，可以达到工业快速检测的要求，且测量方法鲁棒性强，可以大批量测出大变化范围孔径。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115200508B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202210898541.5
申请日：2022-07-28
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种面阵式超精密彩色共聚焦显微镜三维测量装置，包括面阵式多焦点多窄带波段复合照明光源模块、纵向色散增强型光学显微成像模块、多窄带波段图像获取模块、图像分析与系统控制模块；来自面阵式多焦点多窄带波段复合照明光源模块的光照射到待测样品上，从待测样本反射的光经过纵向色散增强型光学显微成像模块后进入多窄带波段图像获取模块，所述多窄带波段图像获取模块获取的图像信息进入到图像分析与系统控制模块。本发明提供的方法，能够实现高精度、大范围、高效率的微观三维形貌检测。
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公开(公告)号：CN115200507B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202210898540.0
申请日：2022-07-28
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种多波段差动共聚焦显微3D测量方法，包括：系统开机、样本放置以及超精密三维显微闪测步骤，首先在多窄带波段成像模块中的黑白相机形成波段为相应波段的多光谱共聚焦图像，其次构建差动信号步骤,将N个多光谱共聚焦图像相邻波段两两做差构建N‑1个差动信号，采用实际测量获得的N‑1个差动信号强度并对应预先刻度所获得的差动信号强度与高度线性关系曲线，获得样本表面高度；实现精密乃至超精密且超快的显微3D测量，且能够进行高精度、大范围、高效率的微观三维形貌检测。
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公开(公告)号：CN115015200B
公开(公告)日：2024-06-25
申请号：CN202210662325.0
申请日：2022-06-13
Applicant: 华侨大学 , 宁波五维检测科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种基于空间光调制的纳米精度荧光成像装置，其特征在于，所述基于空间光调制的纳米精度荧光成像装置包括激发模块、激活模块、成像模块，其中激发模块、激活模块含有单个微元可调的空间光调制器，激发模块整形出射的激发光线与激活模块整形出射的激活光线合并，得到合并光线，合并光线经放大后以纳米尺寸照射到样品上并通过成像模块进行成像；本发明提供的装置实现无机械运动、无激光扫描的新型激光光斑调制，能够分辨单个荧光分子或者亚细胞精细结构，大幅降低了荧光成像装置的复杂度，提高了定位和成像效率。
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公开(公告)号：CN115128762B
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN202210821316.1
申请日：2022-07-13
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明提出了一种基于光强梯度数的自动对焦测量方法，利用了PSF函数的图像特性并用拟合函数进行了拟合，对不同离焦量下的光点图像利用拟合函数进行拟合，并求一阶导函数；将一阶导函数的极值做差，可得到离焦量—导函数极值差的函数曲线；将离焦量—导函数极值差的函数曲线，利用拟合函数进行拟合；得到标定好的离焦量—导函数极值差函数，通过找寻不同离焦量下所拟合高斯函数存在一阶导函数极值差存在差异的特性，绘制出离焦量—一阶导函数极值差的函数曲线，提高了对焦的精准性，并实现了快速对焦，同时也提高了普适性。
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公开(公告)号：CN116045842A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202211629568.0
申请日：2022-12-19
Applicant: 华侨大学
Abstract: 本发明提供一种基于差动并行共聚焦的3D测量误差修正方法及系统，属于光学显微成像领域，方法包括：分别采集第一波段及第二波段照明下待测样本的共焦图、第三波段及第四波段照明下待测样本的宽场图，得到第一波段共焦图、第二波段共焦图、第三波段宽场图及第四波段宽场图；根据第一波段共焦图及第三波段宽场图确定第一波段修正图；根据第二波段共焦图及第四波段宽场图确定第二波段修正图；将第一波段修正图与第二波段修正图相减得到差动信号图；根据差动信号轴向响应曲线将差动信号图转换为高度图，以测量待测样本的表面高度。有效消除了差动信号受到光照不均及样本反射率不均等的影响，提高了多波段差动并行共聚焦3D测量结果的精度。
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