一种易移植的通用伺服控制软件在线编程设计方法

    公开(公告)号:CN117420997A

    公开(公告)日:2024-01-19

    申请号:CN202311314815.2

    申请日:2023-10-11

    Abstract: 本发明涉及一种易移植的通用伺服控制软件在线编程设计方法,操作机将不同CPU或MCU的文件转化成预定义文件发送给目标机,所述文件为编程文件或参数文件;目标机对接收到的文件进行校验,校验通过后根据约定好的样式解析文件,将解析得到的数据固化到文件规定的地址中;操作机回读目标机存储区的数据,对其进行校验;目标机启动时,自己校验存储区的数据;操作机与目标机通过数据互联模型进行交互。本发明实现了伺服系统开发软件的跨平台、跨总线的在线编程和升级,降低了程序开发难度、有效缩短了研发周期,能够快速、敏捷地响应市场需求。

    伺服软件用户接口协议的在线配置方法及装置

    公开(公告)号:CN116527794A

    公开(公告)日:2023-08-01

    申请号:CN202310294386.0

    申请日:2023-03-24

    Abstract: 本公开伺服软件用户接口协议的在线配置方法,通过根据基于1553B通信的协议定义格式对所述伺服软件用户接口协议进行参数化定义,得到所述伺服软件用户接口协议参数;将所述伺服软件用户接口协议参数装订至所述伺服软件的FLASH区;从所述FLASH区下载所述伺服软件用户接口协议参数至所述伺服软件,所述伺服软件基于1553B通信协议定义格式和1553B通信协议字典映射对所述用户接口协议通信模块进行初始化,完成所述伺服软件用户接口协议在线配置。能够可定制扩展伺服软件的用户接口通信协议,无需单独编程伺服软件用户接口协议便可满足绝大部分型号需求,能够解决伺服软件通信协议繁杂多样的问题。

    插屉式水冷电控柜组件
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114006285A

    公开(公告)日:2022-02-01

    申请号:CN202111010243.X

    申请日:2021-08-31

    Abstract: 本发明提供了一种插屉式水冷电控柜组件,包括:箱体,箱体具有容纳空间和开关门;驱动单元,驱动单元安装在容纳空间内;控制单元,控制单元安装在容纳空间内并与驱动单元相隔离,水冷单元,水冷单元设置在容纳空间内,驱动单元与水冷单元相邻设置以对驱动单元进行换热。箱体的容纳空间中有隔板,隔板竖直固定连接在容纳空间内,将容纳空间分隔为前容纳空间和后容纳空间,驱动单位位于后容纳空间,控制单元位于前容纳空间水冷单元。隔板和箱体通过铸造一体成型。本发明的技术方案有效地解决了现有技术中电控柜组件的电磁兼容性、维护性和抗振动力差的问题。

    一种板材平面度测量用的支架式检测平台

    公开(公告)号:CN202947726U

    公开(公告)日:2013-05-22

    申请号:CN201220674251.4

    申请日:2012-12-07

    Abstract: 本实用新型提供一种板材平面度测量用的支架式检测平台,其包括平面状的基体和若干个排列固定在基体上方的地脚支架;所述的每个地脚支架均包括一个圆盘形的支架底座,支架底座通过底座固定螺钉固定在基体上表面,支架底座的中心处向上延伸一个带有内螺纹的底座立柱,一个带有外螺纹的圆头支撑螺栓通过螺纹装配在底座立柱的顶端,通过螺纹旋转来调节圆头支撑螺栓的高度;圆头支撑螺栓通过设置在底座立柱侧部的锁紧螺丝锁紧固定。本实用新型所述的支架式检测平台与传统的检测平台制造成本低,结构简单;安装调试快捷方便,易于维护;可以轻易移动平台的位置;根据需求的不同,可以随意的选择平台的尺寸。

    一种多通道可配置通用控制器批量测试仪

    公开(公告)号:CN209356606U

    公开(公告)日:2019-09-06

    申请号:CN201821861789.X

    申请日:2018-11-12

    Abstract: 一种多通道可配置通用控制器批量测试仪,涉及伺服控制器的功能和性能测试领域;包括信号调理箱、n个航空插头、耦合器、n条线缆、选择开关、信号隔离调理单元、电压表和n个电流表;n个航空插头均匀分布在信号调理箱的侧壁;耦合器同时与选择开关和外部工控机连通;n条线缆的一端分别对应与外部n个待测控制器连通;另一端分别对应n个航空插头伸入信号调理箱内部,且与选择开关对应设置;电压表和n个电流表均设置在信号调理箱的外壁;信号隔离调理单元的一端与n个待测控制器连通;信号隔离调理单元的另一端与外部工控机连通;本实用新型保证了伺服控制器的状态正确性与有效性,提高产品生产效率以及大型试验的成功率。

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