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公开(公告)号：CN105277863A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201410341436.7
申请日：2014-07-17
Applicant: 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种功率放大器老化装置，该装置包括老化电路板和老化电路；老化电路板包括插卡、老化板、老化夹具和测试端，老化夹具位于老化板上，通过老化板上布线与插卡连接，待老化功率放大器通过老化夹具接入老化电路；老化夹具包括下基座、上基座、引脚和插针，在上、下基座装配中，位于下基座凹槽中的引脚闭合，压紧待老化功率放大器引线，插针焊接在引脚底部，与老化板上布线相连；外部信号发生器产生信号，加载于待老化功率放大器，经电流放大后，由待老化功率放大器输出，输出信号通过老化板上布线传输到测试端，对待老化功率放大器进行监测；本发明解决了功率放大器老化时结温控制问题和插拔对引线镀层损伤问题，提高了老化筛选效率。
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公开(公告)号：CN103592035B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201310553201.X
申请日：2013-11-08
Applicant: 中国运载火箭技术研究院 , 中国兵器工业集团第二一一研究所
Abstract: 本发明属于红外探测器领域，具体涉及一种红外焦平面探测器组件剂量率试验方法。目的是对组件进行有效的剂量率辐射试验。该试验方法，包括如下步骤：组件敏感部位分析；预定剂量率并进行累积总剂量评估；选择合格的组件样品，进行光电性能测试；调试试验测试系统并粘贴剂量片；按预设剂量率对某个敏感部位进行辐照，测试工作电流、温度、输出波形；保持组件偏置状态，按先后顺序记录组件试验前、中、后三个时刻点的工作电流、工作温度和输出波形；获得辐照后器件的恢复时间；判断组件功能是否正常及是否为有效炮。该方法克服了剂量率辐射场有效区域的限制，避免了因辐照试验条件的不足，如辐射源有效辐射范围小或辐射剂量率不足够高等问题。
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公开(公告)号：CN112182805B
公开(公告)日：2022-12-13
申请号：CN202011083059.3
申请日：2020-10-12
Applicant: 中国运载火箭技术研究院
IPC: G06F30/17 , G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本申请实施例提供一种机械产品可靠性确定方法及系统、终端、存储介质，涉及武器装备可靠性工程领域，用于克服相关技术中机械产品可靠性确定的分析结果精度较低的问题。机械产品可靠性确定方法包括：识别基于目标产品的可靠性极限状态函数中的区间变量；基于变量为区间变量的区间不确定参数多项式响应面模型确定响应面函数；根据响应面函数及仿射理论确定初始区间仿射响应面模型及待定系数；对初始区间范围进行平均分割，以得到等宽度的子区间，并确定子区间内的区间仿射响应面模型及各子区间对应的子响应区间；根据子响应区间确定满足预设收敛条件的最终输出响应区间；根据最终输出响应区间及待定系数确定产品非概率可靠性指标。
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公开(公告)号：CN112182805A
公开(公告)日：2021-01-05
申请号：CN202011083059.3
申请日：2020-10-12
Applicant: 中国运载火箭技术研究院
IPC: G06F30/17 , G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本申请实施例提供一种机械产品可靠性确定方法及系统、终端、存储介质，涉及武器装备可靠性工程领域，用于克服相关技术中机械产品可靠性确定的分析结果精度较低的问题。机械产品可靠性确定方法包括：识别基于目标产品的可靠性极限状态函数中的区间变量；基于变量为区间变量的区间不确定参数多项式响应面模型确定响应面函数；根据响应面函数及仿射理论确定初始区间仿射响应面模型及待定系数；对初始区间范围进行平均分割，以得到等宽度的子区间，并确定子区间内的区间仿射响应面模型及各子区间对应的子响应区间；根据子响应区间确定满足预设收敛条件的最终输出响应区间；根据最终输出响应区间及待定系数确定产品非概率可靠性指标。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105277863B
公开(公告)日：2018-06-01
申请号：CN201410341436.7
申请日：2014-07-17
Applicant: 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01R31/26
Abstract: 本发明公开了一种功率放大器老化装置，该装置包括老化电路板和老化电路；老化电路板包括插卡、老化板、老化夹具和测试端，老化夹具位于老化板上，通过老化板上布线与插卡连接，待老化功率放大器通过老化夹具接入老化电路；老化夹具包括下基座、上基座、引脚和插针，在上、下基座装配中，位于下基座凹槽中的引脚闭合，压紧待老化功率放大器引线，插针焊接在引脚底部，与老化板上布线相连；外部信号发生器产生信号，加载于待老化功率放大器，经电流放大后，由待老化功率放大器输出，输出信号通过老化板上布线传输到测试端，对待老化功率放大器进行监测；本发明解决了功率放大器老化时结温控制问题和插拔对引线镀层损伤问题，提高了老化筛选效率。
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公开(公告)号：CN103592035A
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201310553201.X
申请日：2013-11-08
Applicant: 中国运载火箭技术研究院 , 中国兵器工业集团第二一一研究所
Abstract: 本发明属于红外探测器领域，具体涉及一种红外焦平面探测器组件剂量率试验方法。目的是对组件进行有效的剂量率辐射试验。该试验方法，包括如下步骤：组件敏感部位分析；预定剂量率并进行累积总剂量评估；选择合格的组件样品，进行光电性能测试；调试试验测试系统并粘贴剂量片；按预设剂量率对某个敏感部位进行辐照，测试工作电流、温度、输出波形；保持组件偏置状态，按先后顺序记录组件试验前、中、后三个时刻点的工作电流、工作温度和输出波形；获得辐照后器件的恢复时间；判断组件功能是否正常及是否为有效炮。该方法克服了剂量率辐射场有效区域的限制，避免了因辐照试验条件的不足，如辐射源有效辐射范围小或辐射剂量率不足够高等问题。
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公开(公告)号：CN205104645U
公开(公告)日：2016-03-23
申请号：CN201520795691.9
申请日：2015-10-15
Applicant: 中航光电科技股份有限公司 , 中国运载火箭技术研究院
IPC: H01R13/405
Abstract: 本实用新型涉及电连接器领域，特别是涉及到一种耐宽温的高低频混装连接器。该混装连接器包括壳体、低频接触件和高频接触件，所述壳体内的两端之间设有安装壁，所述安装壁上设有接触件安装孔，低频接触件和高频接触件各自通过相应的玻璃绝缘体固定装配在对应的接触件安装孔中。该连接器相当于减小了每个玻璃绝缘体的体积、受力面积以及与壳体的配合面积，在使用的时候，安装壁首先可分担部分压力，受力面积减小后的玻璃绝缘体所受的压力也相应的减小，另外，玻璃绝缘体的体积减小也使得其热胀冷缩的反应相应的减小，降低了其与壳体分离的几率。综上所述，该耐宽温的高低频混装连接器解决了现有的采用玻璃绝缘体的电连接器容易气密封失效的问题。
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公开(公告)号：CN202947726U
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN201220674251.4
申请日：2012-12-07
Applicant: 中国运载火箭技术研究院
IPC: G01B21/30
Abstract: 本实用新型提供一种板材平面度测量用的支架式检测平台，其包括平面状的基体和若干个排列固定在基体上方的地脚支架；所述的每个地脚支架均包括一个圆盘形的支架底座，支架底座通过底座固定螺钉固定在基体上表面，支架底座的中心处向上延伸一个带有内螺纹的底座立柱，一个带有外螺纹的圆头支撑螺栓通过螺纹装配在底座立柱的顶端，通过螺纹旋转来调节圆头支撑螺栓的高度；圆头支撑螺栓通过设置在底座立柱侧部的锁紧螺丝锁紧固定。本实用新型所述的支架式检测平台与传统的检测平台制造成本低，结构简单；安装调试快捷方便，易于维护；可以轻易移动平台的位置；根据需求的不同，可以随意的选择平台的尺寸。
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公开(公告)号：CN202240181U
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN201120336363.4
申请日：2011-09-08
Applicant: 北京市半导体器件六厂 , 中国运载火箭技术研究院 , 陈文卿 , 吴文俊 , 张柏生
IPC: B23K35/00 , H01L23/488
Abstract: 本实用新型涉及一种应用于微电子封装技术的三层金属复合焊片，该复合焊片由三层金属结构复合构成，第一层和第三层均为银铜锡合金片，第二层为熔接设置在第一层银铜锡合金片和第三层银铜锡合金片之间的银片，银片分别与第一层的银铜锡合金片和第三层的银铜锡合金片的接合面相互熔接在一起。本实用新型所述的金属复合焊片用于玻璃封装二极管的芯片焊接，和微电子元件、半导体芯片与引线端之间的焊接，焊接牢固，提高了微电子元件封装的可靠性。
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