一种晶体振荡器用减振装置及电子设备

    公开(公告)号:CN116906497A

    公开(公告)日:2023-10-20

    申请号:CN202310866518.2

    申请日:2023-07-14

    Abstract: 本发明涉及电子元器件技术领域,尤其涉及一种晶体振荡器用减振装置及电子设备,旨在缓解现有减振方法达不到预期要求的技术问题。该晶体振荡器用减振装置包括配重支架、底座和钢丝绳;配重支架放置于底座,用于固定承载晶体振荡器的电路板,并设有容纳空间,以用于容纳电路板;钢丝绳处于容纳空间外,固定连接并涨紧于配重支架与底座之间,以将配重支架紧固于底座。该电子设备包括晶体振荡器用减振装置。通过该晶体振荡器用减振装置,缓解了振动环境下晶体振荡器相位噪声恶化的问题,可以提高整体稳定性。

    一种梳状谱信号发生器
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114520648A

    公开(公告)日:2022-05-20

    申请号:CN202111641318.4

    申请日:2021-12-29

    Abstract: 本发明涉及信号源技术领域,尤其涉及一种梳状谱信号发生器,该信号发生器包括壳体、盖板、电路板以及设置于电路板上的电源电路、晶体振荡器、频率转换电路、放大电路、滤波电路和合路器;本发明的梳状谱信号发生器,通过晶体振荡器发射频率信号,频率转换电路将晶体振荡器发射的频率信号,转换成多路所需设定的频率信号输出,多路所需设定的频率信号经放大电路放大以及滤波电路滤波后,进入合路器合成一路信号输出;输出信号稳定且功率大,同时输出信号功率差异小、谱线一致性好,且调试方便、功耗低。另外,电路板整体置于密闭的金属壳体中,屏蔽性好且安装方便。

    一种晶体振荡器测试装置
    13.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108957277B

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN201810833050.6

    申请日:2018-07-26

    Abstract: 本发明公开一种晶体振荡器测试装置,包括:底座;对称设置于所述底座上的支架;穿设于所述支架之间并伸出所述支架两侧的旋转轴;设置于所述旋转轴上的安装板;以及固定于所述支架内侧的圆盘;其中,所述安装板用于承接所述晶体振荡器,所述圆盘位于所述支架与所述安装板之间,所述圆盘与所述旋转轴同心设置,所述圆盘上设置有以圆心为中心轴向对称均匀分布的多个调节孔。本发明提高了测试的精确度以及测试效率。

    一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具

    公开(公告)号:CN112649680A

    公开(公告)日:2021-04-13

    申请号:CN202011558279.7

    申请日:2020-12-25

    Abstract: 本发明公开了一种晶体振荡器动态相位噪声测试夹具,该测试夹具包括壳体和装在壳体内的振动测试电路板,壳体上设有安装被测晶体振荡器的凹槽,凹槽底部设有与振动测度电路板连通的通孔,振动测试电路板上固定有插装被测晶体振荡器上引脚的插孔,插孔内设有与被测晶体振荡器上引脚固定相接的插针,振动测试电路板上还连接有伸出壳体的电源线和测试电缆线。本发明通过增加振动测试电路板,将电源线、测试电缆线与电路板相连,而非直接与被测晶体振荡器连接,连接更为稳固可靠,减少了线缆软连接引入的噪声干扰,提升了测试可靠性。

    一种新型抗冲击倍频晶振装置
    16.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118041240A

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202311822827.6

    申请日:2023-12-27

    Abstract: 本发明提供了一种新型抗冲击倍频晶振装置,包括:用于使输出信号频率等于输入信号频率整数倍的倍频电路单元;用于供各种频率、波形和输出电平电信号的信号发生单元,所述信号发生单元和所述倍频电路单元连接;容纳单元,沿其部分周向设有缓冲件,所述倍频电路单元和所述信号发生单元分别设置于所述容纳单元内,其中,所述信号发生单元与所述缓冲件抵接。实现了能够集成倍频模块,也兼顾对抗冲击性能。

    一种稳压器筛选方法、测试装置及筛选系统

    公开(公告)号:CN114442721B

    公开(公告)日:2024-03-19

    申请号:CN202111523698.1

    申请日:2021-12-14

    Abstract: 本发明公开了一种稳压器筛选方法、测试装置及筛选系统,在一个具体的实施例中,所述稳压器筛选方法包括:通过插拔方式将待测三端稳压器和晶体振荡器与测试装置连接,所述测试装置的输出端通过SMA转接头与所述相位噪声测试仪连接;判断所述相位噪声测试仪的测试结果是否满足所述晶体振荡器的相位噪声指标,若满足,则所述待测三端稳压器合格。本发明通过测试装置依次连接三端稳压器、晶体振荡器和相位噪声测试仪,在装机前对晶体振荡器用三端稳压器进行相位噪声筛选测试,测试方面快捷,不损伤器件,解决了由于频繁拆装对稳压器造成的伤害。

    一种恒温晶体振荡器及组装测试方法

    公开(公告)号:CN116111954A

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN202211732664.8

    申请日:2022-12-30

    Abstract: 本发明公开一种恒温晶体振荡器及组装测试方法,涉及晶体振荡器技术领域,以解决传统振荡器在组装测试性能指标时,需要多次更换安装内部元器件,直至符合测试指标,每次均需要拆卸、安装,不仅繁琐复杂,也会影响连接可靠性的技术问题。装置包括:封闭壳体、恒温腔、石英振荡器、振荡电路板、控温电路板、放大电路板以及组合式连接件;放大电路板安装在封闭壳体内腔的底部,控温电路板通过组合式连接件安装在放大电路板上,恒温腔通过螺钉安装在振荡电路板和控温电路板之间,石英振荡器安装在恒温腔的空腔内,并与振荡电路板电连接。上述恒温晶体振荡器结构紧凑,调试方便,易于组装,缩短了调试的时间,具有很强实用性。

    一种稳压器筛选方法、测试装置及筛选系统

    公开(公告)号:CN114442721A

    公开(公告)日:2022-05-06

    申请号:CN202111523698.1

    申请日:2021-12-14

    Abstract: 本发明公开了一种稳压器筛选方法、测试装置及筛选系统,在一个具体的实施例中,所述稳压器筛选方法包括:通过插拔方式将待测三端稳压器和晶体振荡器与测试装置连接,所述测试装置的输出端通过SMA转接头与所述相位噪声测试仪连接;判断所述相位噪声测试仪的测试结果是否满足所述晶体振荡器的相位噪声指标,若满足,则所述待测三端稳压器合格。本发明通过测试装置依次连接三端稳压器、晶体振荡器和相位噪声测试仪,在装机前对晶体振荡器用三端稳压器进行相位噪声筛选测试,测试方面快捷,不损伤器件,解决了由于频繁拆装对稳压器造成的伤害。

    一种新型的温度补偿晶体振荡器

    公开(公告)号:CN112671340A

    公开(公告)日:2021-04-16

    申请号:CN202011516593.9

    申请日:2020-12-21

    Abstract: 本发明公开一种新型的温度补偿晶体振荡器,包括晶体振荡器本体和增强型阻容感补偿网络;增强型阻容感补偿网络由支路Ⅰ、支路Ⅱ和支路Ⅲ组成,三个支路之间通过串并联连接在一起,支路Ⅰ由一个热敏电阻、一个固定电阻和一个电容组成;支路Ⅱ由一个热敏电阻、一个固定电阻和一个电容组成;支路Ⅲ由一个热敏电阻、一个固定电阻和一个电感组成。本发明通过增强型阻容感补偿网络来实现温度补偿,在保证低相位噪声基础上有效解决传统补偿方法对所用晶体谐振器频率温度特性要求严苛的难题,有效拓宽实现良好补偿的温度范围,降低对频率牵引力的要求,获得一种宽温度范围频率温度稳定度良好、低相位噪声的小型化温度补偿晶体振荡器。

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