一种基于斜向ZnO纳米线阵列调制的AlGaN/GaN紫外探测器及其制备方法

    公开(公告)号:CN107039558A

    公开(公告)日:2017-08-11

    申请号:CN201710281827.8

    申请日:2017-04-26

    CPC classification number: H01L31/1129 H01L31/035227 H01L31/18

    Abstract: 本发明提供了一种基于斜向ZnO纳米线阵列调制的AlGaN/GaN紫外探测器,包括无栅的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管和生长在无栅的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管栅极区域的斜向ZnO纳米线阵列;所述无栅的AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管中的GaN外延层为半极性面(11‑22)的GaN层;所述GaN外延层包括GaN缓冲层、GaN沟道层和GaN帽层;所述GaN沟道层位于GaN缓冲层的上表面;所述斜向ZnO纳米线阵列与栅极区域的平面夹角为30~35°。本发明通过在无栅的高电子迁移率晶体管的栅极区域斜向生长ZnO纳米线阵列,提高探测器的探测效率,实现对紫外光强度的实时、精准、高效检测。

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