公开(公告)号：CN106888082B

公开(公告)日：2019-09-10

申请号：CN201510946603.5

申请日：2015-12-16

Applicant: 北京京航计算通讯研究所

Inventor： 陈钢 ,  闫昆 ,  李娜 ,  魏伟波 ,  魏鑫 ,  张志刚 ,  王杰 ,  王颖 ,  舒毅 ,  吕宗辉 ,  于润泽

IPC: H04L9/06

Abstract: 本发明实施例公开的用于加密解密的方法和处理器，涉及加密解密技术，有效减少AES在FPGA的实现中占用的逻辑单元数。把输入数据存放在输入数据寄存器中，更新数据存储地址addr＝addr1+addr8；如循环计数器小于该指令中的循环计数，变址寄存器和循环计数器分别加一，然后转移到addr8指定的指令地址，循环计数器置0，实现0到15范围内的循环操作；在进行寄存器写操作的同时把该寄存器原有数据保留到另一个寄存器，把存储器到寄存器的读取操作和该寄存器到另一寄存器的写操作组合在同一条指令中，用6条指令实现一个16次循环的程序块，用于加密解密。

公开(公告)号：CN109471761A

公开(公告)日：2019-03-15

申请号：CN201811265820.8

申请日：2018-10-29

Applicant: 北京京航计算通讯研究所

Inventor： 康建涛 ,  刘伟 ,  魏伟波 ,  安鹏伟 ,  刘博 ,  杨艳丹 ,  闫腾 ,  王洋 ,  刘胤龙 ,  林雨竹 ,  李显坤 ,  高召彤 ,  刘晓晨 ,  宋志强 ,  陈建任

IPC: G06F11/22 ,  G06F11/263

Abstract: 本发明属于软件测评技术领域，具体涉及一种应用FPGA的嵌入式实时操作系统时间性能测试系统。为准确测量嵌入式实时操作系统的时间性能指标，本发明提供了一种嵌入式操作系统时间性能测量系统，其通过FPGA触发激励信号及测量参数配置，目标机上时间性能测试程序运行，FPGA接收响应信号，FPGA计算时间间隔，时间间隔数据存储和数据据转发至上位机，上位机进行时间性能分析。本发明技术方案采用FPGA测量与目标机测试功能相结合的测试方案，将计时功能与外部激励由FPGA实现，减少测试程序中的系统调用，减小信号延迟时间，提高了嵌入式实时操作系统时间性能测试的灵活性。

公开(公告)号：CN106888082A

公开(公告)日：2017-06-23

申请号：CN201510946603.5

申请日：2015-12-16

Applicant: 北京京航计算通讯研究所

Inventor： 陈钢 ,  闫昆 ,  李娜 ,  魏伟波 ,  魏鑫 ,  张志刚 ,  王杰 ,  王颖 ,  舒毅 ,  吕宗辉 ,  于润泽

IPC: H04L9/06

Abstract: 本发明实施例公开的用于加密解密的方法和处理器，涉及加密解密技术，有效减少AES在FPGA的实现中占用的逻辑单元数。把输入数据存放在输入数据寄存器中，更新数据存储地址addr＝addr1+addr8；如循环计数器小于该指令中的循环计数，变址寄存器和循环计数器分别加一，然后转移到addr8指定的指令地址，循环计数器置0，实现0到15范围内的循环操作；在进行寄存器写操作的同时把该寄存器原有数据保留到另一个寄存器，把存储器到寄存器的读取操作和该寄存器到另一寄存器的写操作组合在同一条指令中，用6条指令实现一个16次循环的程序块，用于加密解密。

公开(公告)号：CN103617121A

公开(公告)日：2014-03-05

申请号：CN201310653803.2

申请日：2013-12-09

Applicant: 北京京航计算通讯研究所

Inventor： 吕宗辉 ,  蔡德胜 ,  刘玉峰 ,  王雅楠 ,  张明敏 ,  魏伟波 ,  刘军 ,  李娜 ,  杨志国 ,  张磊

IPC: G06F11/36

Abstract: 本发明属于一种嵌入式软件测试方法，具体涉及一种基于NI平台的AD/DA接口故障模型搭建方法，它包括如下步骤，1)针对被测试软件的交联环境及故障注入要求，设置不同的故障注入数据参数及故障注入文件；2)将故障注入数据参数及故障注入文件共同配置到故障注入工具；3)根据被测试软件的交联环境及AD/DA故障注入工具交联要求，连接开展测试。本发明的优点是，它能够模拟AD/DA故障从而提高测试充分性的途径和方法，并最终提高嵌入式软件动态测试关于AD/DA用例执行充分性的质标。