一种防止门控时钟毛刺的电路

    公开(公告)号:CN101350612B

    公开(公告)日:2010-08-04

    申请号:CN200710119119.0

    申请日:2007-07-16

    Inventor: 郑晓光

    Abstract: 本发明提出一种防止门控时钟毛刺的电路,用于低功耗设计时需要进行停时钟处理的电路中。本发明利用不同的时钟边沿进行时钟切换控制,有效消除时钟切换过程中可能出现的竞争,从而达到防止对时钟进行门控时出现毛刺的目的。停时钟是低功耗设计中常用的手段,在停时钟与重新供给时钟的切换过程中,时钟信号上会出现毛刺。利用本发明给出的电路,可以防止时钟切换时出现毛刺,提高电路的稳定性与可靠性。

    一种提高IO速度的电路
    12.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101751595A

    公开(公告)日:2010-06-23

    申请号:CN200810227989.4

    申请日:2008-12-04

    Abstract: 本发明提出了一种能提高IO速度的电路结构,即开漏结构外加“0-1”电平转换时一个时钟周期的加速转换脉冲,并带上拉电阻与三态传输门的结构,包括三态双向开漏IO PAD、生成三态门使能信号(ENO)的一组逻辑门电路。这种电路结构能够使IO输出数据发生“0-1”电平转换时,输出一个周期的强驱动高电平,也即缩短了电平的上升时间,有效地提高了7816串口的通信速度。

    一种防止门控时钟毛刺的电路

    公开(公告)号:CN101350612A

    公开(公告)日:2009-01-21

    申请号:CN200710119119.0

    申请日:2007-07-16

    Inventor: 郑晓光

    Abstract: 本发明提出一种防止门控时钟毛刺的电路,用于低功耗设计时需要进行停时钟处理的电路中。本发明利用不同的时钟边沿进行时钟切换控制,有效消除时钟切换过程中可能出现的竞争,从而达到防止对时钟进行门控时出现毛刺的目的。停时钟是低功耗设计中常用的手段,在停时钟与重新供给时钟的切换过程中,时钟信号上会出现毛刺。利用本发明给出的电路,可以防止时钟切换时出现毛刺,提高电路的稳定性与可靠性。

    针对DES第二轮L寄存器翻转的功耗攻击方法

    公开(公告)号:CN103647640B

    公开(公告)日:2016-09-14

    申请号:CN201310637160.2

    申请日:2013-12-03

    Abstract: 本发明是一种针对数据加密标准(DES,Data Encryption Standard)第二轮运算中L寄存器翻转的功耗攻击方法。用于信息安全领域中,对DES算法的加密芯片进行安全性测评。本发明特征在于利用功耗攻击的方法对DES加密芯片进行攻击,攻击的对象是DES第二轮运算中L寄存器翻转泄露的功耗信息。利用该功耗信息,与第一轮的中间数据进行相关功耗分析(CPA,Correlation Power Analysis),即可获得DES算法的密钥信息。本发明可用于DES加密芯片防御功耗攻击的安全性测评,提高DES加密芯片的安全性。

    一种提高IO速度的电路
    17.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101751595B

    公开(公告)日:2011-12-07

    申请号:CN200810227989.4

    申请日:2008-12-04

    Abstract: 本发明提出了一种能提高IO速度的电路结构,即开漏结构外加“0—1”电平转换时一个时钟周期的加速转换脉冲,并带上拉电阻与三态传输门的结构,包括三态双向开漏IO PAD、生成三态门使能信号(ENO)的一组逻辑门电路。这种电路结构能够使IO输出数据发生“0-1”电平转换时,输出一个周期的强驱动高电平,也即缩短了电平的上升时间,有效地提高了7816串口的通信速度。

    一种提高接触式智能卡芯片测试速度的电路

    公开(公告)号:CN101751599A

    公开(公告)日:2010-06-23

    申请号:CN200810227990.7

    申请日:2008-12-04

    Inventor: 郑晓光

    Abstract: 接触式智能卡与外界通信时,数据传输的管脚通常使用开漏PAD。开漏PAD的输出从低电平到高电平的转换由上拉电阻完成,导致电平上升时间较长,输出传输速率不高。接触式智能卡芯片的测试电路设计中,为了减少管脚,测试结果输出通常复用通信用的数据传输管脚。但开漏输出对传输速率的影响,使测试的时间加长,增加成本。本发明提出一种提高接触式智能卡芯片测试速度的电路,可以使数据输出管脚在测试模式下工作于强驱动状态,有效提升测试速度。

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