半导体元件的制造方法
    15.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101814699B

    公开(公告)日:2013-02-13

    申请号:CN200910178733.3

    申请日:2009-09-28

    CPC classification number: H01L21/3081 H01L21/32139

    Abstract: 本发明涉及半导体元件的制造方法。具体而言,提供一种以降低的制造成本来制造良好特性的半导体元件的方法。半导体元件的制造方法包括:含GaN的半导体层的形成步骤;电极层形成步骤;在含GaN的半导体层上形成Al膜的步骤;形成由如下材料构成的掩模层的步骤,该材料的蚀刻速率小于Al膜的材料的蚀刻速度;将掩模层用作掩模来形成隆起部的步骤;使Al膜的侧壁的位置相对于掩模层的侧壁的位置凹进的步骤;在隆起部的侧表面和掩模层的顶表面上形成由如下材料构成的保护膜的步骤,该材料的蚀刻速率小于形成Al膜的材料的蚀刻速率;以及去除Al膜并且从而去除掩模层和在掩模层的顶表面上形成的保护膜的部分的步骤。

    制造半导体器件的方法
    18.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101681828A

    公开(公告)日:2010-03-24

    申请号:CN200980000140.6

    申请日:2009-02-12

    CPC classification number: H01L21/3081 H01S5/0425 H01S5/2086

    Abstract: 本发明提供一种制造半导体器件的方法,所述方法包括下列步骤:形成基于GaN的半导体层的步骤(S10);在所述基于GaN的半导体层上形成Al膜的步骤(S20);形成掩模层的步骤(S30、S40),所述掩模层由腐蚀速度比所述Al膜的构成材料小的材料构成;使用所述掩模层作为掩模来部分除去所述Al膜和所述基于GaN的半导体层以形成脊部的步骤(S50);使所述Al膜端部的侧壁位置从所述掩模层的侧壁位置后退的步骤(S60);在所述脊部的侧面和所述掩模层的上表面上形成保护膜的步骤(S70),所述保护膜由腐蚀速度比所述Al膜的构成材料小的材料构成;以及除去所述Al膜以除去所述掩模层和在所述掩模层的上表面上形成的保护膜的步骤(S80)。

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