一种纳米级分辨率集成光学量子温度计

    公开(公告)号:CN109945986A

    公开(公告)日:2019-06-28

    申请号:CN201910255272.9

    申请日:2019-04-01

    Abstract: 本发明公开了一种纳米级分辨率集成光学量子温度计。所述光学量子温度计包括分光检测装置、量子温度感应腔。在特定波长激光激发下,根据SiC晶体产生交叉弛豫(CR)现象时其光致发光(PL)强度显著变化的物理现象,确定CR位置与对应的磁场强度。温度变化1mK时,会导致数nT的磁场频移变化,据此确定不同温度分别对应的CR位置及其磁场强度,构建磁场中CR位置与温度的校准曲线,通过宏/微驱动定位平台实现纳米级空间分辨率,由上位机检测显示PL强度变化得到SiC晶体的CR位置并根据校准曲线获得待测样品材料的温度分布图。本发明基于SiC的自旋和CR现象,空间分辨率达到纳米级,实现了10mK/Hz1/2的温度测量精度,构建了集成光学量子温度计,易于工程化应用。

    一种芯片级原子钟原子气室的MEMS制作方法

    公开(公告)号:CN109782572A

    公开(公告)日:2019-05-21

    申请号:CN201910116017.6

    申请日:2019-02-15

    Abstract: 本发明公开了一种芯片级原子钟原子气室的MEMS制作方法,通过化学反应腔体和原子气室腔体的分离,每一个原子气室腔体都有相对应的冷却小室的陶瓷冷却片的设计,可以使得生产出的每个原子气室碱性原子含量分布均匀且满足CPT共振需求,原子气室透光率大大提高,从而提升原子气室的成品率与CPT共振信号的强度。在本发明中对原子气室的退火工艺也使得刚刚生产出来的原子气室每小时的相对频率漂移从原来的10-7-10-8数量级下降到10-11-10-12数量级,使得芯片原子钟工作更加稳定可靠。

    单像素成像装置及成像方法
    13.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117170205A

    公开(公告)日:2023-12-05

    申请号:CN202311099178.1

    申请日:2023-08-29

    Abstract: 本发明公开了一种单像素成像装置及成像方法,该单像素成像装置包括:光源模块、超表面圆盘、单像素探测器和处理模块。超表面圆盘具有转动自由度,超表面圆盘上设置有用于对激光进行调制并生成哈达玛的超表面,超表面围绕超表面圆盘的轴线设置,在超表面圆盘转动时,激光能够照射于不同的超表面上以形成相应的哈达玛,单像素成像装置能够获取哈达玛并建立哈达玛光场数据库。单像素探测器用于探测哈达玛照射待测物体后产生携带有待测物体的信息的光波的光强,处理模块根据光强和哈达玛光场数据库进行计算得到待测物体的图像。通过上述设置,提高了单像素成像装置的空间光调制速率,且降低了单像素探测器的采样速率要求。

    采样机器人
    14.
    发明公开
    采样机器人 审中-实审

    公开(公告)号:CN117047766A

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN202311100634.X

    申请日:2023-08-29

    Abstract: 本发明公开了一种采样机器人,用于口腔病毒的自动采样,该采样机器人包括:第一相机,第一相机用于获取人脸信息;第二相机,第二相机用于获取口腔信息;移动模块,移动模块具有若干个移动自由度,移动模块上设置有用于采样的采样模块,第二相机设置于移动模块上;处理模块,处理模块电连接至第一相机、第二相机和移动模块;第一相机发送人脸信息至处理模块,第二相机发送口腔信息至处理模块,处理模块根据人脸信息和口腔信息计算采样路径,并通过移动模块控制采样模块沿采样路径移动,以使采样模块到达预设采样位置。通过上述设置,提高了采样路径的准确性,进而提高了采样机器人的采样准确性。

    一种毫牛级压向力的悬臂梁式校准方法

    公开(公告)号:CN115655572A

    公开(公告)日:2023-01-31

    申请号:CN202211327371.1

    申请日:2022-10-27

    Abstract: 本发明公开了一种毫牛级压向力的悬臂梁式校准方法,使用的装置包括:音圈电机、音圈电机动子、第一连接架、第一螺钉、悬臂梁、触点、激光位移传感器、第二连接架、第二螺钉、第三螺钉。控制电流使得音圈电机的动子带动悬臂梁前移压向被校准对象,前移至一定程度悬臂梁发生变形,悬臂梁的挠度由音圈电机光栅尺值减去激光位移传感器数值计算得到,悬臂梁有成熟的力学公式使得力值与挠度一一对应,因此可得到校准装置输出的力值,该力值与被校准对象测得力值比较即可实现校准。将高测量精度的激光位移传感器与不同材料、尺寸的悬臂梁结合,为毫牛级压向力的校准提供了一种结构简单、精确度高、测量量程灵活的新装置,具有较大的应用潜力。

    一种大动态范围高精度力输出装置及方法

    公开(公告)号:CN115542817A

    公开(公告)日:2022-12-30

    申请号:CN202211322999.2

    申请日:2022-10-27

    Abstract: 本发明公开了一种大动态范围高精度力输出装置及方法,使用的装置包括:上位机、音圈电机、压力传感器、音圈电机驱动器、STM32单片机、连接件、ADC芯片、RS‑485通信电缆、RS‑232通信电缆、UART串口线、电线、模拟信号线;其中上位机发送一个指令到STM32单片机,STM32单片机根据该指令给音圈电机驱动器发送指令,音圈电机驱动器输出一个电流控制音圈电机动子移动,固定在动子上的压力传感器随着动子移动直到与物体接触,由压力传感器将模拟信号传输到ADC芯片,ADC芯片进行模数转换后将24位数字信号处理传输出到STM32单片机,STM32单片机使用程序进行数据处理,得出一个力值,将这个力值对应的指令通过RS‑485通信电缆传输到上位机,循环以上几个步骤,直到上位机发送的指令与STM32单片机发送给上位机的指令相同,获得高精度力输出。输出力的范围在0‑10N,精度为1mN。

    一种高速率单光子激光雷达动态成像装置及扫描方法

    公开(公告)号:CN114935766A

    公开(公告)日:2022-08-23

    申请号:CN202210748477.2

    申请日:2022-06-28

    Abstract: 一种高速率单光子激光雷达动态成像装置及扫描方法,所述装置包括激光分束模块、第一收发模块、第二收发模块以及数据处理模块;所述的激光分束模块发出两束不同波段的激光,分别进入第一收发模块以及第二收发模块后出射,第一收发模块以及第二收发模块接收到反射回的脉冲后传输数据至数据处理模块进行处理并成像,所述方法包括粗扫和精扫,第一振镜负责粗扫,第二振镜负责精扫,计算机根据第一振镜的粗扫结果同时控制第二振镜配合扫描同一视场,再将两个振镜的扫描结果结合得到最终的三维图像,本发明在保证整体图像分辨率和扫描距离的基础上提高了单光子激光雷达的动态成像速率,同时也提高了设定距离内存在目标区域的分辨率。

    基于超连续谱激光器的时间分辨拉曼光谱仪

    公开(公告)号:CN114839174A

    公开(公告)日:2022-08-02

    申请号:CN202210235694.1

    申请日:2022-03-11

    Abstract: 本发明公开了一种基于超连续谱激光器的时间分辨拉曼光谱仪,包括脉冲激光系统、光学分光系统、信号采集系统和数据处理系统。本发明以超连续谱激光器为激光源,以片外数字延迟单元为时间门控,以具有时间分辨能力的单光子雪崩二极管(SPAD)阵列作为拉曼信号探测器,通过CMOS SPAD线传感器上集成的片上时间数字转换器(TDC)记录拉曼光谱的时域信息,现场可编程门阵列(FPGA)控制电路对CMOS SPAD线传感器进行信号采集和处理,最后在计算机上进行暗计数去除等数据处理后得到高荧光抑制的时间分辨拉曼光谱。本发明采用超连续谱激光器和单色仪组合的方式,利用不同频率的脉冲激光照射待测样品可以获得更丰富的拉曼光谱和更准确的样品成分信息,具有很好的使用价值和应用前景。

    一种具备光子数分辨能力、低暗计数的单光子探测器

    公开(公告)号:CN112629682A

    公开(公告)日:2021-04-09

    申请号:CN202110048294.5

    申请日:2021-01-14

    Abstract: 本发明是一种具备光子数分辨能力、低暗计数的单光子探测器,包括包括光学系统模块,偏置电压模块,SiPM探测器模块,制冷模块,信号放大模块,脉冲甄别整形模块,FPGA计数模块,光学系统模块扩大单光子探测器感光面积,SiPM探测器模块是小活性区面积的SiPM具备光子数分辨能力和较低暗计数率,偏置电压模块为单光子探测器提供反向偏置电压,最终实现微弱光信号的探测。本发明所述的单光子探测器具有较大感光面积、较低暗记数率以及较高光子数分辨能力的SiPM单光子探测器。

    一种量子芯片检测治具及检测系统

    公开(公告)号:CN112611950A

    公开(公告)日:2021-04-06

    申请号:CN202011351097.2

    申请日:2020-11-26

    Abstract: 一种量子芯片检测治具,包括用于接触量子芯片引脚的第一面,用于输出和输入信号的第二面,以及位于所述第一面和第二面之间的第一再分布连接结构,其中,所述第一面上设有图形化的第一电极,所述第二面上设有图形化的第二电极,所述第一电极和所述第二电极之间由所述第一再分布连接结构相连,使得每个所述第一电极片都有一个对应的第二电极片电连接。通过本发明的检测治具,不仅减少了现有的检测治具的体积,并且由于在测试过程中,检测治具整体可以压覆在待测量子芯片上,因此可以让芯片更有效的固定,以此提高测试过程中的稳定性。同时本发明还提出了一种检测系统。

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