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公开(公告)号：CN112611950A
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN202011351097.2
申请日：2020-11-26
Applicant: 中国计量大学
Abstract: 一种量子芯片检测治具，包括用于接触量子芯片引脚的第一面，用于输出和输入信号的第二面，以及位于所述第一面和第二面之间的第一再分布连接结构，其中，所述第一面上设有图形化的第一电极，所述第二面上设有图形化的第二电极，所述第一电极和所述第二电极之间由所述第一再分布连接结构相连，使得每个所述第一电极片都有一个对应的第二电极片电连接。通过本发明的检测治具，不仅减少了现有的检测治具的体积，并且由于在测试过程中，检测治具整体可以压覆在待测量子芯片上，因此可以让芯片更有效的固定，以此提高测试过程中的稳定性。同时本发明还提出了一种检测系统。
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