公开(公告)号：CN115597727A

公开(公告)日：2023-01-13

申请号：CN202211043995.0

申请日：2022-08-30

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所(CN)

Inventor： 李丹 ,  张学聪 ,  蔡静 ,  温悦 ,  路海晶

IPC: G01J5/80

Abstract: 本发明公开的一种应用于标准光电高温计的多功能测试电路，涉及信号测试技术领域。本发明包括光电探测器、第一开关、校准接口、第二开关、放大器、模拟输出接口、数字电路模块、数字输入接口、机箱接口、机箱。光电探测器的输出信号，通过第一开关连接到校准接口上，再通过第二开关连接到放大器上，放大器通过模拟输出接口输出，模拟输出接口通过线缆与数字电路模块的输入接口相连，模拟输出接口也能够与机箱接口相连，全部电路安装在机箱内部。本发明通过切换不同的连接通路，能够在设备整机组装后不焊开导线或器件的条件下，实现多种测试功能，便于标准光电高温计的使用、调试和故障定位，实现标准光电高温计的高精度测试。

公开(公告)号：CN114509165A

公开(公告)日：2022-05-17

申请号：CN202111563838.8

申请日：2021-12-20

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 张学聪 ,  温悦 ,  蔡静 ,  张岚 ,  李丹 ,  高一凡

IPC: G01J5/00 ,  G01J3/28

Abstract: 本发明公开的一种光谱发射率测量装置及表面温度测量方法，属于辐射测温技术、发射率测量技术领域。本发明的装置主要由镜头和光谱仪或光谱辐射计组成，镜头与光谱仪或光谱辐射计可以直接连接，也可以使用光纤连接。无需其他任何额外的温度测量设备或传感器，仅使用发射率测量所需的、带有镜头的、光谱范围覆盖短波的光谱仪或光谱辐射计作为测量设备，使用3个及以上光谱辐射能量信息，根据普朗克黑体辐射定律建立目标温度与光谱辐射能量的关系，拟合温度T与光谱辐射能量Lλ、波长λ的关系式，即能够准确测算出目标的表面温度，从而获得目标的光谱发射率。本发明不仅能够简化测温设备，还能够提高目标光谱发射率的测量精度。

公开(公告)号：CN106052884B

公开(公告)日：2019-03-08

申请号：CN201610366117.0

申请日：2016-05-28

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 张学聪 ,  张岚 ,  蔡静 ,  孟苏 ,  李丹

IPC: G01J5/52 ,  G01J5/12

Abstract: 本发明涉及一种内锥型均温靶热管黑体，属于辐射测温技术领域；该装置通过将黑体空腔(7)与热管(5)一体化设计，减小了热管与黑体空腔之间的导热损失，提高了加热效率及升温速度；在黑体空腔(7)底部放置内锥型均温靶(4)，使标准热电偶与靶面之间距离尽量小，保证了靶面温度的准确性；同时，内锥型均温靶能够增加标准热电偶或铂电阻的插入深度，减小导热误差；热管(5)采用三段加热，每段的控温传感器(1)均安装在热管外壁面上，其中两段加热包裹在热管的柱体外部，第三段加热为加热盘，放置在热管的底部，分别调整三段的温度，保证黑体空腔的轴向温度场均匀。对比现有技术，本发明内追型均温靶热管黑体温度均匀性好、准确度高。

公开(公告)号：CN117490859A

公开(公告)日：2024-02-02

申请号：CN202311443478.7

申请日：2023-11-01

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 张学聪 ,  李丹 ,  高一凡 ,  蔡静 ,  路海晶 ,  任佳

IPC: G01J5/80 ,  G01J5/08 ,  G01J5/12 ,  G01J5/46

Abstract: 本发明公开了一种用于辐射温度计的环境温度补偿方法及装置，所述方法包括：Sakuma方程修正步骤：将环境温度、辐射温度计零点电压、探测器响应度的温漂修正系数引入Sakuma方程，得到修正后的Sakuma方程；标定步骤：以黑体辐射源作为测量目标，使用辐射温度计在黑体辐射源的三个温度下的输出电压，联立上述修正后的Sakuma方程，求解得到三个待定系数；测试步骤：将求解得到的系数代回修正后的Sakuma方程，使用辐射温度计测量目标得到输出电压，计算出目标温度。本发明能够大幅度降低环境温度对测量结果的影响，提高辐射温度测量准确性。

公开(公告)号：CN115541028A

公开(公告)日：2022-12-30

申请号：CN202211080286.X

申请日：2022-09-05

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 张学聪 ,  蔡静 ,  温悦 ,  高一凡 ,  李丹

IPC: G01J5/08 ,  G01J5/0803 ,  G01J5/90

Abstract: 本发明属于测量装置技术领域，本发明具体公开了一种辐射温度计及光电探测器的动态特性测量装置。本发明动态特性测量装置包括机械快门、光栅盘、电机、测控组件、光电对管、外壳、光源组成，在外壳上设置了被测件安装座和测试孔，辐射温度计或光电探测器安装在被测件安装座上，通过测试孔瞄准光源，对辐射温度计及光电探测器的响应时间、频率特性、动态温度误差进行测量。本发明通过机械快门和光栅盘结合使用，在光栅盘处于不透光的位置打开快门，可准确判断阶跃信号的起始时刻，同时阶跃信号的上升时间控制在毫秒级，能够对毫秒级响应时间的辐射温度计或光电探测器进行测量。

公开(公告)号：CN106969841A

公开(公告)日：2017-07-21

申请号：CN201710352951.9

申请日：2017-05-18

Applicant: 中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

Inventor： 孟苏 ,  张学聪 ,  王苗 ,  李丹 ,  金振涛 ,  蔡静

IPC: G01J5/06

CPC classification number: G01J5/06 ,  G01J2005/065

Abstract: 本发明涉及的是一种基于辐射温度计的源尺寸效应抑制装置，属于辐射测温技术领域。本发明包括光阑反射镜安装盖、光阑反射镜、光阑反射镜安装支架、光路封装筒、消杂光阑和贯通螺纹。与传统的辐射温度计测温光路安装部件相比，本发明的源尺寸效应抑制装置将光阑反射镜及之后的准直汇聚光路整体封装在密闭空间内，避免辐射温度计中其他元件产生的杂散光进入探测器。与单一的消杂光阑安装部件相比，本发明源尺寸效应抑制装置可以在不同位置安装一个或多个不同直径的消杂光阑，对源尺寸效应的抑制效果更好。