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公开(公告)号：CN107924956A
公开(公告)日：2018-04-17
申请号：CN201580082173.5
申请日：2015-10-21
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H01L31/0224 , H01L31/0216 , H01L31/18
Abstract: 太阳能电池的制造方法包括：将具有包含第1浓度的杂质且具有第1电阻值的第1部位(61)和杂质的浓度是高于第1浓度的第2浓度且具有小于第1电阻值的第2电阻值的第2部位(62)的扩散层(6)形成于半导体基板(1)的受光面侧的步骤；将针对第1部位(61)的反射率大于针对第2部位(62)的反射率的检测光(70)照射到扩散层(6)的步骤；以及基于被扩散层(6)的各部位反射的检测光(70)的反射率的差异，检测扩散层(6)中的与第1反射率对应的第1部位(61)和与小于第1反射率的第2反射率对应的第2部位(62)的步骤。
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公开(公告)号：CN101074932A
公开(公告)日：2007-11-21
申请号：CN200710103294.0
申请日：2007-05-15
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G06T7/0004 , G06T2207/30148
Abstract: 本发明提供能够高精度地自动进行与受检物的伤痕、异物混入、裂纹等不良状况的检查的图像检查方法以及使用了该方法的检查装置，该图像检查方法包括：第1步骤，拍摄上述透射图像；第2步骤，对上述透射图像适用二次微分滤波器，将其变换成二次微分滤波器图像；第3步骤，按照预定的阈值把上述二次微分滤波器图像二值化，变换成第1二值化图像；第4步骤，按照其它的预定阈值把上述透射图像二值化，变换成第2二值化图像；第5步骤，对于上述第1二值化图像以及上述第2二值化图像进行二值特征量计测，计算二值特征量；以及第6步骤，从上述二值特征量进行上述受检物是否良好的判定。
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公开(公告)号：CN1527342A
公开(公告)日：2004-09-08
申请号：CN03153099.0
申请日：2003-08-13
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H01J9/14
Abstract: 低成本地提供一种彩色阴极射线管用选色电极的制造装置，即使对于刚性低的框架部件，也能够将电极基体高度精确地稳定地焊接在其上，且维修容易。具有使第1及第2焊接电极机构(6)沿着向第1方向(X方向)延伸的各自的焊接轨道(7)并行的第1控制机构，和根据该第1及第2焊接电极机构的行走位置对第1及第2焊接电极机构各自的第1方向和焊接面上形成的角度进行控制的第2控制机构。第2控制机构包含对第1构件15进行直线驱动的驱动机构(13)，和根据该第1构件的位移x使第2构件(18)转动一个角度+θ，使第3构件(19)转动一个角度－θ的角度变换机构。第1电极机构连接于第2构件上，第2电极机构连接于第3构件上。
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公开(公告)号：CN1492464A
公开(公告)日：2004-04-28
申请号：CN03148326.7
申请日：2003-06-30
Applicant: 三菱电机株式会社
Abstract: 在用于彩色阴极射线管的选色电极和面板测量装置等相互关连的生产作业装置的基准对位的基准对位用校对规装置中，能够通过简单的调整确定各测量装置的基准位置、并且能够实现低价格化。彩色阴极射线管制造装置用面板校对规夹具(1)和彩色阴极射线管制造装置用选色电极校对规夹具(31)可通过面板校对规夹具(1)的定位架(28)和选色电极校对规夹具(31)的定位架(37)卡合，可调整基准孔(33a)相对于面板校对规销(6)的位置，而且，可调整荧光面基准部位(4)和基本体面基准部位(34)的相对距离。
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公开(公告)号：CN1477669A
公开(公告)日：2004-02-25
申请号：CN03137893.5
申请日：2003-05-30
Applicant: 三菱电机株式会社
Abstract: 提供可降低每一阻尼线上的张力偏差的阴极射线管的选色电极的制造装置以及制造方法。具有与板簧部件(12)内侧的面相接触的后电极部(21)，板簧固定部(22)，将板簧部件(12)推压弯曲的推压部(31)，检测将板簧部件(12)推压弯曲时的反作用力和板簧部件的变形量的检测部(36)，推压侧电极部(61)。焊接前，由推压部(31)将板簧部件(12)推压弯曲，由检测部(36)获得检测数据，控制部(81)基于检测数据计算出后电极部(21)应放置的位置，由移动部(23)使后电极部(21)移动到计算出的位置，由推压部(31)将板簧部件(12)推压弯曲，通过板簧固定部(22)固定板簧部件(12)，由推压侧电极部(61)将阻尼线(14)焊接在板簧部件(12)上。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN100588957C
公开(公告)日：2010-02-10
申请号：CN200710103294.0
申请日：2007-05-15
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G06T7/0004 , G06T2207/30148
Abstract: 本发明提供能够高精度地自动进行与受检物的伤痕、异物混入、裂纹等不良状况的检查的图像检查方法以及使用了该方法的检查装置，该图像检查方法包括：第1步骤，拍摄上述透射图像；第2步骤，对上述透射图像适用二次微分滤波器，将其变换成二次微分滤波器图像；第3步骤，按照预定的阈值把上述二次微分滤波器图像二值化，变换成第1二值化图像；第4步骤，按照其它的预定阈值把上述透射图像二值化，变换成第2二值化图像；第5步骤，对于上述第1二值化图像以及上述第2二值化图像进行二值特征量计测，计算二值特征量；以及第6步骤，从上述二值特征量进行上述受检物是否良好的判定。
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公开(公告)号：CN101071107A
公开(公告)日：2007-11-14
申请号：CN200710101136.1
申请日：2007-04-29
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G01N21/958 , H01L21/66
CPC classification number: G01N21/9505 , G01N21/9503
Abstract: 以往，在半导体晶片的缺陷(裂纹或异物等)的检查中，当用照相机拍摄透过半导体晶片的红外光、并用该摄像图像进行检查时，由于从被检查物的外侧泄漏出来的光的原因，照相机产生光晕，结果不能检查被检查体的周边部分。本发明用红外光源(3)照射被检查体(1)，用红外线照相机(6)拍摄透过了被检查体(1)的光，并进行被检查体的检查。通过采用距被检查体的周围有微小量的间隙(10)的掩模机构(8)，便可以检查被检查物的周边部分。另外，通过采用多组支撑被检查体(1)的机构可以分别退避的构成的部件，并使其交替退避，就可以检查全部。
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公开(公告)号：CN1542894A
公开(公告)日：2004-11-03
申请号：CN200410006782.6
申请日：2004-02-26
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H01J29/07
CPC classification number: H01J29/076 , H01J2229/075 , H01J2229/0755
Abstract: 提供一种彩色阴极射线管用荫罩结构体及采用该荫罩结构体的彩色阴极射线管，该荫罩结构体抑制振动的同时，能够抑制产生拱起现象和亮度不均从而提高图像等级。选色荫罩(2)的有效图像部包括在图像垂直方向上延伸的狭缝孔(4)和在图像垂直方向上排列大致长方形的狭槽孔(6)而成的狭槽列(5)。狭缝孔(4)和狭槽列(5)在图像水平方向上交替地排列。各狭槽列(5)包括连结其两侧的金属基本体(8)并规定狭槽孔(6)的边界的多个真桥(7)。各狭缝孔(4)包括从其两侧的一方金属基本体(8)向该狭缝孔(4)的内侧突出并于该突出的前端处具有空隙的多个假桥(9)。
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公开(公告)号：CN1487552A
公开(公告)日：2004-04-07
申请号：CN03133168.8
申请日：2003-07-22
Applicant: 三菱电机株式会社
Abstract: 提供一种即使在选色电极的形状上产生扭曲时也能用简单的方法使选色电极控制在适当的姿势的选色电极支架安装定位装置，以及使用该安装定位装置的选色电极支架安装定位方法。选色电极支柱31～34用P1、P2、P3、P4四个支点支承选色电极1，但是，由于选色电极1的形状扭曲，因此在支点P4上选色电极1不与选色电极支柱34接触。如使选色电极可动支持部4在z方向上移动，那么选色电极1就以线段P1－P3为轴旋转，随即选色电极1将与支点P4接触。如选色电极可动支持部4停止，线段P1－P3就被保持在与线段P2－P4平行的位置上。换言之，选色电极1被控制在扭曲被平均化的姿势上。
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公开(公告)号：CN1485875A
公开(公告)日：2004-03-31
申请号：CN03138688.1
申请日：2003-06-09
Applicant: 三菱电机株式会社
Abstract: 本发明提供一种选色电极的制造装置，即使对于由钣金弯曲加工而成的刚性低的框架部件也能够以简单的机构高品质地焊接选色电极基体。在包括在形成大致四边框形状的框架的对向的一对边部上施加相互接近方向的力、使其向内侧变形的加压机构，以及使具有与由金属薄板构成、载置在上述框架上的选色电极基体的表面相抵接的环状接触表面的滚轮电极沿着该选色电极基体的表面与上述一对边部相接触的部分行走的焊接机构的彩色阴极射线管的选色电极的制造装置中，滚轮电极的环状接触表面的宽度(W)在框架的对向的一对边部的各部分的变形量的最大值和最小值之间的差值为(ΔY)、选色电极基体的厚度为(T)时为W≥ΔY+。
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