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公开(公告)号:CN101074932A
公开(公告)日:2007-11-21
申请号:CN200710103294.0
申请日:2007-05-15
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G06T7/0004 , G06T2207/30148
Abstract: 本发明提供能够高精度地自动进行与受检物的伤痕、异物混入、裂纹等不良状况的检查的图像检查方法以及使用了该方法的检查装置,该图像检查方法包括:第1步骤,拍摄上述透射图像;第2步骤,对上述透射图像适用二次微分滤波器,将其变换成二次微分滤波器图像;第3步骤,按照预定的阈值把上述二次微分滤波器图像二值化,变换成第1二值化图像;第4步骤,按照其它的预定阈值把上述透射图像二值化,变换成第2二值化图像;第5步骤,对于上述第1二值化图像以及上述第2二值化图像进行二值特征量计测,计算二值特征量;以及第6步骤,从上述二值特征量进行上述受检物是否良好的判定。
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公开(公告)号:CN109313880A
公开(公告)日:2019-02-05
申请号:CN201680086398.2
申请日:2016-06-09
Applicant: 三菱电机株式会社
Inventor: 宇野真彦
Abstract: 本发明的显示控制装置包括:注视判定部(102),该注视判定部(102)基于检测信息获取部(101)获取到的信息检测乘客的视线,在检测到的乘客的视线位于预先设定的范围内的情况下,判定为乘客正在注视车辆的前方;以及显示控制部(104),该显示控制部(104)在判定为乘客正在注视车辆的前方的情况下,抑制要对乘客显示的视频信息映入预先设定的区域的情况,并在进行了抑制的显示条件下,进行视频信息的显示控制。
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公开(公告)号:CN100590427C
公开(公告)日:2010-02-17
申请号:CN200710101136.1
申请日:2007-04-29
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G01N21/958 , H01L21/66
CPC classification number: G01N21/9505 , G01N21/9503
Abstract: 以往,在半导体晶片的缺陷(裂纹或异物等)的检查中,当用照相机拍摄透过半导体晶片的红外光、并用该摄像图像进行检查时,由于从被检查物的外侧泄漏出来的光的原因,照相机产生光晕,结果不能检查被检查体的周边部分。本发明用红外光源(3)照射被检查体(1),用红外线照相机(6)拍摄透过了被检查体(1)的光,并进行被检查体的检查。通过采用距被检查体的周围有微小量的间隙(10)的掩模机构(8),便可以检查被检查物的周边部分。另外,通过采用多组支撑被检查体(1)的机构可以分别退避的构成的部件,并使其交替退避,就可以检查全部。
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公开(公告)号:CN109844846A
公开(公告)日:2019-06-04
申请号:CN201780055863.0
申请日:2017-08-17
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G09F9/00 , G02F1/1333
Abstract: 图像显示装置(100)具备:液晶面板(10),其具有图像显示区域;透明保护板(20),其设置在图像显示区域上;间隔部(32),其设置在图像显示区域与透明保护板(20)之间并由合成橡胶构成;及填充部(31),其设置在图像显示区域与透明保护板(20)之间,由与间隔部(32)相比杨氏模量小的合成树脂构成。能够在图像显示面板(10)与透明保护板(20)之间确保间隔,并且即使从图像显示装置(100)的前表面被施加力也不易产生裂纹。
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公开(公告)号:CN109844846B
公开(公告)日:2020-12-25
申请号:CN201780055863.0
申请日:2017-08-17
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G09F9/00 , G02F1/1333
Abstract: 图像显示装置(100)具备:液晶面板(10),其具有图像显示区域;透明保护板(20),其设置在图像显示区域上;间隔部(32),其设置在图像显示区域与透明保护板(20)之间并由合成橡胶构成;及填充部(31),其设置在图像显示区域与透明保护板(20)之间,由与间隔部(32)相比杨氏模量小的合成树脂构成。能够在图像显示面板(10)与透明保护板(20)之间确保间隔,并且即使从图像显示装置(100)的前表面被施加力也不易产生裂纹。
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公开(公告)号:CN100588957C
公开(公告)日:2010-02-10
申请号:CN200710103294.0
申请日:2007-05-15
Applicant: 三菱电机株式会社
CPC classification number: G06T7/0004 , G06T2207/30148
Abstract: 本发明提供能够高精度地自动进行与受检物的伤痕、异物混入、裂纹等不良状况的检查的图像检查方法以及使用了该方法的检查装置,该图像检查方法包括:第1步骤,拍摄上述透射图像;第2步骤,对上述透射图像适用二次微分滤波器,将其变换成二次微分滤波器图像;第3步骤,按照预定的阈值把上述二次微分滤波器图像二值化,变换成第1二值化图像;第4步骤,按照其它的预定阈值把上述透射图像二值化,变换成第2二值化图像;第5步骤,对于上述第1二值化图像以及上述第2二值化图像进行二值特征量计测,计算二值特征量;以及第6步骤,从上述二值特征量进行上述受检物是否良好的判定。
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公开(公告)号:CN101071107A
公开(公告)日:2007-11-14
申请号:CN200710101136.1
申请日:2007-04-29
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: G01N21/958 , H01L21/66
CPC classification number: G01N21/9505 , G01N21/9503
Abstract: 以往,在半导体晶片的缺陷(裂纹或异物等)的检查中,当用照相机拍摄透过半导体晶片的红外光、并用该摄像图像进行检查时,由于从被检查物的外侧泄漏出来的光的原因,照相机产生光晕,结果不能检查被检查体的周边部分。本发明用红外光源(3)照射被检查体(1),用红外线照相机(6)拍摄透过了被检查体(1)的光,并进行被检查体的检查。通过采用距被检查体的周围有微小量的间隙(10)的掩模机构(8),便可以检查被检查物的周边部分。另外,通过采用多组支撑被检查体(1)的机构可以分别退避的构成的部件,并使其交替退避,就可以检查全部。
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