非易失性存储器件中的擦除方法

    公开(公告)号:CN101393774A

    公开(公告)日:2009-03-25

    申请号:CN200810175617.1

    申请日:2008-06-11

    CPC classification number: G11C16/14

    Abstract: 一种在非易失性存储器件中的后编程的擦除方法。该方法包括:后编程伪存储单元;验证所述伪存储单元的阈值电压是否大于或等于第一电压;后编程普通存储单元;并且验证所述普通存储单元的阈值电压是否大于或等于第二电压。所述第一电压与所述第二电压不同。

    具有自适应控制的多层非易失性存储器

    公开(公告)号:CN101625896A

    公开(公告)日:2010-01-13

    申请号:CN200910158752.X

    申请日:2009-07-07

    CPC classification number: G11C16/20

    Abstract: 提供了一种多层非易失性半导体存储器的自适应控制的方法和设备,该设备包括:多个存储单元,被组织成多个组;和控制电路,具有查找矩阵,用于提供该多个组的每一个的控制参数,其中每个组的特征被存储在该查找矩阵中,以及每个组的控制参数对应于所存储的该组的特征;该方法包括:将多个存储单元组织成多个组;将每个组的特征存储在查找矩阵中;提供多个组的每一个的控制参数,其中每个组的控制参数对应于它的存储的特征;以及根据它的提供的控制参数驱动每个存储单元。

    非易失性存储器件中的擦除方法

    公开(公告)号:CN101393774B

    公开(公告)日:2013-01-30

    申请号:CN200810175617.1

    申请日:2008-06-11

    CPC classification number: G11C16/14

    Abstract: 一种在非易失性存储器件中的后编程的擦除方法。该方法包括:后编程伪存储单元;验证所述伪存储单元的阈值电压是否大于或等于第一电压;后编程普通存储单元;并且验证所述普通存储单元的阈值电压是否大于或等于第二电压。所述第一电压与所述第二电压不同。

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