三维铁电存储器件
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117355142A

    公开(公告)日:2024-01-05

    申请号:CN202310792448.0

    申请日:2023-06-30

    Abstract: 一种三维(3D)铁电存储器件可以包括堆叠在衬底上的多个栅电极、与所述多个栅电极接触的多个铁电层、与所述多个铁电层接触的多个中间电极、与所述多个中间电极接触的栅极绝缘层、以及与栅极绝缘层接触的沟道层。中间电极的宽度可以大于铁电层与中间电极接触的宽度。

    垂直非易失性存储器器件和包括其的电子装置

    公开(公告)号:CN116249353A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202211550188.8

    申请日:2022-12-05

    Abstract: 本公开提供了垂直非易失性存储器器件和包括其的电子装置。该垂直非易失性存储器器件可以包括:多个绝缘层和多个导电层,在垂直于衬底的表面的方向上交替地堆叠在衬底的表面上;在衬底上的沟道层,其中沟道层在垂直于衬底的表面的方向上延伸,沟道层可以在所述多个绝缘层的侧表面和所述多个导电层的侧表面上;以及铁电层,在沟道层与所述多个导电层的侧表面之间。

    互补金属氧化物半导体器件
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114566466A

    公开(公告)日:2022-05-31

    申请号:CN202111402444.4

    申请日:2021-11-24

    Abstract: 提供了一种半导体器件,包括具有半导体沟道层和金属氧化物半导体沟道层的第一半导体晶体管,并且具有其中第二半导体晶体管堆叠在第一半导体晶体管的顶部上的结构。第二半导体晶体管的栅极堆叠和第一半导体晶体管的栅极堆叠的顶部可以重叠大于或等于90%。第一半导体晶体管和第二半导体晶体管可以具有相似水平的操作特性。

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