三维互补金属氧化物半导体晶体管的制备方法

    公开(公告)号:CN100423265C

    公开(公告)日:2008-10-01

    申请号:CN200410067218.5

    申请日:2004-10-15

    Abstract: 本发明提供一种三维互补金属氧化物半导体晶体管(CMOS)的结构及其制备方法,其特征在于pMOS制备在单晶硅(110)面上,nMOS制备在单晶硅(100)面上,且pMOS和nMOS分开在不同层上。其制作方法是在(100)面上形成nMOS并覆盖上绝缘层后,将表面为(110)面的单晶硅薄膜转移到绝缘层上,在(110)面上制备pMOS,连线形成CMOS结构;也可以在(110)面上形成pMOS并覆盖上绝缘层后,将表面为(100)面的单晶硅薄膜转移到绝缘层上,在(100)面上制备nMOS。本发明提供的金属氧化物半导体晶体管结构及其制备方法,可以获得高迁移率、高集成度和低成本。

    一种纳电子相变存储器的制备方法

    公开(公告)号:CN1588637A

    公开(公告)日:2005-03-02

    申请号:CN200410053565.2

    申请日:2004-08-06

    Abstract: 本发明涉及一种纳电子器件的制备方法。特征在于:首先在衬底材料上沉积一层下电极材料W,然后依次沉积一层Al和一层SiO2。通过曝光、刻蚀,在SiO2上刻蚀出孔,使下层Al暴露出来,然后通过阳极氧化法在暴露出的部分形成多孔氧化铝,同时对每个孔进行进一步的加工,可以形成唯一的一个纳米尺度的氧化铝小孔,或形成孔径一致,分布均匀纳米孔阵列,或形成孔径分散而分布均匀纳米孔阵列。再用等离子体增强化学气相沉积法(PECVD)沉积薄膜,实现纳米孔的W填充,通过纳米抛光技术实现纳米孔顶端的平坦化,然后沉积相变材料与电极材料,引线,封装,实现纳米存储单元。

    一种绝缘层上硅结构及制备方法

    公开(公告)号:CN1564308A

    公开(公告)日:2005-01-12

    申请号:CN200410017080.8

    申请日:2004-03-19

    Abstract: 本发明涉及一种绝缘体上硅结构及制备方法,属于微电子技术领域。其特征在于先后通过Al薄膜沉积、键合、离子注入,结合热处理等技术来制备以氮化铝或氧化铝或AlN、Al2O3、Si3N4或SiO2中两种或多种复合层为埋层的SOI结构衬底材料,即先在硅片表面淀积Al薄膜,然后通过键合技术实现层转移,最后经N或O离子注入形成所需埋层材料。所制备的绝缘层上硅结构由三层构成,顶层为单晶硅层,厚度为20-2000nm,中间是绝缘埋层,厚度为50-500nm,底层为硅衬底。得到的SOI衬底材料具有良好的热传导性能,适合高温、大功率或辐照环境下的SOI电路的需要。

    一种制备胶体二氧化硅的装置

    公开(公告)号:CN215842853U

    公开(公告)日:2022-02-18

    申请号:CN202122105562.0

    申请日:2021-09-02

    Abstract: 本实用新型涉及制备二氧化硅的设备技术领域,尤其是涉及一种制备胶体二氧化硅的装置。一种制备胶体二氧化硅的装置,包括反应釜、冷凝器、收集罐和真空发生器,所述收集罐和所述真空发生器连通,所述反应釜设有排气口和回气口,所述冷凝器设有气体入口和气体冷凝液出口,所述排气口与所述气体入口通过第一管道连通,所述气体冷凝液出口与所述回气口通过第二管道连通,所述气体冷凝液出口与所述收集罐通过第三管道连通。本实用新型的装置将多个相互独立的工艺流程进行一体化集成,使得胶体二氧化硅的合成反应、浓缩反应和置换反应得到有机结合,实现了同一反应釜内高效制备胶体二氧化硅的工业化制备,缩短了工艺流程,降低了工艺难度。

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