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公开(公告)号：CN110036328B
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN201780071702.0
申请日：2017-11-22
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种用于调节显微镜(10)的用于将物体(12)照明的光源(16)的方法，包括以下步骤：确定物体(12)上的照明辐射的能量参数的额定值；借助光源(16)产生照明辐射；提供用于将照明辐射聚焦到物体(12)上的物镜(14)；确定物镜(14)对于照明辐射的透射特性；将物镜(14)前面的一定比例的照明辐射作为测量辐射耦合输出并测量测量辐射的能量参数的实际值；提供测量辐射的能量参数与物体(12)上的照明辐射的能量参数之间的关系，其中该关系依赖于物镜(14)透射特性和所述比例的大小；并设定光源(16)，使得对于测量辐射测量的能量参数的实际值按照该关系在公差范围内对应于能量参数的额定值。
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公开(公告)号：CN109313327B
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN201780035308.1
申请日：2017-06-02
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Inventor： 因格·克莱珀 , 托马斯·卡尔克布莱纳
Abstract: 本发明涉及一种显微镜(10)，其包括用于成像光路(16)、照射光路(14)、检测装置(20)和用于控制检测装置(20)和照射装置(18)的控制装置(22)。控制装置将阵列中的检测装置(20)的光源(24)分成至少第一组和第二组(54)，其中每组(54)由阵列中彼此相邻的光源(24)组成并覆盖阵列的一部分。控制装置(22)在一个时间点仅接通第一组(54)的一个光源(24)并按照顺序以一时钟周期切换第一组(54)的光源(24)，使得两个先后接通的光源(24)在阵列中彼此相邻，并且第二组(54)的光源(24)以与第一组(54)的光源(24)相同的时钟周期接通。控制装置(22)以与光源(24)的切换相同的时钟周期读取检测装置(20)。
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公开(公告)号：CN114326078A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111129866.9
申请日：2021-09-26
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 一种显微镜系统包括用于拍摄样品位置环境的全景图像(11、12)的全景相机(9)和被设置用于评估全景图像(11、12)的计算设备(20)。计算设备(20)具有用于解释所述全景图像(11、12)的图像坐标的校准参数(P)。全景相机(9)在不同的样品位置或样品台位置下拍摄至少两个全景图像(11、12)。然后，计算用于叠加所述全景图像(11、12；21、22)的位移映射(31)，其中，借助于校准参数(P)将所述全景图像(11、12；21、22)转换为相同的视角。基于在叠加的全景图像(32)之间的一致性优度(Q)来评估是否所述校准参数(P)是有效的。此外描述了一种用于校准检验的方法。
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公开(公告)号：CN110462484B
公开(公告)日：2022-04-05
申请号：CN201880019069.5
申请日：2018-03-02
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Inventor： 本尼迪克·迪德里希 , 罗尔夫·沃特曼 , 哈拉尔德·夏德温克尔 , 拉尔斯·施托佩
Abstract: 根据参考测量，确定样本对象的对象传递函数(201)。然后，根据所述对象传递函数和光学单元的光学传递函数(202)进行优化(250)，获得优化的照明几何结构。
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公开(公告)号：CN114236803A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202110790405.X
申请日：2021-07-13
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Inventor： 克里斯蒂安·迪特里希 , 丹尼尔·哈泽 , 曼努埃尔·阿姆托尔 , 约翰内斯·克诺布利希
Abstract: 一种显微系统包括用于拍摄样品环境的至少一个全景图像(10)的全景相机(9)和被设置用于评估至少一个全景图像(10)的计算设备(20)。所述计算设备(20)具有校准参数(P)，利用所述校准参数(P)解释所述至少一个全景图像(10)的图像坐标。从所述至少一个全景图像(10)中确定关于在所述全景图像(10)中成像的至少一个参考结构(15)的几何信息(G)，所述参考结构在所述全景图像(10)中的位置或形状取决于至少一个显微镜部件(3、5、6、9、9B)的位置。通过用预先给定的参考数据(a、b)计算所述确定的几何信息(G)来确定是否所述显微镜部件(3、5、6、9、9B)发生了影响所述校准参数(P)的有效性的变化。描述了一种相应的方法以及一种方法，该方法借助于训练的机器学习模型来确定所提及的变化。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114121580A
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN202110973468.9
申请日：2021-08-24
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Inventor： A.奥科夫斯基
IPC: H01J37/28 , H01J37/26 , H01J37/20 , B23K26/14 , B23K26/36 , B23K26/362 , B23K26/70 , B23K37/04 , G01N23/04 , G01N23/20 , G01N23/20091 , G01N23/2209 , G01N23/2251 , B23K101/00
Abstract: 本发明涉及一种用于操作辐射设备、尤其是粒子辐射设备和/或激光辐射设备的方法。此外，本发明还涉及一种计算机程序产品和一种用于执行该方法的辐射设备。此外，本发明还涉及一种用于物体的物体固持器。例如，物体固持器能够布置在粒子辐射设备中。根据本发明的方法包括以下步骤：使用激光射束装置的激光射束和/或利用粒子辐射设备的粒子射束在物体固持器上产生标记，其中，粒子射束具有带电粒子；将物体布置在物体固持器上；使物体固持器运动；使用标记相对于物体相对定位粒子射束和/或激光射束；以及利用粒子射束和/或激光射束处理、成像和/或分析物体。
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公开(公告)号：CN108231513B
公开(公告)日：2022-03-01
申请号：CN201711399336.X
申请日：2017-12-21
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 一种用于操作显微镜的方法，该方法包括：记录样本的第一图像其中，该第一图像包含第一特征F1；记录该样本的第二图像其中，该第二图像包含被安排在距该第一特征一定距离处的第二特征F2；将该样本相对于该显微镜移位一定位移记录该样本的第三图像其中，该第三图像包含该第二特征；记录该样本的第四图像其中，该第四图像包含被安排在距该第二特征一定距离处的第三特征F3；并且基于该第一、第二、第三、以及第四图像来确定该第三特征相对于该第一特征的位置
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公开(公告)号：CN107064082B
公开(公告)日：2022-02-01
申请号：CN201710073108.7
申请日：2017-02-10
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Inventor： 蒂莫·安胡特 , 丹尼尔·施韦特 , 托比亚斯·考夫霍尔德 , 布克哈德·罗舍尔 , 斯特凡·威廉
Abstract: 本发明涉及一种用于多点扫描显微的设备和方法。该设备具有：多色光源；分束设备；第一光学装置，用于提供照射光路，照射光路用于将单独的照射子光束分别引导并且聚焦到待检验的样本上或样本中的光斑中；扫描单元；检测单元，用于检测在用单独的照射子光束辐照之后，检测子光束中的被样本辐射的检测光；第二光学装置，用于提供将检测子光束引导到检测单元的检测光路；控制和评价单元，用于控制扫描单元并且用于评价检测单元检测的检测光。所述设备的特征在于，在照射子光束中的至少两个照射子光束的照射光路中，存在用于独立地设定相应照射子光束的光谱组成的可控光束操纵装置，并且控制和评价单元被设计成控制光束操纵装置。
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公开(公告)号：CN107402442B
公开(公告)日：2022-01-18
申请号：CN201710622906.0
申请日：2013-06-26
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种显微镜，包括：‑照明装置，包括照明光源(1)和用于以光片照亮样本(3)的照明光路，‑检测装置，用于检测从样本(3)辐射出的光，‑成像光学器件，所述成像光学器件将样本(3)通过成像光路中的成像物镜(4)至少部分地成像到检测装置上，‑其中，光片在成像物镜(4)的焦点中或在成像物镜的几何焦点附近的限定平面内基本上是平的，并且其中，成像物镜(4)具有以非零角度与光片的平面相交的、优选地垂直相交的光轴，按照本发明，使用马修光束，特别是扫描的马修光束在SPIM中产生光片。
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公开(公告)号：CN113936983A
公开(公告)日：2022-01-14
申请号：CN202111084339.0
申请日：2016-02-03
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种粒子束系统。该粒子束系统具有多粒子束发生器，其被配置成产生多条部分粒子束，部分粒子束在空间上间隔开，至少包括第一部分粒子束和第二部分粒子束。该粒子束系统具有透镜，其被配置成用于使入射的部分粒子束聚焦在第一平面中，使得该第一平面中该第一部分粒子束撞击的第一区域与该第二部分粒子束撞击的第二区是分开的。该粒子束系统包括具有多个检测区的检测器系统和投射系统，该投射系统被配置成将交互产物投射到检测器系统上。投射系统和多个检测区相匹配，使得源自该第一平面的第一区的交互产物被投射到第一检测区上，而源自第一平面的第二区的交互产物被投射到与第一检测区不同的第二检测区上。该检测器系统包括过滤器装置。
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