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公开(公告)号：CN110036328B
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN201780071702.0
申请日：2017-11-22
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种用于调节显微镜(10)的用于将物体(12)照明的光源(16)的方法，包括以下步骤：确定物体(12)上的照明辐射的能量参数的额定值；借助光源(16)产生照明辐射；提供用于将照明辐射聚焦到物体(12)上的物镜(14)；确定物镜(14)对于照明辐射的透射特性；将物镜(14)前面的一定比例的照明辐射作为测量辐射耦合输出并测量测量辐射的能量参数的实际值；提供测量辐射的能量参数与物体(12)上的照明辐射的能量参数之间的关系，其中该关系依赖于物镜(14)透射特性和所述比例的大小；并设定光源(16)，使得对于测量辐射测量的能量参数的实际值按照该关系在公差范围内对应于能量参数的额定值。
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公开(公告)号：CN109983389A
公开(公告)日：2019-07-05
申请号：CN201780071715.8
申请日：2017-11-22
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Inventor： 迈克尔·古格拉
Abstract: 本发明涉及一种用于对物体(12)成像的显微镜，包括：物镜(14)，用于通过成像光路(32)对物体(12)成像；光源(16)，用于产生照明辐射；至少一个光学元件(18)，用于将照明辐射耦合输入到成像光路(32)中，使得在光学元件(18)与物镜(14)之间形成共用光路，通过该共用光路，成像光路延伸并且照明辐射被引导；监测装置(20)，用于测量照明辐射的能量参数，其中监测装置(20)对入射在其上的辐射的能量参数加以确定；和分束器装置(22)，其在照明方向上在共用光路中布置在物镜(14)前面，并从照明辐射将测量辐射耦合输出到监测装置(20)。
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公开(公告)号：CN110476102A
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201880019526.0
申请日：2018-03-14
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种用于对物体(12)成像的方法和显微镜(10)，所述显微镜包括：透镜组件(14)，所述透镜组件限定光学轴线和与其垂直的焦平面；和校正光学器件(32)，所述校正光学器件是可调节的以调节至一深度位置，并且所述校正光学器件校正在所述透镜组件(14)上的球面像差，所述球面像差在所述焦平面的某一深度位置处在所述物体(12)的成像期间发生。所述方法包括以下步骤：确定来自所述物体(12)的第一横向区域(40)和第二横向区域(42)的辐射的相位差；使用所述相位差与由此引起的球面像差的修改之间的先前已知连接，以便确定所述校正光学器件(32)的调节值，使得当对所述第二区域(42)成像时减小所述球面像差。
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公开(公告)号：CN108627963A
公开(公告)日：2018-10-09
申请号：CN201810234252.9
申请日：2018-03-20
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
IPC: G02B21/00
Abstract: 本发明提供了一种显微镜(10)和用于对物体(12)成像的显微镜使用方法，其中使用包括物镜(14)和可调节的校正光学单元(32)的显微镜(10)，所述物镜限定了光学轴线和与其垂直的焦平面，可调节的校正光学单元(32)在物镜(14)处校正当以焦平面的特定深度位置对物体(12)成像时发生的球面像差，其中该方法包括以下步骤：确定物体(12)的实际类型；读取存储不同类型物体(12)的折射率的数据库(36)以确定物体(12)的折射率；使用所述折射率与由所述物体(12)引起的所述球面像差之间的关联关系来确定所述校正光学单元(32)的调节值，使得所述焦平面中的球面像差降低；以及将校正光学单元(32)调节到调节值并对物体(12)成像。
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公开(公告)号：CN111051956B
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN201880053898.5
申请日：2018-08-06
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种用于使用显微镜对样本成像的显微镜物镜，所述显微镜物镜(7)具有由支架(8b)围绕的前透镜(8)，并且被设计用于在浸渍液体(9)的情况下的显微镜检查。在所述显微镜物镜中，所述前透镜(8)和/或其支架(8b)设置有涂层(10)，所述涂层(10)可以在排斥所述浸渍液体(9)的状态与不排斥所述浸渍液体(9)的状态之间切换。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108627963B
公开(公告)日：2020-11-13
申请号：CN201810234252.9
申请日：2018-03-20
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
IPC: G02B21/00
Abstract: 本发明提供了一种显微镜(10)和用于对物体(12)成像的显微镜使用方法，其中使用包括物镜(14)和可调节的校正光学单元(32)的显微镜(10)，所述物镜限定了光学轴线和与其垂直的焦平面，可调节的校正光学单元(32)在物镜(14)处校正当以焦平面的特定深度位置对物体(12)成像时发生的球面像差，其中该方法包括以下步骤：确定物体(12)的实际类型；读取存储不同类型物体(12)的折射率的数据库(36)以确定物体(12)的折射率；使用所述折射率与由所述物体(12)引起的所述球面像差之间的关联关系来确定所述校正光学单元(32)的调节值，使得所述焦平面中的球面像差降低；以及将校正光学单元(32)调节到调节值并对物体(12)成像。
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公开(公告)号：CN110036328A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201780071702.0
申请日：2017-11-22
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种用于调节显微镜(10)的用于将物体(12)照明的光源(16)的方法，包括以下步骤：确定物体(12)上的照明辐射的能量参数的额定值；借助光源(16)产生照明辐射；提供用于将照明辐射聚焦到物体(12)上的物镜(14)；确定物镜(14)对于照明辐射的透射特性；将物镜(14)前面的一定比例的照明辐射作为测量辐射耦合输出并测量测量辐射的能量参数的实际值；提供测量辐射的能量参数与物体(12)上的照明辐射的能量参数之间的关系，其中该关系依赖于物镜(14)透射特性和所述比例的大小；并设定光源(16)，使得对于测量辐射测量的能量参数的实际值按照该关系在公差范围内对应于能量参数的额定值。
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公开(公告)号：CN111095039B
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN201880053905.1
申请日：2018-08-06
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种用于使用显微镜对样品成像的显微镜物镜，所述显微镜物镜(7)被设计为用于在没有浸渍介质的情况下的显微镜检查的空气物镜，或者被设计为用于在具有油基浸渍介质的情况下的显微镜检查的油浸物镜，或者被设计为用于在具有水基浸渍介质的情况下的显微镜检查的水浸物镜。所述显微镜物镜(7)的前透镜(8)设置有涂层(10)，所述涂层排斥浸渍介质，并且如果所述物镜是空气物镜则是疏脂性且疏水性的，如果所述物镜是水浸物镜则是仅疏脂性的，并且如果所述物镜是油浸物镜则是仅疏水性的。
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公开(公告)号：CN110476102B
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN201880019526.0
申请日：2018-03-14
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种用于对物体(12)成像的方法和显微镜(10)，所述显微镜包括：透镜组件(14)，所述透镜组件限定光学轴线和与其垂直的焦平面；和校正光学器件(32)，所述校正光学器件是可调节的以调节至一深度位置，并且所述校正光学器件校正在所述透镜组件(14)上的球面像差，所述球面像差在所述焦平面的某一深度位置处在所述物体(12)的成像期间发生。所述方法包括以下步骤：确定来自所述物体(12)的第一横向区域(40)和第二横向区域(42)的辐射的相位差；使用所述相位差与由此引起的球面像差的修改之间的先前已知连接，以便确定所述校正光学器件(32)的调节值，使得当对所述第二区域(42)成像时减小所述球面像差。
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公开(公告)号：CN111095039A
公开(公告)日：2020-05-01
申请号：CN201880053905.1
申请日：2018-08-06
Applicant: 卡尔蔡司显微镜有限责任公司
Abstract: 本发明涉及一种用于使用显微镜对样品成像的显微镜物镜，所述显微镜物镜(7)被设计为用于在没有浸渍介质的情况下的显微镜检查的空气物镜，或者被设计为用于在具有油基浸渍介质的情况下的显微镜检查的油浸物镜，或者被设计为用于在具有水基浸渍介质的情况下的显微镜检查的水浸物镜。所述显微镜物镜(7)的前透镜(8)设置有涂层(10)，所述涂层排斥浸渍介质，并且如果所述物镜是空气物镜则是疏脂性且疏水性的，如果所述物镜是水浸物镜则是仅疏脂性的，并且如果所述物镜是油浸物镜则是仅疏水性的。
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