探测发射光的方法、探测设备和激光扫描显微镜

    公开(公告)号:CN116249891A

    公开(公告)日:2023-06-09

    申请号:CN202180058676.4

    申请日:2021-07-29

    Abstract: 本发明涉及用于在激光扫描显微镜中探测发射光、尤其是来自至少一种荧光染料的荧光的方法,其中,利用成像光学器件将来自样品的发射光引导到位于图像平面中的具有多个像素的二维矩阵传感器上,其中,利用矩阵传感器以空间超采样的方式探测探测点分布函数。该方法的特征在于,利用色散装置尤其是在色散方向上对来自样品的发射光进行光谱分解,利用矩阵传感器对经光谱分解的发射光进行光谱分辨式探测,并且在评估由像素区域的像素测得的强度时,至少针对这些像素中的一些像素取消光谱分离。在另外的方面中,本发明涉及用于在激光扫描显微镜中以光谱分辨方式探测发射光的探测设备,并涉及激光扫描显微镜。

    显微术中提高分辨率的方法、装置和软件程序

    公开(公告)号:CN116109480A

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN202211402220.8

    申请日:2022-11-09

    Abstract: 一种用于提高显微术中的分辨率的方法,包括:提供至少一个借助于显微镜(2)生成的摄取的样本图像(22),提供表征显微镜(2)的成像行为的点扩散函数,以及根据摄取的样本图像(22)计算具有提高的分辨率的样本图像,其中,在迭代过程(S4)中实现计算,迭代过程重复地遍历迭代循环(S4a;S4b),并且使用点扩散函数根据所摄取的样本图像(22)确定校正图像(24.0‑24.n),其中,在迭代过程(S4)中最小化与点扩散函数卷积的校正图像和所摄取的样本图像(22)之间的差,并且其中,在迭代过程(S4)中,遍历迭代循环(S4a;S4b)以递增的遍历号(k)被编号,并且每次遍历包括取决于相应遍的遍历号(k)并且在不依靠校正图像的情况下确定的步长因子。

    用于显微镜的碰撞保护
    133.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115951488A

    公开(公告)日:2023-04-11

    申请号:CN202211182523.3

    申请日:2022-09-27

    Abstract: 提供了一种用于将物镜安装到显微镜结构元件的设备,以及用于操作显微镜的方法。用于将物镜安装到显微镜结构元件的设备包括:接收部,其被安装或可安装到显微镜结构元件上;滑入部件,其被安装或可安装到物镜,并且该滑入部件可插入到接收部中,其中滑入部件可以进入锁定位置,在该锁定位置中,在滑入部件与接收部之间存在游隙;以及张紧单元,在锁定位置中,该张紧单元使滑入部件和接收部彼此抵靠以消除游隙,其中,该设备还包括第一碰撞检测装置,其包括至少一个第一位移传感器,第一位移传感器用于检测滑入部件相对于接收部的位移和/或物镜相对于接收部的位移。

    用于操作具有变焦光学器件的显微镜的方法和具有变焦光学器件的显微镜

    公开(公告)号:CN115933151A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211002369.7

    申请日:2022-08-19

    Abstract: 本发明描述了一种显微镜,该显微镜具有多个具备不同放大率的、电机驱动的可更换的物镜(4、20)和电机驱动的可调节的变焦光学器件(12)以及控制装置(14),物镜和变焦光学器件是对物场(22)成像的显微镜光路(6)的一部分,该控制装置控制物镜更换和变焦光学器件(12),并且被配置为在从物镜(4)更换成具有不同放大率的物镜(20)时调整变焦光学器件(12),以便补偿由此引起的放大率变化,其中,控制装置(14)被配置为设置变焦光学器件(12),使得在物镜更换之后检测到的物场(26)更大,但比在物镜更换前检测到的物场(24)大不超过20%。

    粒子束系统
    135.
    发明公开
    粒子束系统 审中-实审

    公开(公告)号:CN115931940A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211210551.1

    申请日:2022-09-30

    Abstract: 本发明涉及一种粒子束系统,该粒子束系统包括粒子束柱、检测系统40和控制器30。该粒子束柱被配置用于产生粒子束并将其引导到样品上,由此该样品发射带电粒子41。该检测系统40用于检测这些带电粒子41并且包括可以使带电粒子41加速的电极E、向电极E施加可调电势的电势源42、闪烁体43、和输出检测信号的光检测器44。该控制器30控制该电势源42并且被配置为基于该检测信号来改变电势,使得该闪烁体43在其饱和之外操作并且使得该光检测器44在其饱和之外操作。

    在激光扫描显微镜中扫描激发辐射和/或操纵辐射的光学组件以及激光扫描显微镜

    公开(公告)号:CN111033350B

    公开(公告)日:2023-03-21

    申请号:CN201880055202.2

    申请日:2018-08-23

    Abstract: 本发明涉及一种在激光扫描显微镜中扫描激发辐射和/或操纵辐射的光学组件,所述组件具有以下部件:光学扫描单元,作为第一聚焦装置以提供第一光瞳平面;第一光束偏转装置,该第一光束偏转装置由在第一光瞳平面中布置的第一扫描仪构成,用于在第一坐标方向上扫描激发辐射和/或操纵辐射;以及第二聚焦装置,该第二聚焦装置用于生成与第一光瞳平面光学共轭的第二光瞳平面;包括第二光束偏转装置,用于偏转激发辐射和/或操纵辐射,所述第二偏转装置布置在第二光瞳平面中。根据本发明的光学组件的特征在于,提供第三聚焦装置以便生成第三光瞳平面,该第三光瞳平面与第一光瞳平面光学共轭,在第三光瞳平面中布置第三光束偏转装置,以便使激发辐射和/或操纵辐射偏转,并且提供可变光束偏转构件以便在第一光束路径和第二光束路径之间切换光束路径。本发明的另一方面涉及激光扫描显微镜。

    用于光显微镜的光束成形的光学布置和方法

    公开(公告)号:CN112074764B

    公开(公告)日:2023-03-14

    申请号:CN201980027523.6

    申请日:2019-04-11

    Abstract: 本发明涉及一种用于光显微镜的光束成形的光学布置,该光学布置包括:第一液晶区域和第二液晶区域或微抬升反射镜区域(35A,35B),各自具有可独立于彼此切换的多个液晶元件或反射镜,通过该多个液晶元件或反射镜,入射光的相位以可调整的方式改变;耦合/解耦合偏振分束器(10);偏振分束器(20),该偏振分束器布置在所述耦合/解耦合偏振分束器(10)和所述液晶区域或微抬升反射镜区域(35A,35B)之间,使得所述偏振分束器(20)偏振相关地将来自所述耦合/解耦合偏振分束器(10)的光(1)分成第一子束(1A)和第二子束(1B),所述第一子束被引导到所述第一液晶区域或微抬升反射镜区域(35A),以及所述第二子束(1B)被引导到所述第二液晶区域或微抬升反射镜区域(35B);以及使得所述偏振分束器(20)将从所述液晶区域或微抬升反射镜区域(35A,35B)返回的两个子束(1A,1B)组合,并且将所述束一起引导到所述耦合/解耦合偏振分束器(10)作为出射光束(2)。

    用于光学检查多个显微样品的方法和装置

    公开(公告)号:CN111164485B

    公开(公告)日:2023-01-24

    申请号:CN201880063710.5

    申请日:2018-09-25

    Abstract: 本发明涉及一种用于光学检查多个显微的样品(1)的方法,其中,所述样品(1)从多个样品中以通道传输并相继借助在至少一个通流通道(3)中的流体导引,所述样品在所述通流通道中沿流动方向(23)前进。所述样品(1)被照明,由样品(1)发出的光被探测和分析。本发明还涉及一种用于执行所述方法的设备。按照本发明对所述样品(1)照明,方式是带有光片平面(22)的至少一个光片(19)对准所述至少一个通流通道(3),其中所述光片(19)如此定向,使得光片在相交区域(20)中与至少一个通流通道(3)相交,并且所述光片平面(22)的法线(21)与流动方向(23)在所述相交区域(20)中围成不同于零的角。由所述样品(1)发射的光由成像的探测光学器件(10)记录,所述探测光学器件(10)的焦面位于所述相交区域(20)中。

    粒子束显微镜及其操作方法和计算机程序产品

    公开(公告)号:CN115602515A

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202210802556.7

    申请日:2022-07-07

    Abstract: 本公开涉及一种用于操作粒子束显微镜(1)的方法,包括使用粒子束(7)扫描物体(15)并且在使用粒子束(7)扫描物体(15)时检测电子(27)和x射线辐射(31)。通过根据公式组合加权x射线辐射信息项来产生改进的x射线辐射信息,其中是分配给一个位置的检测到的x射线辐射强度。以下适用于权重,例如:其中表示分配给该位置的检测到的电子的强度,并且sf和sg是常数。本公开还涉及粒子束显微镜和计算机程序产品。

    样品固持器系统以及设定显微样品的倾斜角度的方法

    公开(公告)号:CN115588602A

    公开(公告)日:2023-01-10

    申请号:CN202210750005.0

    申请日:2022-06-28

    Inventor: H.斯特格曼

    Abstract: 本发明涉及一种用于在显微镜系统中固持显微样品的样品固持器系统,用于在具有光轴的显微镜系统中设定显微样品的倾斜角度的方法,以及计算机程序产品,其中,样品固持器系统包括第一旋转元件和第二旋转元件,它们可旋转地彼此连接。在每种情况下,这两个旋转元件的侧表面围成角α,结果,旋转元件具有楔形截面。第二旋转元件被配置成接收样品,而第一旋转元件能够可旋转地连接到固持器接收表面。旋转元件各自可围绕旋转轴线以角β旋转。可以接收样品的第三侧表面的倾斜度可通过组合所有涉及的角α和β来设定。

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