反射式近场拉曼光谱仪测量头

    公开(公告)号:CN101082585A

    公开(公告)日:2007-12-05

    申请号:CN200710119272.3

    申请日:2007-07-19

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 反射式近场拉曼光谱仪测量头,属于近场光学、光谱分析测试仪器技术领域。基于金属纳米探针的局域场增强原理,本发明公开了一种反射式近场拉曼光谱仪测量头,激发光入射角度和近场拉曼光谱信号的收集角度可调,并能从不同方向收集近场拉曼光谱信号,实现多种测量模式,有效提高近场拉曼光谱信号的激发效率与收集效率,从而提高信噪比与探测灵敏度。本发明能探测来自样品纳米局域空间的微弱反射拉曼光谱信号,可同时获得待测样品的纳米尺度形貌像与超衍射分辨率近场拉曼光谱与近场拉曼光谱线像。本发明采用平行光束接口,可与各种自建拉曼光谱仪或商用拉曼光谱仪联合使用,可广泛用于生物、医学、化学、物理、材料等领域中的介观尺度研究。

    目标空间位置及姿态激光跟踪测量系统及其测量

    公开(公告)号:CN1078703C

    公开(公告)日:2002-01-30

    申请号:CN99109623.1

    申请日:1999-07-02

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明属于激光精密测量技术领域,本系统包括由一个以上反射镜组成并固定于被测的运动目标之上的目标反射镜组合,由一个以上跟踪站组成的跟踪站群,激光测距系统,计算机控制与数据采集处理系统及实时反馈控制跟踪系统及软件组成。采用多站纯距离法和单站角度距离法激光跟踪测量系统使得测量的范围扩大(大于120°),可以实现运动目标空间坐标、速度、加速度以及全姿态的实时测量。

    纳米近场光钳方法
    123.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1292496A

    公开(公告)日:2001-04-25

    申请号:CN00133671.1

    申请日:2000-12-01

    Applicant: 清华大学

    Inventor: 王佳 刘秀梅 吴艳

    CPC classification number: G01Q60/22

    Abstract: 本发明属于近场光学和光钳技术领域,本方法使激光与近场探针相互作用获得近场局域增强光场,利用该光场对微粒的光梯度力作用来实现捕获、移动、拉伸、扭转和释放等光钳操作。本发明从根本上突破了传统光学的受衍射限制的分辨率和操控精度,分辨率达到亚波长或纳米量级,适用于生物单分子操控。

    外差干涉仪信号处理——相位和相位整数测量方法及其装置

    公开(公告)号:CN1024593C

    公开(公告)日:1994-05-18

    申请号:CN91103615.6

    申请日:1991-06-05

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明涉及一种外差干涉仪的信号处理新方法,即相位和相位整数测量法。本发明采用了相位测量技术和超过2π相位变化的相位整数测量技术。包括数字相位调制方法,即将两路频率信号的相位转换成为一个调宽信号,还包括超过2π相位变化的相位整数测量方法,即由相位调制输出的调宽信号,经过整数相位测量电路,产生被测相位差周期数变化的信号,从而实现相位的测量。本发明具有分辨率高,测量范围大和动态信号处理等功能。

    外差干涉仪信号处理——相位和相位整数测量法

    公开(公告)号:CN1055820A

    公开(公告)日:1991-10-30

    申请号:CN91103615.6

    申请日:1991-06-05

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明涉及一种外差干涉仪的信号处理新方法,即相位和相位整数测量法。本发明采用了相位测量技术和超过2π相位变化的相位整数测量技术。包括数字相位调制方法,即将两路频率信号的相位转换成为一个调宽信号,还包括超过2π相位变化的相位整数测量方法,即由相位调制输出的调宽信号,经过整数相位测量电路,产生被测相位差周期数变化的信号,从而实现相位的测量。本发明具有分辨率高,测量范围大和动态信号处理等功能。

    磁盘表面参数测量仪
    126.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1055813A

    公开(公告)日:1991-10-30

    申请号:CN91103616.4

    申请日:1991-06-05

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明涉及一种对磁盘盘片进行高精度、多种参数测量的表面参数测量仪,属测量仪器技术领域。本发明利用激光外差非接触测量方法,实现对磁盘盘片几何参数的测量。本仪器用气浮导轨驱动光学传感器作径向进给运动,用气浮轴承驱动被测磁盘盘片作回转运动,当被测盘片相对于光学传感器在垂直于测量轴的平面内作回转运动时,光学传感器沿导轨作径向运动,并对盘片作径向扫描,此时就获得整个盘片的信息。本测量仪可以同时对金属与非金属盘片进行盘片面形——平面度的测量,又能对中等规模轮廓波度及盘片外径至内径的轮廓进行测量。

    光学微粒探针的制作设备和方法

    公开(公告)号:CN110057751B

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN201810054371.6

    申请日:2018-01-19

    Applicant: 清华大学

    Abstract: 本发明提供的一种光学微粒探针的制作设备和方法,包括:位置控制装置、扫描头、扫描台、成像装置和照明装置,扫描台位于扫描头的下方,扫描头的底部设置有与扫描头联动的探针,扫描台上固定有透明衬底和位于透明衬底表面的不同类型的光学微粒;成像装置设置在扫描台的下方,用于在照明装置发出的照射光的作用下对光学微粒进行成像,所输出的图像用于从不同类型的光学微粒中确定待粘附微粒;位置控制装置分别与扫描台和扫描头配合连接,以根据待粘附微粒的位置控制扫描台或者扫描头移动,使得探针粘附待粘附微粒以形成所述光学微粒探针。其制作工序简单,制作效率较高。

    一种用于真空紫外激光的透射式分光聚焦系统

    公开(公告)号:CN107024760B

    公开(公告)日:2019-03-29

    申请号:CN201710265572.6

    申请日:2017-04-21

    Applicant: 清华大学

    Inventor: 莫宇翔 刘峰 王佳

    Abstract: 本发明提出的一种用于真空紫外激光的透射式分光聚焦系统,属于光束分光聚焦技术领域,该系统由三块或四块凸透镜和一个光阑组成,各凸透镜和光阑均垂直于光路且共光轴设置;其中,第一凸透镜、第二凸透镜前后排列于光阑同一侧,其余凸透镜位于光阑另一侧。本系统对四波混频产生的真空紫外激光(VUV)光源进行分光和聚焦,对基频光的分光率达到99.99%以上,VUV光(125nm‑150nm)的总透过率可达到10%以上。在聚焦时,还可采用高精度非球面凸透镜抵消球差,使本系统达到衍射极限,从而实现亚微米光斑聚焦。

    一种用于真空紫外激光的透射式分光聚焦系统

    公开(公告)号:CN107024760A

    公开(公告)日:2017-08-08

    申请号:CN201710265572.6

    申请日:2017-04-21

    Applicant: 清华大学

    Inventor: 莫宇翔 刘峰 王佳

    CPC classification number: G02B19/0014 G02B19/0095

    Abstract: 本发明提出的一种用于真空紫外激光的透射式分光聚焦系统,属于光束分光聚焦技术领域,该系统由三块或四块凸透镜和一个光阑组成,各凸透镜和光阑均垂直于光路且共光轴设置;其中,第一凸透镜、第二凸透镜前后排列于光阑同一侧,其余凸透镜位于光阑另一侧。本系统对四波混频产生的真空紫外激光(VUV)光源进行分光和聚焦,对基频光的分光率达到99.99%以上,VUV光(125nm‑150nm)的总透过率可达到10%以上。在聚焦时,还可采用高精度非球面凸透镜抵消球差,使本系统达到衍射极限,从而实现亚微米光斑聚焦。

Patent Agency Ranking