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公开(公告)号：CN110057751B
公开(公告)日：2021-06-29
申请号：CN201810054371.6
申请日：2018-01-19
Applicant: 清华大学
IPC: G01N21/01
Abstract: 本发明提供的一种光学微粒探针的制作设备和方法，包括：位置控制装置、扫描头、扫描台、成像装置和照明装置，扫描台位于扫描头的下方，扫描头的底部设置有与扫描头联动的探针，扫描台上固定有透明衬底和位于透明衬底表面的不同类型的光学微粒；成像装置设置在扫描台的下方，用于在照明装置发出的照射光的作用下对光学微粒进行成像，所输出的图像用于从不同类型的光学微粒中确定待粘附微粒；位置控制装置分别与扫描台和扫描头配合连接，以根据待粘附微粒的位置控制扫描台或者扫描头移动，使得探针粘附待粘附微粒以形成所述光学微粒探针。其制作工序简单，制作效率较高。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN108458788A
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201711425253.3
申请日：2017-12-25
Applicant: 清华大学
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明提供一种纳米尺度光场矢量偏振分布检测系统和方法，所述系统包括：照明模块，用于向等离激元等样品发射不同偏振态的入射光，所述入射光激发等离激元等样品生成纳米尺度光场；扫描近场光学显微镜装置，所述扫描近场光学显微镜装置用于对所述纳米尺度光场进行近场逐点扫描，将纳米尺度光场的近场斯托克斯参数转换为远场斯托克斯参数；偏振调制模块，用于对所述远场斯托克斯参数进行偏振调制，得到偏振调制信号；偏振检测及解调模块，用于解调所述偏振调制信号，输出所述偏振调制信号的偶数阶倍频解调信号；通过所述偶数阶倍频信号和所述系统参数得到所述远场斯托克斯参数，基于所述远场斯托克斯参数还原出近场斯托克斯参数。
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公开(公告)号：CN109596576B
公开(公告)日：2020-07-14
申请号：CN201710944829.0
申请日：2017-09-30
Applicant: 清华大学
IPC: G01N21/63
Abstract: 一种旋性分辨的探针外差干涉装置、纳米光场自旋‑轨道相互作用测量系统和方法。所述探针外差干涉装置包括：分光模块，单束激光经过所述分光模块分为原测量光和原参考光；差频生成装置对原测量光和原参考光进行频率调制，输出预定频率差的测量光和参考光；测量光偏振控制装置设置在测量光的传输方向上；聚焦扫描装置设置在测量光偏振控制装置的参考光的输出方向上输出照明光；照明光激发样品产生纳米光场，孔径型扫描近场光学显微镜装置在近场探测收集纳米光场并输出样品信息光；参考光偏振补偿装置设置在参考光的传输方向上，参考光入射到参考光偏振补偿装置输出偏振补偿光；样品信息光和偏振补偿光传输至耦合装置发生干涉产生外差干涉光。
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公开(公告)号：CN108458788B
公开(公告)日：2019-09-20
申请号：CN201711425253.3
申请日：2017-12-25
Applicant: 清华大学
IPC: G01J4/00
Abstract: 本发明提供一种纳米尺度光场矢量偏振分布检测系统和方法，所述系统包括：照明模块，用于向等离激元等样品发射不同偏振态的入射光，所述入射光激发等离激元等样品生成纳米尺度光场；扫描近场光学显微镜装置，所述扫描近场光学显微镜装置用于对所述纳米尺度光场进行近场逐点扫描，将纳米尺度光场的近场斯托克斯参数转换为远场斯托克斯参数；偏振调制模块，用于对所述远场斯托克斯参数进行偏振调制，得到偏振调制信号；偏振检测及解调模块，用于解调所述偏振调制信号，输出所述偏振调制信号的偶数阶倍频解调信号；通过所述偶数阶倍频信号和所述系统参数得到所述远场斯托克斯参数，基于所述远场斯托克斯参数还原出近场斯托克斯参数。
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公开(公告)号：CN110057751A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201810054371.6
申请日：2018-01-19
Applicant: 清华大学
IPC: G01N21/01
Abstract: 本发明提供的一种光学微粒探针的制作设备和方法，包括：位置控制装置、扫描头、扫描台、成像装置和照明装置，扫描台位于扫描头的下方，扫描头的底部设置有与扫描头联动的探针，扫描台上固定有透明衬底和位于透明衬底表面的不同类型的光学微粒；成像装置设置在扫描台的下方，用于在照明装置发出的照射光的作用下对光学微粒进行成像，所输出的图像用于从不同类型的光学微粒中确定待粘附微粒；位置控制装置分别与扫描台和扫描头配合连接，以根据待粘附微粒的位置控制扫描台或者扫描头移动，使得探针粘附待粘附微粒以形成所述光学微粒探针。其制作工序简单，制作效率较高。
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公开(公告)号：CN109596576A
公开(公告)日：2019-04-09
申请号：CN201710944829.0
申请日：2017-09-30
Applicant: 清华大学
IPC: G01N21/63
Abstract: 一种旋性分辨的探针外差干涉装置、纳米光场自旋-轨道相互作用测量系统和方法。所述探针外差干涉装置包括：分光模块，单束激光经过所述分光模块分为原测量光和原参考光；差频生成装置对原测量光和原参考光进行频率调制，输出预定频率差的测量光和参考光；测量光偏振控制装置设置在测量光的传输方向上；聚焦扫描装置设置在测量光偏振控制装置的参考光的输出方向上输出照明光；照明光激发样品产生纳米光场，孔径型扫描近场光学显微镜装置在近场探测收集纳米光场并输出样品信息光；参考光偏振补偿装置设置在参考光的传输方向上，参考光入射到参考光偏振补偿装置输出偏振补偿光；样品信息光和偏振补偿光传输至耦合装置发生干涉产生外差干涉光。
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