-
公开(公告)号：CN118714909B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202411195617.3
申请日：2024-08-29
Applicant: 中北大学
IPC: H10N10/851 , H10N10/17 , H10N10/01 , H10N10/80 , B82Y30/00 , B82Y40/00 , G01J3/28 , G01J5/12 , G01J5/14
Abstract: 本发明公开了一种免制冷、宽光谱的硅基集成光热电探测器件及其制备方法，属于光热电探测器件制备技术领域。所述光热电探测器件的结构包括：一侧表面的中间为微纳米黑硅结构的绝缘衬底层、位于所述绝缘衬底层上包围所述微纳米黑硅结构的钝化保护层、所述微纳米黑硅结构表面生长的贵金属纳米粒子层、位于所述钝化保护层上的热电薄膜以及位于所述热电薄膜上的电极。本发明通过在硅基表面形成微纳结构并溅射贵金属纳米颗粒形成等离激元，结合共溅射薄膜制备技术，解决了现有光电探测器结构单一、感知光谱范围有限及集成度低等诸多问题。
-
公开(公告)号：CN113899454B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202111264768.6
申请日：2021-10-28
Applicant: 苏州大学
Abstract: 本发明涉及一种基于消像差全息光栅的浸没式成像光谱仪及其成像方法。光谱仪的光学系统的光路浸没于高折射率介质中，按光线入射方向，光学元件依次包括入射狭缝、球面反射镜、消像差凸面全息光栅和成像传感器；长入射狭缝获取的光线经过高折射率介质后，经球面反射镜中的一部分反射面反射，光束会聚入射到消像差凸面全息光栅上，光栅全息像差对系统的几何像差进行补偿；经光栅分光后的发散光束再次经球面反射镜的另一部分反射面反射后，会聚于成像传感器上成像。本发明利用全息像差补偿系统固有的几何像差特别是像散，采取浸没式光路，在紧凑体积的限制下实现长入射狭缝，满足宽视场、高光谱分辨的应用需求。
-
公开(公告)号：CN118840425A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202410864250.3
申请日：2024-06-30
Applicant: 天津大学
Abstract: 本发明公开一种基于最小二乘和多项式拟合的中阶梯光谱仪谱图坐标修正方法，该方法优先考虑谱图还原的精度，建立实际成像与理论成像的误差修正与补偿模型。对修正后的光斑成像坐标进行波长估算，从而建立二维光谱图像素坐标与波长的谱图还原模型。该方法还原精度高，运算便捷，仅需要少量特征波长就可以实现高精度标定，并可推广用于各种型号的中阶梯光谱仪和各种具有多重色散特点的光谱仪器设备使用。
-
公开(公告)号：CN118836991A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202410823939.1
申请日：2024-06-25
Applicant: 东南大学 , 江苏中科能源动力研究中心
Abstract: 本发明一种曲面三维温度及光谱发射率场同时重建方法、设备及介质，其中重建方法包含以下步骤：1）基于目标曲面的光谱光场图像，逐波段生成一系列聚焦在不同深度的重聚焦图像以及各个波长下的全聚焦图像；2）基于全聚焦图像的亮度分布，从全聚焦图像中按目标轴向逐层找出特征点，记录特征点对应的径向位置和焦面深度；3）逐层拟合目标径向的轮廓曲线；4）依据轮廓曲线获取目标三维模型；5）基于各波段全聚焦图像，计算各个像素点的温度及发射率，与目标三维模型匹配，从而形成目标曲面的三维温度场以及光谱发射率场。本发明突破了传统温度重建方法中预设发射率所带来的精度限制，将光谱光场技术的应用领域拓展到了工程化三维目标的物性重建。
-
公开(公告)号：CN118836976A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202410848491.9
申请日：2024-06-27
Applicant: 中国科学院上海天文台
Abstract: 本发明涉及一种像切分器光瞳像检测装置，沿光路走向依次包括光源、目标板、模拟镜组、待检像切分器、分光镜和光瞳像接收装置；光源设置为照亮目标板；目标板设置为模拟像切分器所需切分的面源目标，被光源均匀照亮；模拟镜组设置为形成目标板的实像；待检像切分器置于目标板的实像处，用于形成光瞳像；分光镜设置为使得形成实像的光透过并反射来自待检像切分器的光，以避免遮挡光路；光瞳像接收装置设置为接收和记录光瞳像的大小、位置和强度信息。本发明还提供一种像切分器光瞳像检测方法。本发明具有实用易行的特点，不依赖于前端主望远镜、前置光学系统以及后端瞳镜，可对像切分器的系统性能进行评估，也可为瞳镜针对性配准提供定量依据。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110018122B
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN201910345640.9
申请日：2019-04-26
Applicant: 南京砺剑光电技术研究院有限公司
Abstract: 本发明提出的是一种基于多光谱成像技术的迷彩伪装材料检测装置和方法，其装置结构包括彩色成像一体机、黑白成像一体机、窄带滤光片、控制装置、图像处理板和搜索云台；其中彩色成像一体机的输出端和黑白成像一体机的输出端分别连接控制装置的2个输入端，控制装置的输出端连接图像处理板的输入端，窄带滤光片设于黑白成像一体机的高清图像传感器前方；上述设备均固定于搜索云台的上表面。优点：1）采用对多个成像波段进行检测和比对，图像获取结果好，对远距离的迷彩伪装材料也能够进行有效检测；2）弥补传统高光谱成像技术需要波段数目多、单个成像波段窄及大数据处理所带来的不足。
-
公开(公告)号：CN118820709A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410807750.3
申请日：2024-06-21
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
Abstract: 本发明涉及测量分析方法的领域，尤其是涉及一种多级多参量耦合调控方法、装置、电子设备及存储介质，其中，方法包括如下步骤：获取多源场景数据，对多源场景数据进行分析，生成场景分析信息；根据多源场景数据计算预设的可调参量的调整权重；根据场景分析信息和调整权重，通过群体智能优化算法计算可调参量的调整数值；根据调整数值进行可调参量的调整。本发明具有提升深空原位光谱仪自主调节水平和探测能力的效果。
-
公开(公告)号：CN118817075A
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202411129095.7
申请日：2024-08-16
Applicant: 清华大学
Abstract: 本申请公开了一种紧凑型、高光谱分辨率、宽波段覆盖以及高通量的光栅光谱仪，该光栅光谱仪中，入射模组出射的第一汇聚光束聚焦于准直与成像镜的第一焦点，而后变成第一发散光束离轴入射至准直与成像镜，经准直与成像镜反射为第一准直光束入射至中阶梯色散光栅，经中阶梯色散光栅色散后变成第一色散光束，且第一色散光束所在平面与第一准直光束所在平面具有夹角，第一色散光束再经准直与成像镜反射为第二汇聚光束聚焦于准直与成像镜的第二焦点，被位于第二焦点的反射镜反射为第二发散光束离轴入射至准直与成像镜，经准直与成像镜反射为第二准直光束入射至交叉色散模组，经交叉色散模组的交叉色散分离后变成第二色散光束，最后经成像模组聚焦成像。
-
公开(公告)号：CN116183522B
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202310199441.8
申请日：2023-02-24
Applicant: 西湖大学
Abstract: 本公开涉及一种单曝光压缩高光谱成像系统及方法。该系统包括：第一成像元件，其形成目标场景的第一光谱图像；孔径光阑，其限制第一光谱图像的尺寸；编码孔径，其对第一光谱图像进行编码调制；光栅色散元件，其对编码调制后的光信号进行色散；第二成像元件，其收集编码调制和色散后的光信号，形成对应多个光谱通道的多个第二光谱图像；以及二维探测器，其测量得到多个第二光谱图像进行叠加后的压缩测量结果；以及处理器，其利用基于Transformer模块的Unet神经网络重建目标场景的高光谱图像。由此，可以通过单次曝光测量还原出目标场景的三维高光谱图像，数据量小，压缩比高，重建速度快，图像质量高，光谱分辨率高，且光谱分辨率在所测量光谱范围内均匀。
-
公开(公告)号：CN115031838B
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202210481451.6
申请日：2022-05-05
Applicant: 西安应用光学研究所
Abstract: 本发明属于光学测量技术领域，公开了一种扫描式双层二次衍射线阵光谱仪波长标定方法，高精度光谱仪主要是硬件上选择高线对数光栅、采用单次或者多次色散、长焦距汇聚镜、扫描摄谱等技术实现高准确度波长测量，该类光谱仪具备高光谱分辨率、高波长准确度等技术特点，标定方法首先对线阵探测器中心像元的波长标定，然后对线阵探测器非中心像元的波长标定。本发明可解决此类光谱仪波长的准确标定，尤其可实现紫外到近红外波段波长准确度±0.05nm的二次衍射的线阵光谱仪波长标定。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
9175
records
(took 0.094 seconds)
