公开(公告)号：CN104053398A

公开(公告)日：2014-09-17

申请号：CN201280067628.2

申请日：2012-11-21

Applicant: 加州理工学院

Inventor： 阿克塞尔·谢勒 ,  塞缪尔·恩乔罗格 ,  景清·黄

IPC: A61B5/00 ,  G01N33/53 ,  G01N21/41

CPC classification number: G01N33/566 ,  A61B5/1459 ,  A61B5/1491 ,  A61B2562/0233 ,  A61B2562/043 ,  G01N21/41 ,  G01N33/54373 ,  G01N33/552 ,  G01N2201/068 ,  G01N2201/08

Abstract: 根据本公开内容的一种可植入诊断设备提供了许多益处，例如小巧的尺寸从而允许将该设备植入到活体对象内；由于引入了便宜的检测电路和使用了简便的IC制造技术而带来的低廉成本；由于加热从而允许在不丢弃设备时执行多个诊断测试的再次利用；以及允许同时和/或顺序执行诊断测试的配置，以用来并发检测或在不同的时间检测一个或多个相似或不相似的靶分子。

公开(公告)号：CN104039577A

公开(公告)日：2014-09-10

申请号：CN201280042179.6

申请日：2012-08-28

Applicant: 汽车交通安全联合公司

Inventor： B·维斯特格 ,  T·瑞德尔 ,  L·S·赛彻 ,  J·K·克劳斯

IPC: B60K28/02 ,  B60W50/08

CPC classification number: B60K28/06 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/14546 ,  A61B5/1455 ,  A61B5/1477 ,  A61B5/18 ,  A61B5/4845 ,  B60W40/08 ,  B60W2040/0836 ,  G01N21/27 ,  G01N21/3563 ,  G01N2201/0612 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/08 ,  G01N2201/12

Abstract: 一种用于非侵入式地测量车辆驾驶员中的分析物并且基于对分析物的测量值来控制车辆的系统。至少一个固态光源被配置成发射不同波长的光。样本装置被配置成将至少一个固态光源发射的光引入到车辆驾驶员的组织中。一个或更多个光学检测器被配置成检测光的未被车辆驾驶员的组织吸收的部分。控制器被配置成基于一个或更多个光学检测器检测到的光，计算车辆驾驶员的组织中的分析物的测量值，判定车辆驾驶员的组织中的分析物的测量值是否超过预定值，并且向被配置成控制车辆的装置提供信号。

公开(公告)号：CN103797354A

公开(公告)日：2014-05-14

申请号：CN201280044623.8

申请日：2012-08-02

Applicant: 日东电工株式会社

Inventor： 绀谷友广

IPC: G01N21/27 ,  G01N21/03

CPC classification number: G01N21/554 ,  G01N21/41 ,  G01N21/553 ,  G01N33/54373 ,  G01N2201/08 ,  G02B6/1226 ,  G02B6/132 ,  G02B6/138 ,  G02B2006/12138

Abstract: 本发明涉及一种具有高检测灵敏度的SPR传感器元件以及SPR传感器。本发明的SPR传感器元件包括检测单元和与所述检测单元邻接的试样载置部。所述检测单元包括下包层、设置为使得至少一部分与所述下包层邻接的芯层、覆盖所述芯层的金属层和覆盖所述金属层的覆盖层。各覆盖层由带隙(Eg)大于1.0eV且小于7.0eV的材料构成，并且所述覆盖层的折射率高于所述芯层的折射率。

公开(公告)号：CN102341693B

公开(公告)日：2013-11-20

申请号：CN200980157921.6

申请日：2009-03-07

Applicant: 惠普开发有限公司

Inventor： 吴蔚 ,  夏强飞 ,  S-Y·王 ,  李晶晶

IPC: G01N21/25 ,  B82B1/00 ,  C12Q1/68 ,  G01N33/48

CPC classification number: G01N21/05 ,  B01L3/502715 ,  B01L2200/0647 ,  B01L2300/0851 ,  B01L2300/0864 ,  B01L2300/0867 ,  B01L2300/0896 ,  B01L2400/0487 ,  B01L2400/049 ,  G01N21/0303 ,  G01N21/31 ,  G01N2021/0346 ,  G01N2021/3133 ,  G01N2021/3166 ,  G01N2021/6467 ,  G01N2201/08

Abstract: 本文公开了一种分析器(10，10’，10”)。该分析器(10，10’，10”)包含衬底(12)，该衬底(12)具有其中形成有多个分立的V-沟槽(14)的表面(S)。输入流通道(16I)被配置为在相应输入点(Pi)处与所述多个分立的V-沟槽(14)中的每一个沟槽交叉且液体连通，并且输出流通道(16O)被配置为在相应输出点(PO)处与所述多个分立的V-沟槽(14)中的每一个沟槽交叉且液体连通。

公开(公告)号：CN102812347A

公开(公告)日：2012-12-05

申请号：CN201180012441.8

申请日：2011-01-04

Applicant: BT成像股份有限公司

Inventor： 罗伯特·安德鲁·巴多斯 ,  约尔根·韦伯 ,  托斯顿·特鲁普克 ,  伊恩·安德鲁·麦克斯威尔 ,  韦恩·麦克米兰

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6489 ,  G01N21/9501 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/08

Abstract: 本发明涉及一种用于分析半导体材料（8）的方法，尤其是涉及一种利用在高强度照射下产生的光致发光的成像来分析硅光伏电池和电池前驱的方法。通过该照射得到的高光致发光信号水平（16）能够实现对移动中的样品的具有最小模糊的图像的采集。使得半导体设备生产商感兴趣的某些材料的缺陷，尤其是裂痕，在高强度照射下显得很清晰。在某些实施例中，通过采用高强度照射和低强度照射产生的光致发光图像与重点被选的材料特性或缺陷进行比较。

公开(公告)号：CN101652652B

公开(公告)日：2012-07-18

申请号：CN200880006895.2

申请日：2008-03-13

Applicant: 先进流体逻辑公司

Inventor： 维吉·斯里尼瓦桑 ,  瓦姆西·K·帕姆拉 ,  迈克尔·G·波来克 ,  王祺红

IPC: G01N21/00

CPC classification number: G01N21/0303 ,  G01N21/031 ,  G01N2021/035 ,  G01N2021/036 ,  G01N2201/08

Abstract: 本发明提供改进吸光度检测的装置、结构配置和方法。例如，通过提供穿过微滴的加长的光路来提供用来确定微滴的吸光度的方法和装置，例如，位于微滴执行机构上的微滴。

公开(公告)号：CN1740776B

公开(公告)日：2010-05-12

申请号：CN200510097752.5

申请日：2005-08-24

Applicant: 电子系统股份有限公司

Inventor： 高桥浩三

IPC: G01N21/31

CPC classification number: G01N21/552 ,  G01N2201/066 ,  G01N2201/08

Abstract: 按照本发明用于测量样本光吸收特性的装置包括：光源；光波导和光反射面，光波导有相对的输入面和输出面，而在光反射面上设置被测的样本，光传输通过光波导，并通过全反射被反射到样本上；一个或多个光传输装置，它安排在光波导输出面与光波导输入面之间，使光再次进入光波导；和处理装置，它从光波导接收通过其输出面再次射出的光，并基于接收的光，检测样本的光吸收特性，其中传输通过光波导的光再次被引导到光波导，该光再次进入光波导，和该光再次被反射到样本上。

公开(公告)号：CN101588888A

公开(公告)日：2009-11-25

申请号：CN200880002492.0

申请日：2008-01-16

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 山田英一郎 ,  井上享 ,  畑山均

IPC: B23K26/00 ,  B23K101/42 ,  A61C19/04 ,  G01N21/64 ,  B23K26/06

CPC classification number: G01N21/474 ,  A61C1/0046 ,  A61C19/04 ,  B23K26/032 ,  B23K26/0608 ,  B23K26/0626 ,  B23K2101/36 ,  G01N21/314 ,  G01N2021/3137 ,  G01N2201/0618 ,  G01N2201/08

Abstract: 本发明提供一种激光加工装置及其加工方法。激光加工装置(1)具有：加工用光光源(2)，其发出用于对牙齿(13A)或牙龈(13B)进行加工的加工用光；卤素灯(3)，其发出用于照射牙齿(13A)或牙龈(13B)的照明光；检测部(4)，其可以检测来自牙齿(13A)或牙龈(13B)的多种波长的光；以及控制部(5)，其控制第1发光部(2)的发光状态。检测部(4)具有受光灵敏度随波长的不同而不同的第1检测元件(6)和第2检测元件(7)，检测不同波长的光的强度，并将检测结果向控制部(5)输出。控制部(5)基于由检测部(4)检测出的不同波长的光各自的光强度之间的比率，对加工用光光源(2)的发光状态进行控制。

公开(公告)号：CN101400989A

公开(公告)日：2009-04-01

申请号：CN200780008634.X

申请日：2007-05-29

Applicant: 丰田自动车株式会社 ,  三菱重工业株式会社

Inventor： 岩濑伦保 ,  后藤胜利 ,  山荫正裕 ,  冈野时雄 ,  出口祥启 ,  团野实 ,  田浦昌纯 ,  渡边真生 ,  深田圣

IPC: G01N21/61 ,  F02D35/00

CPC classification number: G01N21/031 ,  G01N21/0332 ,  G01N21/3504 ,  G01N2021/158 ,  G01N2201/08

Abstract: 一种废气分析仪，在其中传感器装置(11)被安装在发动机的排气通道内，将激光照射到来自发动机的废气，传输通过所述废气的所述激光被接收，并且基于所述接收到的激光来测量所述废气中包含的成分的浓度。调节环(40)可拆卸地安装到形成于所述传感器装置(11)的传感器基座(15)内的开口(16)中，所述调节环(40)的圆周面内形成有用作激光通过部的小孔(41)，且其内圆周面用作废气通过开口(21)。所述分析仪可以被连接到具有不同内径的排气管上。

公开(公告)号：CN101371128A

公开(公告)日：2009-02-18

申请号：CN200780002727.1

申请日：2007-01-19

Applicant: 住友电气工业株式会社

Inventor： 佐佐木隆 ,  牧原和昌 ,  奥野俊明 ,  大西正志 ,  平野正晃 ,  中西哲也

IPC: G01N21/35

CPC classification number: G01N21/359 ,  G01J3/10 ,  G01N21/643 ,  G01N2201/08 ,  G02F1/35 ,  G02F2001/3528

Abstract: 本发明涉及一种实用性优良，且具有用于实现对更长的频带进行红外分光分析等的构造的分析装置等。该分析装置具有光源部及光检测部。光源部包含：种光源，其射出激光；以及实心的高非线性光纤，其使激光入射而生成SC光，该光源部将该SC光作为照射光向对象物射出。光检测部检测来自于被照射照射光的对象物的被检测光。此时，从光源部的种光源射出中心波长落在1.3μm～1.8μm范围内的脉冲光。