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公开(公告)号:CN118465641A
公开(公告)日:2024-08-09
申请号:CN202410667066.X
申请日:2024-05-28
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种探头、磁场探测设备、磁场探测方法、磁场探测装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。该探头包括多个探测环路和多层电路板,且多层电路板包括接地层和非接地层,接地层和非接地层中各层电路板上均部署一个探测环路,接地层中的探测环路的一端与接地层的接地通孔连接,接地层中的探测环路的另一端通过接地层的连接通孔与非接地层的探测环路连接。其中,各探测环路,用于探测电子系统形成的磁场信号。采用本探头能够在不影响探头灵敏度的同时,减小探头体积,进而提升探头的探测场景。
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公开(公告)号:CN112561821B
公开(公告)日:2024-05-17
申请号:CN202011499241.7
申请日:2020-12-17
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种基于近场扫描的芯片表面电磁数据降噪方法,包括以下步骤:通过对芯片表面进行近场扫描得到电磁数据;对得到的电磁数据进行信号提取,得到电磁图像;对电磁图像进行局部均值估计和局部噪声方差估计;对电磁图像中的所有相似块的每个像素进行加权平均处理,得到真实图像的基础估计;使用基础估计对电磁图像进行维纳降噪,得到局部估计;使用加权平均对所有得到的局部估计进行聚合,计算出真实图像的最终估计,从而得到最终的降噪图像。本发明的方法能够针对近场扫描的复杂噪声进行有效地降噪。
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公开(公告)号:CN117310452B
公开(公告)日:2024-03-26
申请号:CN202311614828.1
申请日:2023-11-29
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁信号泄露的确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:利用预设的密度聚类算法对多幅电磁辐射发射强度图像进行聚类处理,得到多个聚类结果;多幅电磁辐射发射强度图像为根据不同频率点下被测集成电路的发射强度确定的图像;针对每一类聚类结果,根据每一类聚类结果包括的电磁辐射发射强度图像,确定每一类聚类结果对应的被测集成电路发射电磁信号的实际频率;根据每一类聚类结果对应的工作模式和预设的对应关系,确定被测集成电路发射电磁信号的标准频率;根据实际频率和标准频率,确定被测集成电路是否存在电磁信号泄露。采用本方法能够提高确定集成电路是否存在电磁信号泄露的准确度。
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公开(公告)号:CN112698251B
公开(公告)日:2023-08-04
申请号:CN202011260068.5
申请日:2020-11-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R33/02
Abstract: 本发明涉及电磁检测技术领域,公开了一种磁场无源探头和磁场探测装置,第一接地层和第二接地层的端部上分别设有第一探测开口和第二探测开口,第一探测开口的位置和第二探测开口的位置相对应;第一信号层和第二信号层上分别设有第一探测线和第二探测线,第一探测线的一端与第一信号层相连接,另一端围绕第一探测开口的位置形成第一探测线圈;第二探测线的一端与第一信号层相连接,另一端围绕第二探测开口的位置形成第二探测线圈;第一探测线和第二探测线轴对称设置,且第一探测线圈与第二探测线圈相连接,用于探测磁场信号。在保证磁场无源探头的内部结构完全对称的情况下,可通过差分运算消除电场的干扰,从而实现较高的电场抑制比。
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公开(公告)号:CN116400152A
公开(公告)日:2023-07-07
申请号:CN202310242891.0
申请日:2023-03-13
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种器件的可靠性确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:对施加了应力和功率射频信号的多个测试器件分别进行传输特性监测,得到每一测试器件各自的传输特性监测结果;当传输特性监测结果表征达到器件失效条件时,根据传输特性监测结果,确定器件失效时间;基于每一测试器件各自的器件失效时间,确定器件特征寿命与器件使用时间的关联关系;当获取到针对目标器件的可靠度分析请求时,基于目标器件的使用时间,按照关联关系确定目标器件的目标特征寿命;根据目标特征寿命所表征的时长,确定目标器件的使用可靠性。采用本方法能够对器件的可靠性做出准确评价。
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公开(公告)号:CN113779498B
公开(公告)日:2023-06-23
申请号:CN202110885606.8
申请日:2021-08-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种离散傅里叶矩阵重构方法、装置、设备和存储介质。方法包括:获取随机样本数据,并获取前次迭代所得到的矩阵参数;将随机样本数据与矩阵参数进行线性相乘,得到频域输出信号;基于频域输出信号进行域变换处理,得到重构时域信号;基于随机样本数据和重构时域信号,确定当次迭代所对应的损失,根据当次迭代所对应的损失调整矩阵参数;进入下一次迭代,并将调整后的矩阵参数作为下一次迭代所对应的前次迭代所得到的矩阵参数,返回将随机样本数据与矩阵参数线性相乘,得到频域输出信号的步骤继续执行,直至达到停止条件时停止;基于最后迭代所得到的矩阵参数,确定离散傅里叶重构矩阵。采用本方法能够提高信号数据处理的效率。
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公开(公告)号:CN115754424A
公开(公告)日:2023-03-07
申请号:CN202211303345.5
申请日:2022-10-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种远场电压的确定方法、装置、设备、介质和程序产品。所述方法包括:对待扫描对象进行近场扫描,获取近场电磁场数据,进一步根据近场电磁场数据,获取目标近场电压,根据目标近场电压、近场电压和远场电压之间的映射关系,确定目标远场电压。采用本方法能够提高远场电压确定的准确性,进而提高远场电磁场对器件的耦合作用的准确性。
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公开(公告)号:CN114966230A
公开(公告)日:2022-08-30
申请号:CN202210377170.6
申请日:2022-04-12
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电磁场探头。所述探头由依次堆叠的第一接地层、第一信号层、第二信号层、第二接地层组成,探头包括:第一电磁场探测部,包括布线在第一信号层上的第一电磁场线圈。第二电磁场探测部,包括布线在第二信号层上的第二电磁场线圈。其中,第一电磁场线圈在第二电磁场线圈所在平面上的正投影在第二电磁场线圈的范围内,且第一电磁场线圈和第二电磁场线圈在第一接地层所在平面上的正投影均在第一接地层和第二接地层的范围外。连接通孔,贯穿第一信号层和第二信号层,分别与第一电磁场线圈和第二电磁场线圈连接。从而增大了电、磁场转换的电信号的幅值。能够同时探测更加低频的电场和磁场信号。
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公开(公告)号:CN113029348B
公开(公告)日:2022-08-02
申请号:CN202110195899.7
申请日:2021-02-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及微纳器件测试技术领域,公开了一种表面温度场信息获取方法。将待测样品安装于实际应用环境中,测试获取待测样品在实际应用环境中的第一频率漂移特性曲线;将待测样品固定于红外成像设备上,测试获取待测样品在红外成像设备上的第二频率漂移特性曲线;根据第一频率漂移特性曲线获取待测样品在第一功率下所对应的第一频率漂移;根据第二频率漂移特性曲线获取待测样品的第一频率漂移所对应的第二功率;对固定于红外成像设备上的待测样品施加第二功率,利用红外成像设备获取待测样品的表面温度场信息。通过建立从实际工作环境到显微红外测试环境的映射,消除了由于显微红外测试环境相对于实际工作环境的热导率存在差异而产生的测试误差。
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公开(公告)号:CN114325167A
公开(公告)日:2022-04-12
申请号:CN202111449999.4
申请日:2021-11-30
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种微带装置、测量系统、确定方法、装置和存储介质。所述微带装置包括:底座;导体带,设置于所述底座上,所述导体带与所述底座具有间隙。通过使微带装置的导体带与底座之间具有间隙,从而使得导体带上方和下方的介质均为空气,使得信号在导体带周围的传输速度相同,进而使得微带装置的传输模式为理想的TEM模式。因此,通过微带装置代替微带线,利用微带线法来得到校准因子,探头可以进行准确的电场耦合表征,从而得到准确的校准因子。
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