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公开(公告)号：CN111060297A
公开(公告)日：2020-04-24
申请号：CN201911241763.4
申请日：2019-12-06
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种强化试验设备、方法及装置。其中，强化试验设备包括处理器，以及连接处理器的第一电磁阀、调压设备和第二电磁阀；通过第一电磁阀控制导通或关闭储气罐和环境箱之间的气路通道，用于对存放在环境箱的待测样品施加压力。处理器在检测到环境箱的温度变化量达到预设值时，指示第一电磁阀导通储气罐和环境箱之间的气路通道，并通过调压设备调节环境箱的气压值，在检测到环境箱内的气压到达预设值时，以此降低环境箱内的气压。对待测样品同时施加温度应力和交变机械应力，可以更好的激发和暴露待测样品在设计中的薄弱部分，便于针对于薄弱部分进行改进，从而提高产品的可靠性。
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公开(公告)号：CN110991110A
公开(公告)日：2020-04-10
申请号：CN201911179896.3
申请日：2019-11-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/23 , G06F30/15 , B64F5/00 , G06F111/10
Abstract: 本申请涉及一种飞机高空电磁脉冲环境风险分析方法、装置和计算机设备。所述方法包括：基于外部高空电磁脉冲环境建立飞机外露天线模型、飞机外露电缆模型和飞机机体电磁屏蔽模型；基于外部高空电磁脉冲环境和飞机机体电磁屏蔽模型，确定飞机的内部电磁脉冲环境；基于内部电磁脉冲环境，建立飞机的内部设备电磁屏蔽模型和内部电缆电磁屏蔽模型；基于飞机外露天线模型、飞机外露电缆模型、内部设备电磁屏蔽模型和内部电缆电磁屏蔽模型，确定外部高空电磁脉冲环境和内部电磁脉冲环境对飞机造成的失效类型；若失效类型为灾难性失效，则输出更改飞机设计的分析报告信息，从而实现在飞机设计初期分析查找出飞机在高空电磁脉冲环境下的薄弱环节。
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公开(公告)号：CN110375805A
公开(公告)日：2019-10-25
申请号：CN201910651371.9
申请日：2019-07-18
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明公开了一种热带岛礁气候环境自动检测装置。该热带岛礁气候环境自动检测装置包括主支架、固定支架、发电机构、传感器、控制箱、防雷装置以及主机，主支架用于固定在待测环境中，固定支架用于固定主支架，发电机构安装在主支架上且电性连接于控制箱以用于发电，传感器安装在主支架上且电性连接于控制箱，以用于获取待测环境中的多个参数，所述控制箱安装于所述主支架上，所述控制箱与所述主机电性连接，所述防雷装置安装在所述主支架的顶部，所述主支架、所述发电机构的非感光部分、所述传感器的非传感部分以及所述控制箱的外表面均附着有保护层。该热带岛礁气候环境自动检测装置运行稳定性、安全可靠性、检测性能提高。
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公开(公告)号：CN109443920A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811467032.7
申请日：2018-12-03
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种环境-拉力耦合试验装置、系统和方法。环境-拉力耦合试验装置，包括：应力环，上夹具，下夹具，第一可调固定件和第二可调固定件；上夹具的一端连接待测试样的一端，下夹具的一端连接待测试样的另一端；上夹具的另一端穿过应力环，下夹具的另一端穿过应力环，且上夹具的轴线和下夹具的轴线处于应力环的同一条直径上；第一可调固定件与上夹具穿出应力环的部分匹配连接，第二可调固定件与下夹具穿出应力环的部分匹配连接，第一可调固定件和第二可调固定件之间的相对距离可调，使得应力环的载荷达到目标载荷，目标载荷为测量待测试样的性能所需的载荷。本申请提供的试验装置调整好载荷后，不依赖千分尺等应力测量设备，试验可靠性高。
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公开(公告)号：CN112964441B
公开(公告)日：2025-01-10
申请号：CN202110326969.8
申请日：2021-03-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本发明涉及一种阻尼减振性能测试平台及阻尼减振性能测试方法，阻尼减振性能测试平台，用于检测滚动直线导轨副系统阻尼性能，包括底座；检测平台，检测平台设置在底座上，检测平台包括基座、工作台、驱动组件和龙门架，滚动直线导轨副系统设置在基座和工作台之间，驱动组件设置在基座上并驱动工作台沿第一方向移动，龙门架跨设在工作台上并沿第一方向移动；激振组件，激振组件设置在工作台上方，激振组件包括激振器和激振滑轨，激振滑轨设置在龙门架上，激振器用于冲击工作台，激振器设置在激振滑轨上并沿第二方向移动，第二方向垂直第一方向。通过可移动的激振器，在动静两种情况下进行阻尼性能检测，扩大测试范围，检测精度更高，应用范围更广。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN111709124B
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202010454257.X
申请日：2020-05-26
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F18/20
Abstract: 本申请涉及一种产品FMECA分析方法、装置、计算机设备和存储介质。方法包括：将产品划分为多个约定层级，建立各约定层级之间的映射关系，其中，多个约定层级包括最低约定层级、中间约定层级及最高约定层级；对最低约定层级中的产品进行故障分析，获取第一故障信息；根据第一故障信息并结合各约定层级之间的映射关系对中间约定层级中的产品进行故障分析，获取第二故障信息；根据第二故障信息并结合各约定层级之间的映射关系对最高约定层级中的产品进行故障分析，获取第三故障信息；根据第三故障信息对最高约定层级中的产品进行危害性分析，并将危害性分析结果依次回传至第二故障信息、第一故障信息中。有效提高了FMECA分析效率和更新效率，降低了出错率。
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公开(公告)号：CN117607584A
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN202311579656.9
申请日：2023-11-24
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01R31/00
Abstract: 本申请涉及一种环境效应数据确定方法和装置。所述方法包括：根据目标产品的实际投放需求，确定所构建的模拟混合环境中各单一环境的模拟顺序；根据所述模拟顺序和所构建的模拟混合环境中各单一环境，构建所述目标产品的目标模拟环境；在所述目标模拟环境中，对所述目标产品的运行状态进行模拟，得到所述目标产品的目标环境效应数据；其中，所述模拟混合环境是根据样本产品的产品特性和所述样本产品所在实际混合环境中各单一环境的样本环境数据构建的；所述样本产品和所述目标产品属于同一类型产品。采用本方法能够考虑产品的实际投放需求，提高了获得的环境效应数据的准确性和实用性。
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公开(公告)号：CN117556614A
公开(公告)日：2024-02-13
申请号：CN202311522677.7
申请日：2023-11-15
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/04
Abstract: 本申请涉及一种剩余寿命确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括：获取目标产品所在实际环境的目标环境数据，所述目标产品的初始性能数据，以及所述目标产品在所述实际环境下的目标时长；将所述目标环境数据和所述目标时长和所述初始性能数据输入至性能确定模型中，得到所述目标产品受所在实际环境影响下的目标性能数据；根据所述目标性能数据，确定所述目标产品的剩余寿命。采用本方法能够提高产品剩余寿命预测结果的准确性。
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公开(公告)号：CN111400920B
公开(公告)日：2023-08-22
申请号：CN202010207424.0
申请日：2020-03-23
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明公开了一种产品关键故障模式识别方法，包括：将产品按组件的形式分解到最低约定层次单元；分析每个最低约定层次单元的所有可能发生的故障模式，得到产品的先验信息和后验信息；根据产品的先验信息和后验信息，分析每个故障模式对应的严酷度和发生频度；根据严酷度和发生频度进行综合影响分析，确定每个故障模式的综合影响等级；根据综合影响等级对故障模式进行筛选，识别出产品的关键故障模式。本发明的产品关键故障模式识别方法能够提高故障模式的分析精度，提升产品薄弱环节的定位效率。
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公开(公告)号：CN111680395B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202010342355.4
申请日：2020-04-27
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G06F30/20 , G06Q10/20 , G06F119/02
Abstract: 本发明涉及可靠性验证技术领域，具体公开一种可靠性综合验证试验方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括确定可靠性综合试验剖面；根据待验证的基本可靠性指标和预设的基本可靠性验证方案确定第一试验时长；根据待验证的任务可靠性指标、预设的任务可靠性验证方案以及第一试验时长确定第二试验时长；基于可靠性综合试验剖面进行第一试验时长的基本可靠性验证及第二试验时长的任务可靠性验证，且基本可靠性验证对应的时间段位于任务可靠性验证对应的时间段内。基于同一个可靠性综合试验剖面，在第二试验时长内全程进行任务可靠性验证，在第二试验时长中的第一试验时长内同时进行基本可靠性验证，由此实现基本可靠性验证和任务可靠性验证的结合。
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