检测移动通信设备内容的系统和方法

    公开(公告)号:CN103518393A

    公开(公告)日:2014-01-15

    申请号:CN201280022145.0

    申请日:2012-03-02

    IPC分类号: H04W8/18 G06F17/00

    CPC分类号: G06F11/277

    摘要: 本文说明内容与检测指定移动通信设备用户内容的系统和方法有关。根据一方面,提供检测指定移动通信设备用户内容的方法,其中包括如下步骤:提供至少一个与指定移动通信设备相关移动通信设备模型的至少一个图形用户界面(GUI)画面有关的模型图像,获取至少一个与指定移动通信设备的至少一个GUI画面有关的测试图像,对照测试图像与模型图像,并确定指定移动通信设备的用户内容是否不同于移动通信设备模型的期望内容。

    一种基于UVM的存储控制器功能测试方法及系统

    公开(公告)号:CN105893202A

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201610266445.3

    申请日:2016-04-26

    发明人: 高亚力

    摘要: 本发明公开了一种基于UVM的存储控制器功能测试方法,包括:设置UVM环境的预定参数;其中,所述预定参数包括:UVM环境内部变量,随机化约束,被测存储控制器对应的地址信息和控制信号;利用所述预定参数生成测试激励;将所述测试激励分别施加到所述被测存储控制器及测试模型中,并分别监测所述被测存储控制器及测试模型的输出;对所述被测存储控制器及测试模型的输出进行对比,得到测试结果;该方法中的测试环境可以无缝集成到系统测试环境中,从而提高了验证效率,缩短了验证周期,实现可重用测试;本发明还公开了一种基于UVM的存储控制器功能测试系统。

    可编程逻辑电路中硬件加速器镜像的测试与修复

    公开(公告)号:CN105009005A

    公开(公告)日:2015-10-28

    申请号:CN201380073319.0

    申请日:2013-02-19

    IPC分类号: G05B19/05

    摘要: 本文中描述的技术一般包括用于可编程逻辑电路中的硬件加速器镜像的测试和修复的方法。在包括多个可编程逻辑电路的处理器芯片中,通过用复制的硬件加速器镜像对测试电路编程以及使测试电路处于与第一可编程逻辑电路相同的逻辑状态,来测试被编程到第一可编程逻辑电路中的硬件加速器镜像。将来自第一可编程逻辑电路的输出和来自测试电路的输出进行比较表明被编程到第一可编程逻辑电路中的硬件加速器镜像的精度。测试电路可以取代第一可编程逻辑电路,或者测试电路可被重新编程,用来测试被编程到处理器芯片的其他可编程逻辑电路中的其他硬件加速器镜像。

    测试模拟器、模拟程序以及半导体元件制造方法

    公开(公告)号:CN101006353A

    公开(公告)日:2007-07-25

    申请号:CN200580027678.8

    申请日:2005-08-15

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 一种测试模拟器,模拟半导体元件的测试,包括:测试图案供给装置,对模拟半导体元件的动作的元件模拟器供给测试图案;期望值储存装置,把依测试图案从元件模拟器输出的输出信号与预定的期望值相比较的比较时点,对应到比较时点的期望值而储;边缘判断装置,在比较时点中输出信号与期望值一致的场合时,判断输出信号与期望值一致的边缘的大小;以及通知装置,当边缘的大小比基准值还要小时,把比较时点的边缘小的标题通知给使用者。

    可再构成的半导体装置

    公开(公告)号:CN104205639B

    公开(公告)日:2019-07-23

    申请号:CN201380016484.2

    申请日:2013-02-14

    IPC分类号: H03K19/177

    摘要: 本发明提供一种可再构成的半导体装置。本发明提供一种半导体装置,包括配置成阵列状的多个电路单元,所述各电路单元包括模拟数字转换器、数字模拟转换器、及运算放大器,由所述电路单元的模拟数字转换器、数字模拟转换器及运算放大器对作为再构成对象的模拟电路分割为多个功能模块,并对功能模块进行电路构成,且将该电路构成的多个电路单元中的任一个互相以模拟开关连接,由此构成所述再构成对象的模拟电路。

    半导体装置
    9.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN109144808A

    公开(公告)日:2019-01-04

    申请号:CN201810634259.X

    申请日:2018-06-20

    IPC分类号: G06F11/277 G01R31/317

    摘要: 本公开涉及半导体装置。相关的半导体装置具有不能进行具有高缺陷再现性的分析处理的问题。根据一个实施例,半导体装置1包括使用第一本地存储器区111执行存储在第一代码区121中的第一程序UP1的第一运算核心101和使用第二本地存储器区121执行存储在第二代码区121中的第二程序UP2的第二运算核心102。在分析模式中,半导体装置1执行使第一运算核心101和第二运算核心102两者都执行第一程序UP1的第一分析处理和使第一运算核心101和第二运算核心102两者都执行第二程序UP2的第二分析处理,并且对从第一分析处理和第二分析处理获取的多个运算结果数据片段AD1和AD2进行比较,从而获取用于缺陷分析的分析信息。

    检测移动通信设备内容的系统和方法

    公开(公告)号:CN103518393B

    公开(公告)日:2018-03-20

    申请号:CN201280022145.0

    申请日:2012-03-02

    IPC分类号: H04W8/18 G06F17/00

    CPC分类号: G06F11/277

    摘要: 本文说明内容与检测指定移动通信设备用户内容的系统和方法有关。根据一方面,提供检测指定移动通信设备用户内容的方法,其中包括如下步骤:提供至少一个与指定移动通信设备相关移动通信设备模型的至少一个图形用户界面(GUI)画面有关的模型图像,获取至少一个与指定移动通信设备的至少一个GUI画面有关的测试图像,对照测试图像与模型图像,并确定指定移动通信设备的用户内容是否不同于移动通信设备模型的期望内容。