齿轮的跨棒距或棒间距的测量仪、标定方法和使用方法

    公开(公告)号:CN117848188A

    公开(公告)日:2024-04-09

    申请号:CN202311704407.8

    申请日:2023-12-13

    Abstract: 本发明公开了齿轮的跨棒距或棒间距的测量仪,包括仪器本体,仪器本体包括一对量棒,其特征在于:量棒的上段为圆锥形柱,圆锥形柱的顶端面的直径小于底端面的直径;量棒的下段为与上段同轴的圆柱;仪器本体还包括底部安装板、量棒横向间距调整结构和量棒升降高度调整机构;量棒横向间距调整结构固定安装在底部安装板上,并用于使得一对量棒之间能够沿同一水平直线方向相对靠近或远离;量棒升降高度调整机构用于固定安装在量棒横向间距调整结构上,并用于使得一对量棒保持竖直并能够在竖向上升降或固定。本发明还公开了测量仪的标定方法和使用方法。本发明的优点是:能够更好满足更多种不同型号齿轮(尤其是非标齿轮)的跨棒距或棒间距的测量需求。

    一种对刀仪示值误差校准装置及其校准方法

    公开(公告)号:CN116255890B

    公开(公告)日:2024-11-22

    申请号:CN202310018003.7

    申请日:2023-01-06

    Abstract: 本发明公开了一种对刀仪示值误差校准装置,涉及对刀仪校准领域,所述对刀仪上设置刀柄槽,所述校准装置包括径规和轴规,所述径规底部同轴设置标准锥度规,所述标准锥度规与刀柄槽结构匹配,所述径规由10个从上到下同轴设置的不同直径的标准圆柱组成,所述轴规包括芯轴和同轴设置的标准锥度规,所述芯轴轴向每隔一段距离开设环形槽,所述环形槽中竖向对称设置有标准陶瓷圆柱。能够准确的反应对刀仪的径向和轴向示值误差,结构简单,携带和安装方便,使用成本低。

    三坐标测量机快速检测装置及方法

    公开(公告)号:CN108613651A

    公开(公告)日:2018-10-02

    申请号:CN201810671394.1

    申请日:2018-06-26

    Abstract: 本发明公开了三坐标测量机快速检测装置及方法,使用本装置及方法,可在十分钟之内一次性完成JJF1064-2010《坐标测量机》中规定的探测误差和空间示值误差测量。方法简单、可操作性强、效率高。本装置结构简单,稳定性好。球杆采用碳纤维材料,既满足轻便要求,由符合稳定性要求。本装置可作为三坐标测量机期间核查标准,判定三坐标测量机是否满足使用要求。本装置在检测过程中完全采用三坐标测量自动测量、在作为期间核查标准时,将评价要求嵌入程序中,实现自动判定,避免人为误差。

    一种自由曲面内缝隙几何尺寸测量方法及装置

    公开(公告)号:CN106705847A

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201710037782.X

    申请日:2017-01-18

    CPC classification number: G01B11/00 G06T3/4038

    Abstract: 本发明公开了一种自由曲面内缝隙几何尺寸测量方法及装置,所述一种自由曲面内缝隙几何尺寸测量方法包括以下步骤:缝隙图像采集步骤:分段采集待测自由曲面产品的缝隙图像;缝隙图像处理步骤:对采集到的每段缝隙图像进行处理以得到缝隙截面轮廓,定位每段缝隙轮廓的边缘特征点、缝隙内部拐点、最高点以及最低点;配准拼接步骤:将处理后的每一段缝隙轮廓进行配准拼接;分段拟合步骤:对配准拼接后的缝隙轮廓的特征点进行分段拟合,以得到具有缝隙最低点曲线、边缘曲线、最高点曲线的整体缝隙轮廓;缝隙几何尺寸获取步骤:根据拟合的曲线获取缝隙的深度、长度以及宽度。

    一种对刀仪示值误差校准装置及其校准方法

    公开(公告)号:CN116255890A

    公开(公告)日:2023-06-13

    申请号:CN202310018003.7

    申请日:2023-01-06

    Abstract: 本发明公开了一种对刀仪示值误差校准装置,涉及对刀仪校准领域,所述对刀仪上设置刀柄槽,所述校准装置包括径规和轴规,所述径规底部同轴设置标准锥度规,所述标准锥度规与刀柄槽结构匹配,所述径规由10个从上到下同轴设置的不同直径的标准圆柱组成,所述轴规包括芯轴和同轴设置的标准锥度规,所述芯轴轴向每隔一段距离开设环形槽,所述环形槽中竖向对称设置有标准陶瓷圆柱。能够准确的反应对刀仪的径向和轴向示值误差,结构简单,携带和安装方便,使用成本低。

    一种自由曲面内缝隙几何尺寸测量方法及装置

    公开(公告)号:CN106705847B

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201710037782.X

    申请日:2017-01-18

    Abstract: 本发明公开了一种自由曲面内缝隙几何尺寸测量方法及装置,所述一种自由曲面内缝隙几何尺寸测量方法包括以下步骤:缝隙图像采集步骤:分段采集待测自由曲面产品的缝隙图像;缝隙图像处理步骤:对采集到的每段缝隙图像进行处理以得到缝隙截面轮廓,定位每段缝隙轮廓的边缘特征点、缝隙内部拐点、最高点以及最低点;配准拼接步骤:将处理后的每一段缝隙轮廓进行配准拼接;分段拟合步骤:对配准拼接后的缝隙轮廓的特征点进行分段拟合,以得到具有缝隙最低点曲线、边缘曲线、最高点曲线的整体缝隙轮廓;缝隙几何尺寸获取步骤:根据拟合的曲线获取缝隙的深度、长度以及宽度。

    基于透射古斯汉欣位移的一维光子晶体参数测量方法

    公开(公告)号:CN119573588A

    公开(公告)日:2025-03-07

    申请号:CN202411650291.9

    申请日:2024-11-19

    Abstract: 一种基于透射古斯汉欣位移的一维光子晶体参数测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤S1:利用透射古斯汉欣位移测量装置测量一维光子晶体的透射TM偏振波的光点位置信息;步骤S2:根据光点位置信息,得到一维光子晶体的入射波长‑透射古斯汉欣位移关系曲线,并计算得到TM偏振波下的透射古斯汉欣位移;步骤S3:建立一维光子晶体结构参数的评价函数,将透射古斯汉欣位移、基底参数以及膜层折射率信息代入评价函数中,进行反演计算,以一维光子晶体的周期数及周期内各层厚度作为决策参量,根据评价函数的大小判断解的精确度,得到评价函数最小时一维光子晶体的结构参数向量a。效果:能够实现任何基底表面的一维光子晶体的快速、无损检测。

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