半导体设备及其制造方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114582951A

    公开(公告)日:2022-06-03

    申请号:CN202111055745.4

    申请日:2021-09-09

    Inventor: 周洛龙

    Abstract: 本申请涉及半导体设备及其制造方法。根据本公开的一个实施例的半导体设备,包括:导电区域、位于导电区域终止的部分处的末端区域,以及位于导电区域与末端区域之间的连接区域。导电区域包括:n+型衬底;n‑型层,该n‑型层位于n+型衬底的第一表面处;以及p型区域,该p型区域位于n‑型层上,以及栅电极,该栅电极填充穿透p型区域并位于n‑型层中的沟槽的内侧,并且位于导电区域终止的部分处的沟槽的侧壁是倾斜的。

    半导体器件
    3.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN113871452A

    公开(公告)日:2021-12-31

    申请号:CN202111138971.9

    申请日:2016-11-22

    Abstract: 本发明公开了半导体器件。一种半导体器件,包含:n‑型层,布置在n+型碳化硅衬底的第一表面上;第一沟槽和第二沟槽,形成在n‑型层中并且彼此分离;n+型区,布置在第一沟槽的侧面与第二沟槽的侧面之间并且布置在n‑型层上;栅极绝缘层,布置在第一沟槽内;源极绝缘层,布置在第二沟槽内;栅极,布置在栅极绝缘层上;氧化层,布置在栅极上;源极,布置在氧化层、n+型区、及源极绝缘层上;以及漏极,布置在n+型碳化硅衬底的第二表面上。

    半导体装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN110444606A

    公开(公告)日:2019-11-12

    申请号:CN201811333707.9

    申请日:2018-11-09

    Inventor: 千大焕 周洛龙

    Abstract: 本发明涉及半导体装置及其制造方法。半导体装置可以包括:n型层、p+型区域、p-型区域、第一电极和第二电极,所述n型层设置在衬底的第一表面上;所述p+型区域设置在衬底的第一表面上;所述p-型区域设置在n型层的顶表面上;所述第一电极设置在p+型区域上和p-型区域上;所述第二电极设置在衬底的第二表面上;其中,p+型区域的侧表面和n型层的侧表面接触,并且p+型区域的厚度与n型层的厚度和p-型区域的厚度相同。

    半导体器件以及用于制造半导体器件的方法

    公开(公告)号:CN107958936B

    公开(公告)日:2022-03-08

    申请号:CN201710119656.9

    申请日:2017-03-02

    Abstract: 本发明涉及半导体器件以及用于制造半导体器件的方法。一种半导体器件包括n+型碳化硅基板、n‑型层、n型层、多个沟槽、p型区域、n+型区域、栅极绝缘膜、栅电极、源电极、漏电极和沟道。多个沟槽被布置为平面矩阵形状。n+型区域被布置为具有开口的平面网格类型、围绕沟槽中的每一个、并且在平面对角线方向上彼此相邻的沟槽之间与源电极接触。p型区域被布置在平面网格类型的n+型区域的开口中。

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