一种模拟星表材料在轨剂量分布的地面辐照试验方法

    公开(公告)号:CN115438559B

    公开(公告)日:2023-03-10

    申请号:CN202211262139.4

    申请日:2022-10-14

    Abstract: 本发明公开了一种模拟星表材料在轨剂量分布的地面辐照试验方法,包括:基于卫星轨道参数和设计寿命,分析卫星在寿命期内遭遇的包含低能等离子体的电子和质子能谱;基于星表材料面密度、应用状态以及轨道上的粒子能谱,分析星表材料在轨剂量‑深度分布曲线;计算地面容易获得的单能质子或电子在材料中沉积的电离剂量随深度分布数据,形成地面试验单能粒子剂量分布数据库;基于星表材料的在轨剂量‑深度分布曲线,从试验粒子数据库中挑选合适的粒子能量、粒子类型及总通量,使选取的试验粒子产生的剂量‑深度分布曲线组合后,完整包络星表材料厚度范围内的在轨剂量‑深度分布曲线;基于此,本发明完整重现星表材料在轨服役期间遭受的电离剂量分布。

    一种基于斜入射的卫星电离总剂量解析分析方法

    公开(公告)号:CN115391713A

    公开(公告)日:2022-11-25

    申请号:CN202210838677.7

    申请日:2022-07-18

    Abstract: 本发明提出一种基于斜入射的卫星电离总剂量解析分析方法,考虑了斜入射带来的屏蔽厚度增厚、总剂量变低效应,显著降低电离总剂量数据。具体包括以下步骤:步骤一、根据卫星运行轨道参数分析卫星电离总剂量与垂直入射条件下等效屏蔽厚度的关系;步骤二、根据所述卫星电离总剂量与垂直入射条件下等效铝屏蔽厚度的关系获取所述卫星电离总剂量与垂直入射条件下等效屏蔽铝厚度关系的拟合公式及拟合系数;步骤三、利用所述拟合公式及拟合系数分析考虑斜入射效应的各向同性入射条件下的卫星电离总剂量与等效铝屏蔽厚度的计算公式;步骤四、根据所述计算公式分析卫星内部单机中器件的电离总剂量。

    一种基于信号波形的空间中子甄别装置

    公开(公告)号:CN117368956A

    公开(公告)日:2024-01-09

    申请号:CN202311301341.8

    申请日:2023-10-09

    Abstract: 本发明提出一种基于信号波形的空间中子甄别装置,用于解决现有技术中无法将中子从空间带电粒子有效甄别的问题。包括前3He中子计数器、高压电源、低压电源、前收集电极电荷放大器、主放大器、甄别电路、成形整形电路、输出电路;所述前收集电极电荷放大器用于收集3He中子计数器的电荷,将电荷放大转化为电压,并将电压信号发送到主放大器;所述主放大器接收前收集电荷放大器的电压信号,并对电压信号进行滤波,提高信噪比,并将滤波后的电压信号发送到甄别电路;所述甄别电路将主放大器输出模拟信号转换为数字逻辑脉冲输出;所述成形整形电路接收来自甄别电路的甄别信号,产生标准的TTL信号;所述输出电路接收标准TTL信号,并将TTL信号进行计数处理。

    一种空间微小碎片MOS电容传感器信号采集电路

    公开(公告)号:CN116754845A

    公开(公告)日:2023-09-15

    申请号:CN202310329874.0

    申请日:2023-03-30

    Abstract: 一种空间微小碎片MOS电容传感器信号采集电路,利用空间碎片撞击到MOS电容传感器产生的电压脉冲信号,包括放大器、阈值比较器、事件记录电路、脉冲信号采集电路,MOS电容传感器输出的电压脉冲经放大后;一路信号在大于设置阈值时经比较器输出为数字(状态)信号,数字信号在寄存器中保持,并编码;另一路信号经成滤波后输入到ADC,进行实施采集。电路针对MOS电容传感器的开路和短路模式,设置测量电阻和阈值,消除MOS电容表面接受的空间等离子充电电流信号引起的干扰、对MOS电容传感器工作状态是否短路、开路进行测量。

    一种极轨卫星遭遇极光电子的预示方法

    公开(公告)号:CN115600070B

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202211262559.2

    申请日:2022-10-14

    Abstract: 本发明公开了一种极轨卫星遭遇极光电子的预示方法,包括:按固定的时间间隔,计算极轨卫星在轨运行的空间位置地理坐标;将极轨卫星的空间位置地理坐标转换为地磁坐标;基于极光带边界模型,输入地磁活动Kp指数,确定极光带区域的极向和赤道向边界;基于极轨卫星的地磁坐标和极光带区域,确定极轨卫星位于极光带区域内的轨道位置,得到极轨卫星位于极光带区域中的最长持续时间以及极轨卫星遭遇极光电子的概率。本发明可以实现对近地极轨卫星在不同地磁活动条件下遭遇极光电子的空间位置、持续时间及遭遇概率进行快速分析,为评估极轨卫星充放电风险提供依据。

    一种模拟星表材料在轨剂量分布的地面辐照试验方法

    公开(公告)号:CN115438559A

    公开(公告)日:2022-12-06

    申请号:CN202211262139.4

    申请日:2022-10-14

    Abstract: 本发明公开了一种模拟星表材料在轨剂量分布的地面辐照试验方法,包括:基于卫星轨道参数和设计寿命,分析卫星在寿命期内遭遇的包含低能等离子体的电子和质子能谱;基于星表材料面密度、应用状态以及轨道上的粒子能谱,分析星表材料在轨剂量‑深度分布曲线;计算地面容易获得的单能质子或电子在材料中沉积的电离剂量随深度分布数据,形成地面试验单能粒子剂量分布数据库;基于星表材料的在轨剂量‑深度分布曲线,从试验粒子数据库中挑选合适的粒子能量、粒子类型及总通量,使选取的试验粒子产生的剂量‑深度分布曲线组合后,完整包络星表材料厚度范围内的在轨剂量‑深度分布曲线;基于此,本发明完整重现星表材料在轨服役期间遭受的电离剂量分布。

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